利用电磁信号和数学建模的变质检测制造技术

本发明专利技术提供一种用于检查具有经历变质的物质的包装（1040）的系统。电磁信号（例如，太赫频率信号）被导向到包装（1040），并且接收衰减信号并对其取样以产生一组数据点。检测该组数据点内的峰值，并且相对于时间移动数据点以使峰值与预定时间对齐。将该组移动的数据点与数学模型进行比较，以确定包装（1040）中的物质是否变质。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：AH蒙德尔，BA里布尔，
申请(专利权)人：雅培制药有限公司，
类型：
国别省市：