一种调整硝酸滴加浓度的多晶硅预处理方法技术

技术编号:9237450 阅读:124 留言:0更新日期:2013-10-10 01:09
本发明专利技术涉及一种多晶硅杂质检测的预处理方法,具体涉及一种调整硝酸滴加浓度的多晶硅预处理方法。其步骤如下:(1)称取多晶硅样品0.1-0.5g于PTFE烧杯中;(2)将1%甘露醇溶液0.3-1ml加入PTFE烧杯使多晶硅样品浸润;(3)将质量分数为49%的氢氟酸3-5ml加入PTFE烧杯中;(4)加入0.5-1.0ml质量分数为35%的硝酸,再加入1.0-2.0ml质量分数为70%的硝酸,反应至多晶硅样品完全消溶;(5)控制温度使硅挥发,定容后调节酸度,检测杂质含量,操作结束。本发明专利技术的优点在于:可以使多晶硅中硼元素及其他金属元素同时被检测,同时硼元素保留作用明显,使其回收率可从80~85%提升至95%以上,方法简单易于操作,缩短了溶液蒸干的时间,提高了多晶硅预处理效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种调整硝酸滴加浓度的多晶硅预处理方法,其特征在于,步骤如下:(1)称取多晶硅样品0.1?0.5g于PTFE烧杯中;(2)将1%甘露醇溶液0.3?1.0ml加入PTFE烧杯使多晶硅样品浸润;(3)将质量分数为49%的氢氟酸3.0?5.0ml加入PTFE烧杯中;(4)加入0.5?1.0ml质量分数为35%的硝酸,再加入1.0?2.0ml质量分数为70%的硝酸,反应至多晶硅样品完全消溶;(5)控制温度使硅挥发,定容后调节酸度,检测杂质含量,操作结束。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:谭毅刘瑶刘鑫业
申请(专利权)人:青岛隆盛晶硅科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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