一种适合于X荧光多元素分析仪的密封膜片渗漏测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种适合于X荧光多元素分析仪的密封膜片渗漏测量装置。该装置采用双层膜片对探测腔体内部空间进行密封保护，并在内膜片与外膜片之间用安装有用绝缘圈间隔开的二块铜板，利用二极管的反向截止和水的导电性，来判断外铜板与内铜板之间是否因接触到矿浆而形成导通，进而判断外膜片4的密封是否发生渗漏。一旦检测到外膜片渗漏或线路连接故障，可通过继电器发出报警信号，使仪器启动保护措施。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种适合于X荧光多元素分析仪的密封膜片渗漏测量装置，其特征是：腔体壳（3）及前端盖（1）由耐磨、耐腐蚀、质地较硬、绝缘的高分子材料制成，在腔体壳（3）的前端开有窗口，并制有圆形凹台，腔体壳3的凹台底部开有一个环形凹槽，凹槽中装有内密封O型圈（13），在腔体壳（3）的凹台底部开有四个螺孔，在凹台中由内向外依次置有内膜片（8）、内铜板（7）、绝缘圈（6）、外铜板（5）、外膜片（4），在腔体壳（3）及外膜片（4）的外侧压有前端盖（1）；在内铜板（7）的中间制有圆洞，在内铜板（7）的边缘制有四个螺孔，其中靠近内铜板（7）圆心的二个螺孔的内径比腔体壳（1）凹台底部螺孔的内径大4毫米，另外二个螺孔的内径与腔体壳（1）凹台底部螺孔的内径相同；在外铜板（5）的中间制有圆洞，在外铜板（5）的边缘制有四个螺孔，其中靠近外铜板（5）圆心的二个螺孔的内径与腔体壳（1）凹台底部螺孔的内径相同，另外二个螺孔的内径比腔体壳（1）凹台底部螺孔的内径大4毫米；在前端盖（1）的朝向腔体壳（3）一面制有二道环形凹槽，凹槽中分别装有前密封O型圈（2）和外密封O型圈（12）；通过金属材质的螺栓A（91）、螺栓B（92）、螺栓C（93）、螺栓D（94）将腔体壳（3）、内膜片（8）、内铜板（7）、绝缘圈（6）、外铜板（5）、外膜片（4）、前端盖（1）固定在一起，相互压紧并保证螺栓A（91）与内铜板（7）导通但不与外铜板（5）接触，螺栓B（92）与外铜板（5）导通但不与内铜板（7）接触，螺栓C（93）与外铜板（5）导通但不与内铜板（7）接触，螺栓D（94）与内铜板（7）导通但不与外铜板（5）接触；螺栓A（91）接有接线柱A（111），在接线柱A（111）与腔体壳（3）之间压有螺栓胶垫A（101）；螺栓B（92）接有接线柱B（112），在接线柱B（112）与腔体壳（3）之间压有螺栓胶垫B（102）；螺栓C（93）接有接线柱C（113），在接线柱C（113）与腔体壳（3）之间压有螺栓胶垫C（103）；螺栓D（94）接有接线柱D（114），在接线柱D（114）与腔体壳（3）之间压有螺栓胶垫D（104）；接线柱A（111）、接线柱B（112）、接线柱C（113）、接线柱D（114）分别通过导线与检测电路（18）联接；在腔体壳（3）的后端制有带螺纹的凸台，通过螺纹与后端盖（15）连接，在腔体壳（3）与后端盖（15）之间通过后密封胶垫（14）进行密封。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟，佟超，于海明，龚亚林，尹兆余，陈树军，周洪军，金鑫，李剑锋，王政，梁宏伟，夏远恒，曲宝剑，温晓光，刘家勇，毕然，
申请(专利权)人：丹东东方测控技术有限公司，
类型：实用新型
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