多通道光学检测装置制造方法及图纸

技术编号:9112391 阅读:130 留言:0更新日期:2013-09-05 01:36
本发明专利技术提供了一种多通道光学检测装置。该多通道光学检测装置包括:光源,用于提供检测光;多通道芯片,位于光源的光路后端,具有多个盛放样品的检测通道;聚焦透镜,位于多通道芯片的光路后端,用于将经过预设检测通道后的检测光聚焦;光检测器,位于聚焦透镜的光路后端,用于收集由聚焦透镜聚焦的检测光;以及透射型空间光调制器,位于光源和多通道芯片之间,用于对照射于其上的检测光进行调制,仅使预设透光图形的检测光通过而到达多通道芯片上对应的检测通道。本发明专利技术由透射型空间光调制器代替传统的机械扫描部件,提高了检测的速度和可靠性,降低了装置的复杂度和成本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多通道光学检测装置,其特征在于,包括:?光源,用于提供检测光;?多通道芯片,位于所述光源的光路后端,具有多个盛放样品的检测通道;?聚焦透镜,位于所述多通道芯片的光路后端,用于将经过预设检测通道后的检测光聚焦;?光检测器,位于所述聚焦透镜的光路后端,用于收集由所述聚焦透镜聚焦的检测光;以及?透射型空间光调制器,位于所述光源和多通道芯片之间,用于对照射于其上的检测光进行调制,仅使预设透光图形的检测光通过而到达所述多通道芯片上对应的检测通道。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡浩原李辉崔大付陈兴张璐璐孙建海李亚亭任艳飞
申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
类型:发明
国别省市:

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