一种磁通测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种磁通测量装置，是由探测线圈、量程扩展装置、磁通计组成，上述各部分之间通过导线连接并构成回路，所述的量程扩展装置包括多个不同阻值的电阻或者是电阻箱，所述的电阻设置在接线盘上，量程扩展装置中的单个电阻或者多个电阻构成的电阻组通过导线与磁通计和探测线圈相连接构成回路。本实用新型专利技术克服了原来测量尺寸较大或者磁通量较大的磁钢时，由于磁通计量程的限制，需要更换线圈或者更换量程较大的磁通计等缺点可以用于测量超过一台普通磁通计量程几倍甚至几千倍磁通量的磁钢，节省了需要配备多个探测线圈或磁通计的成本。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种磁通测量装置，尤其是一种能够根据测试需求灵活调整量程的磁通测量装置。
技术介绍
目前测量磁通的方法一般是采用磁通计配合不同的探测线圈来测量磁通。磁通计是一种利用RC电子积分原理测量的精密积分仪器。积分器用集成放大器加阻容反馈构成；指示电表可以是机械式指示电表，也可以是数字电压表。当探测线圈中所链合的磁通变化Λ φ时，线圈中感应出电动势e，此时，积分器的输出电压θ(ι=_η Λ φ/R0C(η为探测线圈的匝数，Rtl为电阻，C为积分电容)，从指示电表上即可读出与探测线圈相链合的磁通的变化量。探测线圈可以是普通的环形导线绕组，也可以是以亥姆霍兹线圈为代表的线圈组。把探测线圈与磁通计连接在一起，就可以测量磁钢在探测线圈中产生的磁通变化了。与使用高斯计测量磁体的表面磁场相比，磁通测量的优点是对被检磁钢的几何形状没有任何限制，如磁钢可以是圆柱形、圆片形、矩形、瓦形等。一般而言，只要磁钢是沿单一方向充磁的，在相同测试条件下测试的与该磁钢对应的磁通量总是正比于磁钢本身的磁矩。但是，由于磁通计量程有限，如果测量磁通量超过其量程的磁体，就需要配备不同的探测线圈，或者购买量程更大的磁通计，这样就需要增加相应的硬件配置，从而增加了成本。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是:提供一种磁通测量装置，能够在现有量程下实现超量程测量。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种磁通测量装置，是由探测线圈、量程扩展装置、磁通计组成，上述各部分之间通过导线连接并构成回路；所述的量程扩展装置包括多个不同阻值的电阻或者是电阻箱，所述的量程扩展装置中的电阻是设置在接线盘上的，不同阻值的电阻可以通过导线串联或者并联构成不同阻值的电阻组；量程扩展装置中的单个电阻或者多个电阻构成的电阻组通过导线与磁通计和探测线圈相连接构成回路。本技术所述的量程扩展装置中的电阻的阻值为I欧 10兆欧。根据被测量产品磁通的大小，可以更换不同的电阻，选择电阻大小的原则是优选在满足测量要求的情况下，选择较小的电阻。本技术的有益效果是，解决了
技术介绍
中存在的缺陷，克服了原来由于磁通计量程有限而需要配备较多线圈或者配备不同测量量程磁通计的缺点，可以测量超过其量程几倍甚至几十倍的磁钢，同时节省了需要配备大量线圈或磁通计的成本。以下结合附图和实施例对本技术进一步说明。附图说明图1是现有技术的测量装置的电路原理图；图2是本技术的测量装置的电路原理图；图3是本技术超量程测量装置的电路原理图。图中:1、探测线圈；2、量程扩展装置；3、磁通计；；4、电阻；5、导线盘；6、接线盘。具体实施方式现在结合附图和优选实施例对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。图1所示的是一种常规的磁通测量装置，把探测线圈与磁通计连接在一起，通过改变磁钢相对于探测线圈的相对位置，就可以测量磁钢所产生的磁通变化了。图2所示的是本技术所述的一种磁通测量装置，由探测线圈1、量程扩展装置2、磁通计3组成，上述各部分之间通过导线连接并构成回路。如图3所示，量程扩展装置2由多个不同阻值的电阻4构成，电阻4设置在接线盘6上，电阻4通过导线5与磁通计3和探测线圈I相连接。量程扩展装置2中的测量电阻的阻值可以根据需要设置为I欧 10兆欧。本技术的磁通测量原理是:没有加入量程扩展装置之前输出电压ef-ηΛ φ/RcA加入量程扩展装置之后ex = -ηΛ φ/ (R0+Rx) C，因此改装后的测量值ex与原值eQ之间的关系:ex= (R0/ (R0+Rx) ) *e0。本技术只用于超过原磁通计量程范围以外的磁钢测量，根据被测量产品磁通的大小，可以更换不同阻值的电阻或者由多个电阻构成的电阻组，选择电阻大小的原则是优选在满足测量要求的情况下，选择较小的电阻。通过本技术可以克服原来测量尺寸较大或者磁通量较大的磁钢时由于磁通计量程的限制，而需要更换线圈或者更换量程较大的磁通计等缺点，可以测量超过普通磁通计量程几倍甚至几千倍磁通量的磁钢，同时节省了需要配备多个线圈或磁通计的成本。以上说明书中描述的只是本技术的具体实施方式，各种举例说明不对本技术的实质内容构成限制，所属
的普通技术人员在阅读了说明书后可以对以前所述的具体实施方式做修改或变形，而不背离技术的实质和范围。权利要求1.一种磁通测量装置，其特征在于:是由探测线圈、量程扩展装置、磁通计组成，上述各部分之间通过导线连接并构成回路；所述的量程扩展装置包括多个不同阻值的电阻或者是电阻箱，量程扩展装置中的单个电阻或者多个电阻构成的电阻组通过导线与磁通计和探测线圈相连接构成回路。2.如权利要求1所述的一种磁通测量装置，其特征在于:所述的量程扩展装置中的电阻是设置在接线盘上的。3.如权利要求2所述的一种磁通测量装置，其特征在于:所述的设置在接线盘上的不同阻值的电阻通过导线串联或者并联构成不同阻值的电阻组。4.如权利要求1所述的一种磁通测量装置，其特征在于:所述的量程扩展装置中的电阻的阻值为I欧 10兆欧。专利摘要本技术涉及一种磁通测量装置，是由探测线圈、量程扩展装置、磁通计组成，上述各部分之间通过导线连接并构成回路，所述的量程扩展装置包括多个不同阻值的电阻或者是电阻箱，所述的电阻设置在接线盘上，量程扩展装置中的单个电阻或者多个电阻构成的电阻组通过导线与磁通计和探测线圈相连接构成回路。本技术克服了原来测量尺寸较大或者磁通量较大的磁钢时，由于磁通计量程的限制，需要更换线圈或者更换量程较大的磁通计等缺点可以用于测量超过一台普通磁通计量程几倍甚至几千倍磁通量的磁钢，节省了需要配备多个探测线圈或磁通计的成本。文档编号G01R33/02GK203037833SQ20122074130公开日2013年7月3日 申请日期2012年12月31日 优先权日2012年12月31日专利技术者马世光, 董生智 申请人:江苏东瑞磁材科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁通测量装置，其特征在于：是由探测线圈、量程扩展装置、磁通计组成，上述各部分之间通过导线连接并构成回路；所述的量程扩展装置包括多个不同阻值的电阻或者是电阻箱，量程扩展装置中的单个电阻或者多个电阻构成的电阻组通过导线与磁通计和探测线圈相连接构成回路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马世光，董生智，
申请(专利权)人：江苏东瑞磁材科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：