当前位置: 首页 > 专利查询>王建刚专利>正文

一种X荧光耐气候试验箱制造技术

技术编号:8794200 阅读:187 留言:0更新日期:2013-06-13 01:02
本发明专利技术属于环境模拟检测试验领域,具体是涉及一种X荧光耐气候试验箱;包括一试验箱体,其特征在于:所述试验箱体为长度大于高度的卧式结构;所述试验箱体上设有控制面板,该控制面板通过控制电路板与传感器装置、压缩机、蒸发器、加湿器、加热器、淋雨装置以及光照装置连接。此结构不仅适合较大产品的检测,而且还具有不同光照强度、高低温、高低湿、淋雨等试验条件。此结构简单,实用性强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于环境模拟检测试验领域,具体是涉及一种X荧光耐气候试验箱;其以结构简单,测试项目多和测试范围广的特点而深具实用性。
技术介绍
在检测试验箱领域尤其是X荧光耐气候试验箱领域,随着人们对产品质量中X荧光(紫外光)测试项目的重视,测试项目应用的领域也越来越多,而目前的测试设备的功能已经不能满足一些新的要求,如低温(常温以下)、紫外光、淋雨等多种环境对产品性能的影响。另外,现有的试验箱体是长宽都小于高度的立式结构,在测试的产品较大的情况下,很多设备已经难以满足要求。因此,试验箱控制系统功能的完善,结构的创新是满足现实发展的必然趋势。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的不足,提供一种X荧光耐气候试验箱;其以结构简单,测试项目多和测试范围广的特点而深具实用性。为了达到上述目的,本专利技术一种X荧光耐气候试验箱,包括一试验箱体,所述试验箱体为长度大于高度的卧式结构,以节约空间从而释放出更多的空间来置放更多较大的产品;所述试验箱体上设有控制面板,该控制面板通过控制电路板与传感器装置、压缩机、蒸发器、加湿器、加热器、淋雨装置以及光照装置连接。所述控制面板不仅可以通过控制电路板来控制与其连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X荧光耐气候试验箱,包括一试验箱体,其特征在于:所述试验箱体为长度大于高度的卧式结构;所述试验箱体上设有控制面板,该控制面板通过控制电路板与传感器装置、压缩机、蒸发器、加湿器、加热器、淋雨装置以及光照装置连接。

【技术特征摘要】
1.一种X荧光耐气候试验箱,包括一试验箱体,其特征在于:所述试验箱体为长度大于高度的卧式结构;所述试验箱体上设有控制面板,该控制面板通过控制电路板与传感器装置、压缩机、蒸发器、加湿器、加热器、淋雨装置以及光照装置连接。2.根据权利要求1所述的一种X荧光耐气候试验箱,其特征在于:所述传感器装置由温度传感器、湿度传感器、光敏传感记时器和淋雨时间记时器构成。3.根据权利要求1所述的一种X荧光耐气候试验箱,其特征在于:所述光照装置为紫外灯管。4.根据权利要求1所述的一种X荧光...

【专利技术属性】
技术研发人员:王建刚
申请(专利权)人:王建刚
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1