一种适合于X荧光多元素分析仪测量的往复式测量装置制造方法及图纸

技术编号:8787365 阅读:190 留言:0更新日期:2013-06-10 01:08
本实用新型专利技术涉及一种适合于X荧光多元素分析仪测量的往复式测量装置。通过电机驱动以及位移传感器的定位配合,控制探测系统按照程序设定的顺序依次对各种矿浆进行往复式测量,并在整个过程中对位移传感器的定位精度进行判断,一旦出现定位错误,则整个系统停止运转并报警,保护系统的安全。本实用新型专利技术仅使用一套放射源及测量分析系统便可以轮流依次检测多种矿浆,节省了放射源的使用数量,也节约了仪器的成本。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

一种适合于X荧光多元素分析仪测量的往复式测量装置
本技术涉及一种往复式测量装置及方法,具体说是涉及一种适合于X荧光多元素分析仪测量的往复式测量装置及方法。
技术介绍
我国冶金、有色金属、矿山、建材等众多领域的生产过程中,原料中各种元素的配比对产品质量起着关键的作用。目前基于专利技术“在流检测多元素分析装置及方法”(专利号:200710010105.5)的在流X荧光多元素分析仪器已经很好的实现了对料流的各组成元素含量的实时检测,摆脱了人工取样后再进行化学分析的烦琐程序,大大提高了生产效率。但是由于在流X荧光多元素分析仪器的最核心的测量、分析部分是最为昂贵的,而且需要使用放射源来激发出被分析矿浆中各元素的特征X射线,因此每测量一种矿浆就需要一套探测分析系统和放射源,导致用户在使用过程中成本过高,且增加放射源的管理成本,也不利于环保。
技术实现思路
本技术针对现有在流X荧光多元素分析仪器在应用中所存在的缺陷,提出一种针对工业在流X荧光多元素分析仪器在应用中能够采用一套放射源及探测器即可分析多种矿浆的往复式测量装置及方法。本技术所采用的技术方案是:在框架I的下部固定有若干平行排列的流槽2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适合于X荧光多元素分析仪测量的往复式测量装置,其特征是:在框架(1)的下部固定有若干平行排列的流槽(20),在框架(1)的上部通过固定栓A(14)、固定栓B(15)、固定栓C(16)安装有水平螺杆(3),水平螺杆(3)可绕自身的轴心自由旋转,框架(1)安装有水平方向电机(2),水平方向电机(2)与水平螺杆(3)的传动方式为涡轮涡杆机构,水平螺杆(3)上制有螺纹,水平螺杆(3)通过螺纹与水平滑块(4)相互啮合,在框架(1)的左端装有左位移传感器(10),在框架(1)的右端装有右位移传感器(11),在水平滑块(4)的下部接有水平移动平板(5),在水平移动平板(5)上通过固定栓D(17)、固定栓...

【技术特征摘要】
1.一种适合于X荧光多元素分析仪测量的往复式测量装置,其特征是: 在框架(I)的下部固定有若干平行排列的流槽(20),在框架(I)的上部通过固定栓A(14)、固定栓B (15)、固定栓C (16)安装有水平螺杆(3),水平螺杆(3)可绕自身的轴心自由旋转,框架(I)安装有水平方向电机(2),水平方向电机(2)与水平螺杆(3)的传动方式为涡轮涡杆机构,水平螺杆(3)上制有螺纹,水平螺杆(3)通过螺纹与水平滑块(4)相互啮合,在框架(I)的左端装有左位移传感器(10 ),在框架(I)的右端装有右位移传感器(11 ),在水平滑块(4)的下部接有水平移动平板(5),在水平移动平板(5)上通过固定栓D (17)、固定栓E (18)、固定栓F (19)安装有竖直螺杆(7),竖直螺杆(7)可绕自身的轴心自由旋转,在水平移动平板(5)上安装有竖直方向电机(6),竖直方向电机(6)与竖直螺杆(7)之...

【专利技术属性】
技术研发人员:张伟佟超李剑锋龚亚林陈树军于海明周洪军尹兆余魏晓云刘永超张建赵龙毕然刘业绍
申请(专利权)人:丹东东方测控技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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