计算机存储设备和串行IO端口的多点测试制造技术

一种用于计算机存储设备的多点测试的方法和装置。一种测试计算机存储设备的方法的实施例包括耦合多个存储设备，每个存储设备具有串化器输出端以及解串器输入端，其中第一存储设备的串化器输出端与多个存储设备的存储设备中一或多个的解串器输入端相耦合。该方法进一步包括使用每个存储设备的测试生成器产生测试信号模式、在每个存储设备处将测试信号模式串行化、并且将经串行化的测试模式进行传输用于测试存储设备，其中存储设备的测试包括第一测试方式以及第二测试方式。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的多个实施例总体上涉及计算机存储器以及串行输入/输出( ο)领域，并且更具体地涉及对计算机存储设备和串行IO端口进行多点测试(mult1-site testing)的方法和装置。
技术介绍
随着技术的进步允许在每个装置内安装越来越小的部件，计算机存储设备具有越来越密集的体系结构。因此，对于测试而言每个存储设备已经变得越来越复杂，因为待测试的存储器已经变得更加复杂。在串行端口存储设备内，可能存在数目不断增加的存储器子部件以及串行IO端口需要进行测试。有效地对此类装置进行测试对制造商们提出了很大挑战，他们通常被迫为存储器单元而不是测 试电路腾出更多的硅面积并且被迫在板测试中付出很大努力和代价。在这种环境中，制造商们在降低成本的压力下制造出更多数目的存储器板或存储设备。由于这个原因，制造商们面临着关于如何有效率地对多个装置进行测试的问题，同时还面临着精确地确定所测试的存储设备中哪一个实际上包含瑕疵以及存在哪种类型的瑕疵的问题。
技术实现思路
提供一种对计算机存储设备以及串行IO端口进行多点测试的方法和装置。在本专利技术的第一方面中，一种测试计算机存储设备的方法包括耦合多个存储设备，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.01.06 US 12/683,3651.一种测试计算机存储设备的方法，包括: 耦合多个存储设备，每个存储设备具有串化器输出端以及解串器输入端，其中第一存储设备的串化器输出端与所述多个存储设备的存储设备中的一或多个的解串器输入端相耦合； 使用每个存储设备的测试生成器产生测试信号模式；以及 在每个存储设备处将测试信号模式串行化，并且传输经串行化的测试模式用于测试所述多个存储设备，其中存储设备的测试包括第一测试方式和第二测试方式。2.如权利要求1所述的方法，其中第一测试方式是串行IO(输入-输出)测试方式,并且第二测试方式是存储器接口测试方式。3.如权利要求2所述的方法，其中串行IO测试方式与存储器接口测试方式是分离的。4.如权利要求3所述的方法，其中用于串行IO测试方式的测试模式包括对存储器接口测试方式未授权的测试模式。5.如权利要求2所述的方法，其中多个存储设备的测试包括对多个故障进行测试，所述故障包括存储设备的接线上的开路、固定以及桥接故障中的一或多个。6.如权利要求5所述的方法，进一步包括建立测试路径以进行对存储设备的接线的测试。7.如权利要求2所述的方法，其中多个存储设备的测试包括测试测试设备之间的时钟偏移容限。8.如权利要求2所述的方法，存储器接口测试方式包括建立自循环返回测试，所述自循环返回测试包括将第一设备的串化器连接到所述第一设备的解串器。9.如权利要求2所述的方法，其中存储器接口测试方式包括建立时钟间偏移测试，所述时钟间偏移测试包括将第一设备的串化器连接到所述第一设备的解串器。10.如权利要求1所述的方法，进一步包括: 在存储设备的每一个处接收一或多个测试信号，并且使用计算机存储设备的错误校验器将所接收的测试信号进行比较以确定装置失败；并且收集针对存储设备的失败信息。11.如权利要求10所述的方法，进一步包括测试后在存储设备之间传送所收集的失败信息。12.如权利要求10所述的方法，进一步包括至少部分地基于所收集的失败信息标识一或多个有缺陷的存储设 备。13.如权利要求10所述的方法，进一步包括如果设备在多个测试信号路径的一或多个之中起作用，则确定所述设备是边际性缺陷的。14.如权利要求1所述的方法，进一步包括建立针对多个存储设备中的每一个的时间偏移。15.如权利要求14所述的方法，进一步包括针对存储设备的多个测试改变用于存储设备的时间偏移。16.如权利要求2所述的方法，进一步包括建立多个测试信号路径并且针对每个测试信号路径收集失败信息。17.如权利要求16所述的方法，其中建立多个测试信号路径包括建立用于串行IO测试方式的第一测试信号路径以及用于存储器接口测试方式的第二测试信号路径。18.如权利要求16所述的方法，其中建立多个测试信号路径包括发送用于计算机存储设备的控制信号。19.一种存储设备，包括: 用于数据存储的一或多个存储体； 输出端，包括用于将数据串行化的串化器； 输入端，包括将数据解串行化的解串器； 测试生成器，生成用于测试存储器的一或多个测试模式； 错误检测器，检测所接收的数据中的错误； 与存储体相耦合的切换和端口逻辑；以及 一或多个切换组件，用于建立用于存储设备的一或多个测试路径，所述测试路径包括用于第一测试方式的第一测试路径以及用于第二测试方式的第二测试路径。20.如权利要求19所述的存储设备，其中第一测试路径是用于串行IO(输入-输出)测试方式的测试路径，并且第二测试路径是用于存储器接口测试方式的测试路径。21.如权利要求19所述的存储设备，进一步包括:错误输出端，用于将错误数据提供给存储器测...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛真成，
申请(专利权)人：晶像股份有限公司，
类型：
国别省市：