电气参数测试装置制造方法及图纸

技术编号:8744294 阅读:147 留言:0更新日期:2013-05-29 21:40
本发明专利技术提供一种电气参数测试装置,通过将一第一比较芯片及一第二比较芯片的电源引脚连接至一供电电源,将该第一比较芯片的正输入引脚分别连接至一第一电源引脚及一第二电源引脚,所述第二比较芯片的其中一正输入引脚连接至所述一第三电源引脚,所述第一比较芯片的输出引脚分别连接至所述第一及第二测试引脚,所述第二比较芯片的其中一输出引脚连接至所述第三测试引脚,所述第一至第三测试引脚均连接至一单片机,所述单片机接收来自所述第一至第三测试引脚的测试信号,并对所述测试信号进行处理,进而实现方便、快捷地对所述第一至第三电源引脚输入至外设部件互连标准设备的电压的时序进行测试。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种电气参数测试装置,应用于一外设部件互连标准设备,所述外设部件互连标准设备通过该电气参数测试装置连接至一外设部件互连标准插槽,所述外设部件互连标准插槽包括第一电源引脚、第二电源引脚及第三电源引脚,分别用于输出不同的电压至所述外设部件互连标准设备;其特征在于:所述电气参数测试装置包括时序测试模块及单片机,该时序测试模块包括第一比较芯片、第二比较芯片、第一测试引脚、第二测试引脚及第三测试引脚,该第一比较芯片及第二比较芯片均包括电源引脚、一组负输入引脚、一组正输入引脚及一组输出引脚,该电源引脚连接至一供电电源,该第一比较芯片的负输入引脚及该第二比较芯片的其中一负输入引脚均连接至一参考电压,该第一比较芯片的正输入引脚分别连接至第一电源引脚及第二电源引脚,所述第二比较芯片的其中一正输入引脚连接至所述第三电源引脚,所述第一比较芯片的输出引脚分别连接至所述第一及第二测试引脚,所述第二比较芯片的其中一输出引脚连接至所述第三测试引脚,所述第一至第三测试引脚均连接至所述单片机,所述单片机用以接收来自所述第一至第三测试引脚的测试信号,并对所述测试信号进行处理,进而获得所述第一至第三电源引脚输入至所述外设部件互连标准设备的电压的时序。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:潘亚军罗奇艳陈鹏童松林
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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