【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及串级飞行时间质谱
,具体涉及一种同向双通道飞行时间质谱仪。
技术介绍
飞行时间质谱仪是记录分子荷质比的仪器,根据质谱图提供的信息可以进行多种有机物及无机物的定性和定量分析、复杂化合物的结构分析、样品中各种同位素比的测定及固体表面的结构和组成分析等。光电子能谱(或光电子成像技术)是一束紫外激光去辐照分子或离子,产生的光电子速度被记录下来,反映分子轨道的电子,振动或者转动能级、结构类型等信息。飞行时间质谱自1955年W.C.Wiley and 1.H.McLaren (Rev.Sc1.1nstrum.26,1150(1955))采用双场加速技术以来发展快速,在许多领域有重要应用。飞行时间质谱与光电子能谱(或者光电子成像)结合可以研究复杂化合物的结构和性质,对于分子电子能级水平甚至振动,转动能级水平研究有着重要的意义。飞行时间质谱-光电子能谱(或者光电子成像)复合谱技术在研究有机分子,自由基,团簇领域里起着关键作用。这种传统的飞行时间质谱-光电子能谱(或者光电子成像)技术中,加速器的电极板采用单孔贴金属栅网来传输离子,离子信号探测器坐落于加速器的一 ...
【技术保护点】
一种同向双通道飞行时间质谱仪,其特征在于:该质谱仪紧凑小巧,包括并行的双通道加速器(1)、小型真空腔体(2)、激光溅射离子源(3)、离子信号探测器(4)、(5)和离子准直器(6);离子准直器(6)将小型真空腔体(2)分割成两部分,激光溅射离子源(3)位于离子准直器(6)的上方,并行的双通道加速器(1)位于离子准直器(6)的下方;激光溅射离子源(3)出口、离子准直器(6)孔中心和双通道加速器(1)两加速片中点处于同一中线轴线上;离子信号探测器(4)、(5)分别位于这一中心轴线的左右处。
【技术特征摘要】
1.一种同向双通道飞行时间质谱仪,其特征在于:该质谱仪紧凑小巧,包括并行的双通道加速器(I)、小型真空腔体(2)、激光溅射离子源(3)、离子信号探测器(4)、(5)和离子准直器(6); 离子准直器(6)将小型真空腔体(2)分割成两部分,激光溅射离子源(3)位于离子准直器(6)的上方,并行的双通道加速器(I)位于离子准直器(6)的下方;激光溅射离子源(3)出口、离子准直器(6)孔中心和双通道加速器(I)两加速片中点处于同一中线轴线上;离子信号探测器(4)、(5)分别位于这一中心轴线的左右处。2.按照权利要求1所述同向双通道飞行时间质谱仪,其特征在于:激光溅射离子源(3)由激光照射金属靶面产生的激光等离子体,再与超声分子束作用产生的离子复合物经喷口喷出,该离子束经过离子准直器(6)后飞行一段时间进入双通道加速器(I)中心,由于离子束在飞行路径上具有一定的长度,离子束被加速器的上下两个孔道分割成两段,并且分别被横向加速,偏转,聚焦至离子信号探测器(4)和(5)探测,最后记录的是上下两通道的离子飞行时间质谱。3.按照权利要求1或2所述同向双通道飞行时间质谱仪,其特征在于:所述激光溅射离子源(3)采用脉冲激光超声分子束负离子源。4.按照权利要求1或2所述同向双通道飞行时间质谱仪,其特征在于:所述双通道加速器(I)的电极板采用双孔并贴栅网,上下两...
【专利技术属性】
技术研发人员:秦正波,唐紫超,张世宇,
申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所,
类型:发明
国别省市: