一种仿真装置及仿真方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种仿真装置，包括：参数提取模块，用于提取琼斯矩阵模型的偏振光输入参数、偏振参数、偏振光检测参数；代码处理模块，用于生成分别描述参数提取模块提取的偏振光输入参数、偏振参数、偏振光检测参数的程序代码；运行模块，用于运行代码处理模块生成的程序代码，得到描述光偏振器件偏振效果的数据；输出模块，用于输出运行模块运行得到的描述光偏振器件偏振效果的数据。本发明专利技术实施例还公开了一种仿真方法。采用本发明专利技术，在测试光偏振器件的偏振效果时，无需搭建实体测试设备，也无需消耗光偏振器件材料，减少了测试光偏振器件偏振效果时的成本投入，避免了测试光偏振器件偏振效果过程中光偏振器件制作材料的消耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光偏振器件偏振效果的测试领域，具体而言，尤其涉及一种用于测试光偏振器件偏振效果的仿真装置及仿真方法。
技术介绍
当前，偏振光有着非常广泛的用途，例如，可用于分析机械的各个部件之间的应力分布、用于测试溶液的浓度等。当然，偏振光在生物、医学、航空等领域也有广泛的应用。不同用途的偏振光，其可能由不同的光偏振器件产生，也可能由同一光偏振器件产生。基于偏振光的广泛应用，测试产生偏振光的光偏振器件的偏振效果，也成为了一个重要的研究课题。现有技术中，测试光偏振器件的偏振效果的方法为:通过构建精密的测量仪器组，包括起偏器、检偏器、光屏、支撑台、支柱、检测台、步进电机、计算机等，来检测光偏振器件对光的偏振效果。在整套测试设备中，可通过改变起偏器透光轴与X轴的夹角、检偏器透光轴与X轴的夹角以及光偏振器件长轴与X轴的夹角等，来测定光偏振器件的不同偏振效果。在上述测试过程中，不仅需要耗费大量的时间，并且构建整套测试设备也需要投入大量的成本，以及还需要消耗较多的光偏振器件制作材料。因此如何构建一种性价比更高的测试光偏振器件偏振效果的系统成了亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例所要解决的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种仿真装置，其特征在于，包括：参数提取模块，用于提取琼斯矩阵模型的偏振光输入参数、偏振参数、以及偏振光检测参数；代码处理模块，用于生成分别描述所述参数提取模块提取的偏振光输入参数、偏振参数、偏振光检测参数的程序代码；运行模块，用于运行所述代码处理模块生成的程序代码，得到描述光偏振器件偏振效果的数据；输出模块，用于输出所述运行模块运行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的数据。

【技术特征摘要】
1.种仿真装置，其特征在于，包括: 参数提取模块，用于提取琼斯矩阵模型的偏振光输入参数、偏振参数、以及偏振光检测参数； 代码处理模块，用于生成分别描述所述参数提取模块提取的偏振光输入参数、偏振参数、偏振光检测参数的程序代码； 运行模块，用于运行所述代码处理模块生成的程序代码，得到描述光偏振器件偏振效果的数据； 输出模块，用于输出所述运行模块运行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的数据。2.权利要求1所述的仿真装置，其特征在于，所述偏振光输入参数包括偏振光的振幅、起偏器透光轴与X轴的夹角，谐振因子；所述偏振参数包括所述光偏振器件长轴与X轴的夹角参数、所述光偏振器件引入的相位差；所述偏振光检测参数为检偏器透光轴与X轴的夹角。3.权利要求2所述的仿真装置，其特征在于，所述仿真装置还包括: 参数接收模块，用于接收用户输入的调节所述起偏器透光轴与X轴的夹角、光偏振器件长轴与X轴的夹角、所述光偏振器件引入的相位差、以及检偏器透光轴与X轴的夹角中的至少一个参数； 所述代码处理模块，还用于根据所述参数接收模块接收到的参数，调节所述参数对应的程序代码。4.权利要求1-3任一项所述的仿真装置，其特征在于，所述输出模块输出的描述所述光偏振器件偏振效果的数 据包括: 所述偏振光穿过光偏振器件后的偏振状态、光强、X轴上的光强、Y轴上的光强中的至少一个。5.权利要求1-3任一项所述的仿真装置，其特征在于，所述输出模块用于以图形格式输出所述运行模块运行得到的描述所述光偏振器件偏振...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘若鹏，易翔，黄沣，季春霖，刘斌，
申请(专利权)人：深圳光启高等理工研究院，
类型：发明
国别省市：