本发明专利技术涉及一种变压器铁心测试绕线装置，按照本发明专利技术提供的技术方案，所述变压器铁心测试绕线装置，包括用于套在待测变压器铁心上的集成线圈，所述集成线圈内包括若干绕线，集成线圈内绕线的一端与第一插拔接头电连接，集成线圈内绕线的另一端与第二插拔接头电连接，所述第一插拔接头、第二插拔接头与连接控制电路相连，连接控制电路与控制器的输出端相连，控制器与输入装置连接；输入装置能向控制器内输入测试匝数信息，控制器根据所述测试匝数信息通过连接控制电路调节集成线圈内绕线串联的数量，以使得集成线圈内绕线串联后形成的线圈与所述测试匝数对应一致。本发明专利技术连接使用方便，提高测试效率和准确性，适应范围广，安全可靠。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试装置，尤其是一种变压器铁心测试绕线装置，属于变压器铁心测试的
技术介绍
变压器铁心在装配完成后，需要对变压器铁心进行空载损耗和空载电流的测试。在测试空载损耗和空载电流的过程中，厂家会根据不同的型号的铁心，在铁心芯柱上绕不同圈数的线，即在铁心的芯柱上得到不同匝数的线圈。目前，行业内普遍使用手工在铁心芯柱上一圈一圈的绕制，效率低，速度慢，缠绕圈数不准，数圈的时候易出错。偶有厂家会将线进行集成处理，但也需频繁换线或遇到没有合适的线需对测试参数重新进行计算。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种变压器铁心测试绕线装置，其连接使用方便，提高测试效率和准确性，适应范围广，安全可靠。按照本专利技术提供的技术方案，所述变压器铁心测试绕线装置，包括用于套在待测变压器铁心上的集成线圈，所述集成线圈内包括若干绕线，集成线圈内绕线的一端与第一插拔接头电连接，集成线圈内绕线的另一端与第二插拔接头电连接，所述第一插拔接头、第二插拔接头与连接控制电路相连，连接控制电路与控制器的输出端相连，控制器与输入装置连接；输入装置能向控制器内输入测试匝数信息，控制器根据所述测试匝数信息通过连接控制电路调节集成线圈内绕线串联的数量，以使得集成线圈内绕线串联后形成的线圈与所述测试匝数对应一致。所述第二插拔接头与测试输入线电连接，第一插拔接头与测试输出线电连接，测试输入线与测试输出线与用于测试待测变压器铁心空载损耗及空载电流的空载测量仪连接。所述输入装置包括拨码开关。所述控制器包括PLC。所述连接控制电路包括若干中间继电器，所述中间继电器的常闭触点的动触头与第一插拔接头电连接，中间继电器的常闭触点的静触头与第二插拔接头连接，通过中间继电器的常闭触点能将与第一插拔接头及第二插拔接头连接的绕线串联成一体；中间继电器的线圈与控制器的输出端连接。所述集成线圈内的一根绕线能在待测变压器的铁心上绕制一匝线圈。本专利技术的优点:采用第一插拔接头、第二插拔接头与集成线圈内绕线的电连接，能够快事实现测试线圈的插拔，避免需要在待测变压器铁心上绕制线圈的弊端，能够对空载损耗和空载电流进行低压400V满匝数测试，避免进行测试换算，连接使用方便，提高测试效率和准确性，适应范围广，自动化程度高，安全可靠。附图说明图1为本专利技术的结构示意图。图2为本专利技术控制器与连接控制电路连接配合的电路原理图。图3为本专利技术连接控制电路的控制原理图。附图标记说明:1_拨码开关、2-控制器、3-第一插拔接头、4-测试输出线、5-集成线圈、6-测试输入线及7-第二插拔接头。具体实施例方式下面结合具体附图和实施例对本专利技术作进一步说明。如图1所示:为了能够对待测变压器铁心快速精确地进行需要的空载损耗和空载电流测试，本专利技术包括用于套在待测变压器铁心上的集成线圈5，所述集成线圈5内包括若干绕线，集成线圈5内绕线的一端与第一插拔接头3电连接，集成线圈5内绕线的另一端与第二插拔接头7电连接，所述第一插拔接头3、第二插拔接头7与连接控制电路相连，连接控制电路与控制器2的输出端相连，控制器2与输入装置连接；输入装置能向控制器2内输入测试匝数信息，控制器2根据所述测试匝数信息通过连接控制电路调节集成线圈5内绕线串联的数量，以使得集成线圈5内绕线串联后形成的线圈与所述测试匝数对应一致。 具体地，上述连接后，对变压器铁心进行测试时，第二插拔接头7与测试输入线6电连接，第一插拔接头3与测试输出线4电连接，测试输入线6与测试输出线4与用于测试待测变压器铁心空载损耗及空载电流的空载测量仪连接。其中，空载测量仪为现有对变压器铁心进行空载损耗和空载电流测试的设备，由于连接控制电路将集成线圈5内绕线串联后形成的线圈与测试匝数对应一致，因此通过空载测量仪测得的空载损耗与空载电流，与实际在变压器铁心上绕制相应测试匝数线圈时的空载损耗与控制电流相同，从而能够避免在变压器铁心上绕制与测试匝数线圈相同的绕线，提高测试的效率和精确度。图1中未示出集成线圈5套在待测变压器铁心上的使用状态，具体实施时，可以根据具体待测变压器铁心将集成线圈5套上即可。如图1和图2所示:本专利技术实施例中，控制器2采用型号为FX3U-64MR的PLC (可编程逻辑控制器)，在具体实施时，控制器2也可以采用其他常用的微处理器，如单片机或嵌入式处理器等。输入装置为拨码开关1，具体为2位拨码开关，通过拨码开关I能够向控制器2内输入测试匝数信息，在具体实施时，输入装置也可以为物理键盘或触摸屏等输入设备，可以根据需要进行选择。第一插拔接头3和第二插拔接头7可以采用现有的矩形航空插头。如图2和图3所示:本专利技术具体实施时，连接控制电路包括若干中间继电器，中间继电器线圈的一端与控制器2相应的输出端连接，中间继电器线圈的另一端与24V电源连接。中间继电器的常闭触点的动触头与第一插拔接头3电连接，中间继电器的常闭触点的静触头与第二插拔接头7连接，通过中间继电器的常闭触点能将与第一插拔接头3及第二插拔接头7连接的绕线串联成一体，在具体实施时，中间继电器常闭触点的动触头也可以与第二插拔接头7电连接，中间继电器常闭触点的静触头与第一插拔接头3电连接。在连接时，可以在常闭触点动触头或静触头的一端与绕线的一端--对应连接，在静触头或动触头的一端将绕线相互串接成一体。图2和图3中示出了，连接控制电路中包括31个中间继电器的结构，分别为中间继电器K1、中间继电器K2、中间继电器Κ3……中间继电器Κ31 ;中间继电器Kl常闭触点的动触头或静触头与第一插拔接头3内绕线的一端连接，中间继电器Κ2、中间继电器Κ3......中间继电器Κ31常闭触点的动触头或静触头与第一插拔接头3内对应绕线的一端连接；此后，中继继电器Κ1、中间继电器Κ2、中间继电器Κ3……中间继电器Κ31常闭触点静触头或动触头将第二插拔触头7内的绕线交叉连接，以形成绕线串接的状态。本专利技术实施例中，中间继电器Κ31采用常开触点与第一插拔接头3、第二插拔接头7的绕线连接。上述连接后，形成30个绕线串接在一起。本专利技术实施例中，集成线圈5内一根绕线的长度能够在待测变压器铁心上绕制成一匝线圈，当30个绕线串接在一起时，集成线圈5套在待测变压器铁心上后，相当于将待测变压器铁心上绕制30匝线圈，以此来测量变压器铁心的空载损耗和空载电流。虽然图2和图3示出了 30个中间继电器的结构，但是本专利技术可以根据需要设置连接控制电路中中间继电器的数量，以此与集成线圈5内的绕线匹配。当通过输入装置向控制器2内输入测试匝数信息时，控制器2根据测试匝数的数量信息，控制器2向对应标号的中间继电器线圈输出信号，以使得对应标号的中间继电器线圈得失电，控制对应标号中间继电器的常闭触点断开；当常闭触点断开后，对应标号中间继电器后的绕线不会与前面的绕线继续串联，从而得到需要数量绕线的串联。例如当拨码开关I向控制器2内输入数量21时，控制器2驱动中间继电器Κ21的线圈得失电，中间继电器Κ21的常闭触点断开，与中间继电器Κ21后面中间继电器连接的绕线就不会串联，即与中间继电器Κ22、中间继电器Κ23……中间继电器Κ30连接的绕线就不会串联，与中间继电器Κ21之前中间继电器连接的绕线依然保持串联状态，能够形成21个绕线串联的连接状态；形成的2本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种变压器铁心测试绕线装置，其特征是：包括用于套在待测变压器铁心上的集成线圈（5），所述集成线圈（5）内包括若干绕线，集成线圈（5）内绕线的一端与第一插拔接头（3）电连接，集成线圈（5）内绕线的另一端与第二插拔接头（7）电连接，所述第一插拔接头（3）、第二插拔接头（7）与连接控制电路相连，连接控制电路与控制器（2）的输出端相连，控制器（2）与输入装置连接；输入装置能向控制器（2）内输入测试匝数信息，控制器（2）根据所述测试匝数信息通过连接控制电路调节集成线圈（5）内绕线串联的数量，以使得集成线圈（5）内绕线串联后形成的线圈与所述测试匝数对应一致。
【技术特征摘要】
1.一种变压器铁心测试绕线装置，其特征是:包括用于套在待测变压器铁心上的集成线圈(5)，所述集成线圈(5)内包括若干绕线，集成线圈(5)内绕线的一端与第一插拔接头(3)电连接，集成线圈(5)内绕线的另一端与第二插拔接头(7)电连接，所述第一插拔接头(3)、第二插拔接头(7)与连接控制电路相连，连接控制电路与控制器(2)的输出端相连，控制器(2)与输入装置连接；输入装置能向控制器(2)内输入测试匝数信息，控制器(2)根据所述测试匝数信息通过连接控制电路调节集成线圈(5)内绕线串联的数量，以使得集成线圈(5)内绕线串联后形成的线圈与所述测试匝数对应一致。2.根据权利要求1所述的变压器铁心测试绕线装置，其特征是:所述第二插拔接头(7)与测试输入线(6)电连接，第一插拔接头(3)与测试输出线(4)电连接，测试输入线(6...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡子祥，李焦刚，张聪，魏龙，
申请(专利权)人：无锡市普天铁心有限公司，
类型：发明
国别省市：
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