【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及到一种检测光学系统焦点位置的装置和方法。详细地说, 本专利技术涉及到一种检测成像光学系统的焦点深度的装置和方法,而且还涉 及到一种控制焦点位置尤其是焦点深度的装置和方法。此外,本专利技术还涉 及到一种使用所述装置和/或所述方法的眼科医疗和/或诊断设备。
技术介绍
就此处讨论的光学系统而言,具体来说,该正被讨论的光学系统是材料加工设备中使用光源的成像光学系统,具体地,例如激光和LED。在此, 材料加工还应被理解为在微尺度范围内构造材料,例如像生物组织这样的 电介质或者是金属材料。特别地,本专利技术可使用于眼科光学系统中,尤其 是角膜屈光手术中,例如LASIK。该情况下本专利技术特别适合的应用领域是 fs-LASIK,例如使用飞秒激光器的角膜屈光手术。在前述的光学成像系统中,获得高精度的材料加工操作取决于焦点位 置的精确控制。"焦点位置"在此处首先被理解为,不仅是在光轴方向上 的焦点位置(所谓的焦点深度),而且还更多通常地是聚焦辐射的位置和 方向,例如,相对于系统理想光轴的偏移,或者光辐射的实际光轴相对于 理想(期望)光轴的角形。在fs-LASIK中, ...
【技术保护点】
一种用于检测光学系统(10)的焦点位置的装置,该光学系统(10)具有:辐射源(12);聚焦成像系统(16);在焦点(18a)上至少部分地反射的表面(18);用于记录所述表面(18)反射的图像的数字传感系统(24);用于评估照相机(24)记录的图像的计算机(C);以及在光学系统(10)的光路中处于聚焦成像系统(16)上游的光学元件(34,36),该光学元件根据焦点位置影响所述图像。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:奥拉夫柯特泰耳曼,彼得特里艾保,
申请(专利权)人:波光股份有限公司,
类型:发明
国别省市:DE[德国]
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