塔式键盘按键判断电路结构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种塔式键盘按键判断电路结构，属于电路结构技术领域。其包括一组端口状态寄存器、一组半加器和一个单键寄存器。其中每个端口状态寄存器均与对应的塔式键盘扫描端口相连接；每个半加器均具有一个累加结果端口和计数结果端口；单键寄存器与各个半加器的累加结果端口和计数结果端口均相连接，并具有单键按下信号输出端。该电路结构能够利用端口状态寄存器记录各端口检测到的输入信号，实现对每个端口在扫描周期内是否输入了低电平进行独立的并行判断，并在识别到多于一个按键按下时，利用半加器和单键寄存器产生状态标志，完全识别出所有的双重按键情况，确保按键判断正确，大幅提升电路性能。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路结构
，特别涉及按键判断电路结构
，具体是指一种塔式键盘按键判断电路结构。
技术介绍
键扫描端口复用的塔式遥控键盘正逐步替代传统的矩形键盘同类产品。作为成本敏感的电路，减少引脚而不减少按键数量具有明显的比较优势。该种塔式遥控键盘电路的键扫描波形如图1所示。在该电路中，各扫描端口复用，当某扫描端口输出低电平的扫描信号时，其他端口均输入上拉，以各端口间互相输入扫描信号来判断按键位置。同时将端口接地也可用于一个按键的确定。其判断是否有效按键的机制如下所有扫描端口 S〈n>在未输出扫描波形时保持输入状态，此时电路允许该端口外的信号进入，表现为信号KI〈n>。KI〈n>在S〈n>作为输入端口时与S〈n>相同，在S〈n>作为输出端口时为高电平。S〈n>与KI〈n>间逻辑如图2。在非键扫描时段，EN=O ;在键扫描时，当S〈n>为输入，则EN=I,当S〈n>为输出，则EN=O0电路将所有的KI〈n>相与后产生波形KI_ALL，即将并行的端口输入信号转换为串行信号。在扫描周期内对该串行信号的低电平个数进行计数，若一个周期内KI_ALL有且仅有2个低电平，电路判断为有效按键，正常发码；否则为无效按键，不发码。而在现有技术的电路中，双键同时按下则具有以下三种情况。情况一两个不接地按键同时按下。如图3所示，为不接地按键S〈1>-S〈2>、S〈4>-S〈5>同时按下。S〈n>端口信号中实线表不输出扫描信号，点虚线表不输入其他端口的扫描信号。KI〈n>即米样到各端口的输入信号，整个扫描周期所采样到的所有扫描信号通过对KI〈n>的与运算得到KI_ALL。按键不接地时对KI_ALL计数，若扫描周期内KI_ALL有且仅有2个低电平，按键被认为有效，此2个低电平对应按键的2个端口。若扫描周期内KI_ALL有3个或以上低电平，说明至少有2个按键同时按下，按键无效，电路进入待机状态。情况二 两个接地按键同时按下或一个接地按键和另一个与接地键共用一个扫描端口的按键同时按下。如图4所示，为接地按键S〈2>-GND、S〈4>-GND同时按下。S〈2>和S〈4>接地，S〈l>和S〈3>悬空。图中线段虚线表示若不接地时端口的状态。按键接地，S〈n>为输出时，KI〈n>被强制为“l”;S〈n>为输入时，KI〈n>同S〈n>为“O”。则扫描周期中每个接地端口的KI〈n>存在2个低电平。有双键按下时各KI〈n>相与，得到的KI_ALL在扫描周期均为低电平。即整个扫描周期仅存在一个低电平，双键被识别为无效按键。若按键情况为S<2>接地，S<2>-S<4>按键按下，即接地与不接地按键处在同一列时同时按下，实际有两个端口均与地线连接，相当于同时按下两个接地的按键。端口状态仍为图4，同样识别为无效按键。情况三一个接地按键和另一个与接地键不共用扫描端口的按键同时按下。如图5所示，位接地按键S〈2>-GND、不接地按键S〈3>-S〈4>同时按下。S〈n>端口的点虚线表示输入其他端口的扫描信号，S〈n>端口的线段虚线表示若按键不接地的端口状态。由情况一、二的分析可知，当按键端口接地，S<n>为输出时，KI〈n>被强制为“I”；S<n>为输入时，KI〈n>同S〈n>为“O”。当不接地按键不在接地按键的同一列时，KI〈n>即采样到各端口的输入信号。整个扫描周期所采样到的所有扫描信号通过对KI〈n>的与运算得到KI_ALL，而接地按键在其他端口扫描时其KI〈n>均被地线拉低，不接地键的采样结果被覆盖，对电路内部没有影响，导致电路认为仅有接地的按键按下。因此，当前使用的塔式键盘红外遥控发射电路中，与GND相连按键存在问题，当该类按键按下后，再按下不与该接地端口相连的其它键，则持续发射该接地按键红外编码，而不被其它按键打断。此现象与该类型遥控器发码定义不符，有必要进行修改。
技术实现思路
本技术的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种在塔式键盘遥控器接地按键与非接地按键同时按下的情况下，有效提高按键判断的正确性，大幅提升电路性能，且结构简单，成本低廉，应用范围广泛的塔式键盘按键判断电路结构。为了实现上述的目的，本技术的塔式键盘按键判断电路结构具有如下构成该塔式键盘按键判断电路结构，包括一组端口状态寄存器、一组半加器和一个单键寄存器。其中一组端口状态寄存器中的每个端口状态寄存器均与对应的塔式键盘扫描端口相连接；一组半加器中的每个半加器均与对应的所述的端口状态寄存器相连接，且每个半加器均具有一个累加结果端口和计数结果端口 ；所述的单键寄存器与所述的各个半加器的累加结果端口和计数结果端口均相连接，并具有单键按下信号输出端。该塔式键盘按键判断电路结构中，所述的半加器为I位半加器。 该塔式键盘按键判断电路结构中，所述的电路结构还包括一个非门电路单元和一个或非门电路单元，所述的累加结果端口连接于所述的非门电路单元的输入端，该非门电路单元的输出端及所述的计数结果端口连接所述的或非门电路单元的输入端，该或非门电路单元的输出端连接所述的单键寄存器。采用了该技术的塔式键盘按键判断电路结构，其包括一组端口状态寄存器、一组半加器和一个单键寄存器。其中每个端口状态寄存器均与对应的塔式键盘扫描端口相连接；每个半加器均与对应的所述的端口状态寄存器相连接，且每个半加器均具有一个累加结果端口和计数结果端口 ；所述的单键寄存器与所述的各个半加器的累加结果端口和计数结果端口均相连接，并具有单键按下信号输出端。使得该技术的塔式键盘按键判断电路结构，能够利用端口状态寄存器记录各端口检测到的输入信号，实现对每个端口在扫描周期内是否输入了低电平进行独立的并行判断，并在识别到多于一个按键按下时，利用半加器和单键寄存器产生状态标志，完全识别出所有的双重按键情况，确保按键判断正确，大幅提升电路性能，且本技术的塔式键盘按键判断电路结构，其结构简单，成本低廉，应用范围也较为广泛。附图说明图1为现有技术中的塔式遥控键盘电路的键扫描波形示意图。图2为现有技术中的塔式遥控键盘电路的扫描端口 S〈n>与信号KI〈n>间的逻辑示意图。图3为现有技术中的塔式遥控键盘电路的在第一种双键按下的情况下的波形示意图。图4为现有技术中的塔式遥控键盘电路的在第二种双键按下的情况下的波形示意图。图5为现有技术中的塔式遥控键盘电路的在第三种双键按下的情况下的波形示意图。图6为本技术的塔式键盘按键判断电路结构的示意图。图7为本技术的塔式键盘按键判断电路结构的键扫描波形示意图。具体实施方式为了能够更清楚地理解本技术的
技术实现思路
，特举以下实施例详细说明。请参阅图6所示，为本技术的塔式键盘按键判断电路结构的示意图。在一种实施方式中，该塔式键盘按键判断电路结构包括一组端口状态寄存器、一组半加器和一个单键寄存器。其中一组端口状态寄存器中的每个端口状态寄存器均与对应的塔式键本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种塔式键盘按键判断电路结构，其特征在于，所述的电路结构包括：一组端口状态寄存器，其中每个所述的端口状态寄存器均与对应的塔式键盘扫描端口相连接；一组半加器，其中每个所述的半加器均与对应的所述的端口状态寄存器相连接，且每个半加器均具有一个累加结果端口和计数结果端口；一个单键寄存器，与所述的各个半加器的累加结果端口和计数结果端口均相连接，并具有单键按下信号输出端。

【技术特征摘要】
1.一种塔式键盘按键判断电路结构，其特征在于，所述的电路结构包括 一组端口状态寄存器，其中每个所述的端口状态寄存器均与对应的塔式键盘扫描端口相连接； 一组半加器，其中每个所述的半加器均与对应的所述的端口状态寄存器相连接，且每个半加器均具有一个累加结果端口和计数结果端口； 一个单键寄存器，与所述的各个半加器的累加结果端口和计数结果端口均相连接，并具有单键按下信号输出端。2....

【专利技术属性】
技术研发人员：高庆，丁宏亮，王效，曹旺，赵海，
申请(专利权)人：无锡华润矽科微电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：