晶体应力检测仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶体应力检测仪，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，上述检测台设有贯穿的纵向孔，上述纵向孔底部正下方设置光源输出端，上述纵向孔的顶端设置上述沙磨玻璃片，上述纵向孔上方设有固定的检测固定架，上述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。本实用新型专利技术的有益效果在于，仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种应力检测仪，尤其是晶体应力检测仪。
技术介绍
晶体等玻璃材料在生产后会产生应力，其原因包括在生产单晶过程中，单晶炉内温场，温度梯度有缺陷造成的；在机械加工过程中，受到机械外力作用产生的加工应力。所以在晶体片机械分割加工，退火后，要进行应力检测。而传统的行业中，通常使用的是大型的应力检测仪，其成本较高，因此设计一种较为简易的应力测试仪是解决这一问题的有效途径。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种晶体应力检测仪，结构简易，使用简便，节约成本。本技术是通过以下技术方案来实现的。一种晶体应力检测仪，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，上述检测台设有贯穿的纵向孔，上述纵向孔底部正下方设置光源输出端，上述纵向孔的顶端设置上述沙磨玻璃片，上述纵向孔上方设有固定的检测固定架，上述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。进一步地，上述检测仪还包括工作壁，上述工作壁设有两段，上段可旋转，下段不可旋转，上述工作壁固定于上述检测台顶面，上述检测固定架通过连接杆固定在上述工作壁的下段，上述偏光片固定架通过连接杆固定在上述工作壁的上段。进一步地，上述检测仪还包括基架，上述基架设置在上述检测台底部，上述光源输出端设置在上述基架内。本技术的有益效果在于，仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。附图说明图1为本技术晶体应力检测仪的结构示意图。具体实施方式下面根据附图和实施例对本技术作进一步详细说明。图1为本技术晶体应力检测仪的结构不意图，参照图1，本技术，晶体应力检测仪，包括检测台1、检测固定架2、偏光片固定架3、光源输出端4、沙磨玻璃片5，上述检测台I设有贯穿的纵向孔10，上述纵向孔10底部正下方设置光源输出端4，在本实施案例中，光源输出端4设为单一方向输出的白炽灯，上述纵向孔10的顶端设置上述沙磨玻璃片5，上述纵向孔10上方设有固定的检测固定架2，上述检测固定架2上端设置可移动的偏光片固定架4。进一步地，上述检测仪还包括工作壁6，上述工作壁6设有两段即上段61和下段63，上段61可旋转，下段63不可旋转，上述工作壁6固定于上述检测台顶面1，上述检测固定架2通过连接杆20固定在上述工作壁6的下段63，上述偏光片固定架3通过连接杆30固定在上述工作壁6的上段61。即通过两段式的工作壁6实现了检测固定架2的固定，以及偏光片固定架3的可移动。进一步地，上述检测仪还包括基架7，上述基架7设置在上述检测台I底部，上述光源输出端4设置在上述基架内7。本技术，晶体应力检测仪，本技术，在使用时先将待检测的产品放置在检测固定架2上，然后选择合适的偏光片放置在偏光片固定架3，此时打开光源输出端4，从上方进行观察，以检测其应力。仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本
技术实现思路
并加以实施，并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围内。权利要求1.一种晶体应力检测仪，其特征在于，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，所述检测台设有贯穿的纵向孔，所述纵向孔底部正下方设置光源输出端，所述纵向孔的顶端设置所述沙磨玻璃片，所述纵向孔上方设有固定的检测固定架，所述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。2.根据权利要求1所述的晶体应力检测仪，其特征在于，所述检测仪还包括工作壁，所述工作壁设有两段，上段可旋转，下段不可旋转，所述工作壁固定于所述检测台顶面，所述检测固定架通过连接杆固定在所述工作壁的下段，所述偏光片固定架通过连接杆固定在所述工作壁的上段。3.根据权利要求1所述的晶体应力检测仪，其特征在于，所述检测仪还包括基架，所述基架设置在所述检测台底部，所述光源输出端设置在所述基架内。专利摘要本技术公开了一种晶体应力检测仪，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，上述检测台设有贯穿的纵向孔，上述纵向孔底部正下方设置光源输出端，上述纵向孔的顶端设置上述沙磨玻璃片，上述纵向孔上方设有固定的检测固定架，上述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。本技术的有益效果在于，仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。文档编号G01L1/24GK202836841SQ20122042270公开日2013年3月27日 申请日期2012年8月23日 优先权日2012年8月23日专利技术者万文, 万黎明 申请人:巢湖市环宇光学技术有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体应力检测仪，其特征在于，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，所述检测台设有贯穿的纵向孔，所述纵向孔底部正下方设置光源输出端，所述纵向孔的顶端设置所述沙磨玻璃片，所述纵向孔上方设有固定的检测固定架，所述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：万文，万黎明，
申请(专利权)人：巢湖市环宇光学技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：