位置测量系统的扫描组件技术方案

本发明专利技术涉及一种位置测量系统的扫描组件，具有：用于产生电磁辐射的辐射源，借助于辐射源能扫描位置测量系统的量具；辐射源的基座，在该基座上能固定辐射源并且设有用于电接触辐射源的电导体元件；和辐射源的电连接元件，辐射源通过该连接元件与基座的导体元件电接触。在此，基座（1）的导体元件（3）和辐射源（4）的连接元件（44、46）形成引导部，在引导部上，辐射源（4）在其固定在基座（1）上之前、在保持辐射源（4）与导体元件（3）之间的电接触的情况下能关于基座（1）沿调节轨道（B）运动，以便能使辐射源（4）在基座（1）上沿调节轨道（B）布置在不同的位置中，其中辐射源（4）分别与导体元件（3）电接触。

【技术实现步骤摘要】
位置测量系统的扫描组件
本专利技术涉及一种根据权利要求1的前序部分所述的、位置测量系统的、例如长度测量系统的扫描组件。
技术介绍
这种扫描组件包括：用于产生电磁辐射的、例如形式为发光二极管（LED）的辐射源，借助于该辐射源能扫描位置测量系统的量具、例如沿测量方向（纵向-）延伸的、具有测量刻度的刻度尺；和辐射源的基座，在该基座上能固定辐射源并且设有用于电接触辐射源的电导体元件。也就是说，通过将辐射源固定在基座上，其一方面集成到扫描组件中并且固定在其内部，以及另一方面被电连接，从而能对用于产生电磁辐射的辐射源通电流。为此，辐射源具有电连接元件，当辐射源按照规定固定在基座上时，该辐射源通过所述连接元件与基座的导体元件电接触。这种扫描组件通常设计成所谓的扫描头，该扫描头通过（光电）扫描位置测量系统的所属的测量刻度能实现高度精确的位置测量。需扫描的测量刻度在此可以例如被设置用于在纵向延伸的刻度尺上形成所谓的纵向测量系统，或者为了形成角度测量系统沿着在分度盘上的圆形轨道或在滚筒的内圆周或外圆周上延伸。此外，要借助扫描组件扫描的测量刻度不仅设计成增量式刻度而且也设计成绝对-编码。由DE198431本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位置测量系统的扫描组件，具有：?用于产生电磁辐射的辐射源（4），借助于所述辐射源能扫描所述位置测量系统的量具（50）；?所述辐射源（4）的基座（1），在所述基座上能固定所述辐射源（4）并且设有用于电接触所述辐射源（4）的电导体元件（3）；和?所述辐射源（4）的电连接元件（44、46），所述辐射源（4）通过所述连接元件与所述基座（1）的导体元件（3）电接触，其特征在于，所述基座（1）的导体元件（3）和所述辐射源（4）的连接元件（44、46）形成引导部，在所述引导部上，所述辐射源（4）在其固定在所述基座（1）上之前、在保持所述辐射源（4）与所述导体元件（3）之间的电接触的情况下能关于所述基座（...

【技术特征摘要】
2011.09.14 DE 102011082663.71.一种位置测量系统的扫描组件，具有：-用于产生电磁辐射的辐射源（4），借助于所述辐射源能扫描所述位置测量系统的量具（50）；-所述辐射源（4）的基座（1），在所述基座上能固定所述辐射源（4）并且所述基座设有用于电接触所述辐射源（4）的电的导体元件（3）；和-所述辐射源（4）的电的连接元件（44、46），所述辐射源（4）通过所述连接元件与所述基座（1）的导体元件（3）电接触，其特征在于，所述基座（1）的导体元件（3）和所述辐射源（4）的连接元件（44、46）形成引导部，在所述引导部上，所述辐射源（4）在其固定在所述基座（1）上之前、在保持所述辐射源（4）与所述导体元件（3）之间的电接触的情况下能关于所述基座（1）沿调节轨道（B）运动，以便能使所述辐射源（4）在所述基座（1）上沿着下述的调节轨道（B）布置在不同的位置中：在该调节轨道中所述辐射源（4）分别与所述导体元件（3）电接触，其中，所述引导部具有所述导体元件（3）的至少一个连接部段（34、36）和所属的电的连接元件（44、46），它们能沿着所述调节轨道（B）彼此相对移位并且同时相互电接触，从而所述辐射源（4）关于所述基座（1）在不同的相对位置中进行电接触。2.根据权利要求1所述的扫描组件，其特征在于，所述引导部具有两个沿着所述调节轨道（B）延伸的连接部段（34、36）和配属的电的连接元件（44、46）。3.根据权利要求1或2所述的扫描组件，其特征在于，所述至少一个连接部段（34、36）作为电的导体元件设置在所述基座（1）上，并且分别所属的电的接触元件作为连接元件（44、46）设置在所述辐射源（4）上。4.根据权利要求1或2所述的扫描组件，其特征在于，所述引导部设计用于使所述辐射源（4）进行直线引导的运动。5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：A格鲁贝尔，J多尔曼，M辛德勒，
申请(专利权)人：约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司，
类型：发明
国别省市：