一种支持IEC61850时间性能测试的测试仪制造技术

技术编号:8476107 阅读:248 留言:0更新日期:2013-03-24 22:04
本实用新型专利技术提供一种支持IEC61850时间性能测试的测试仪,该测试仪包括:接收网络数据信息的网络接口;捕获网络数据信息中的IEC61850数据信息的IEC61850数据采集模块;IEC61850数据采集模块与网络接口相连;记录IEC61850数据信息到达所述测试仪的时刻的时间戳;时间戳与IEC61850数据采集模块相连;根据时间戳记录的时刻计算获得IEC61850数据传输的时间延迟及时间间隔的时间性能处理模块;时间性能处理模块与时间戳相连。本实用新型专利技术可以在接收的网络数据信息中捕获IEC61850数据信息,并对IEC61850特定数据信息进行检测、分析、存储,实现了对IEC61850特定报文的时间性能的测试分析,方便了对智能变电站运行状况的实时监控以及维护。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种支持IEC61850时间性能测试的测试仪,其特征在于,所述支持IEC61850时间性能测试的测试仪包括:接收网络数据信息的网络接口;捕获网络数据信息中的IEC61850数据信息的IEC61850数据采集模块;IEC61850数据采集模块与网络接口相连;记录IEC61850数据信息到达所述测试仪的时刻的时间戳;时间戳与IEC61850数据采集模块相连;根据时间戳记录的时刻计算获得IEC61850数据传输的时间间隔和时间延迟的时间性能处理模块;时间性能处理模块与时间戳相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陶晓农赵旭阳刘晶顾宗良
申请(专利权)人:上海远景数字信息技术有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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