一种同步测量基体介质密度和水分含量的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种同步测量基体介质密度和水分含量的装置，包括底座和主电路板，底座的一侧设有竖直的支撑杆和源杆，源杆的下端设γ-源腔室，底座的另一侧的底部设有γ-射线探测器，一水平设置的手柄与源杆连接，在源杆的γ-源腔室之上依次设有水分传感器和PCB密封舱室，水分传感器与PCB密封舱室内的水分传感器测量电路电连接，水分传感器测量电路与主电路板电连接。支撑杆是中空的，支撑杆的侧面开有竖向导缝，源杆置于支撑杆内，手柄一端与源杆固定连接，另一端通过支撑杆的竖向导缝伸出，并可沿该竖向导缝上下移动。本装置能方便快捷地同时、同地测得不同深度处介质的密度和水分含量，而且结构简单，操作方便，安全可靠。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种同步测量基体介质密度和水分含量的装置
本技术属于利用电磁波或粒子辐射来测试或分析材料
，特别是一种利用Y源和电磁波同步测量基体介质密度和水分含量的装置。
技术介绍
对于以泥土、沙石混合物等为原料的压实材料进行密度和水分现场测定，在水库坝基建设、铁路、公路路基等建筑施工中，具有广泛而重要的应用。基体的压实密度和水分含量与基体质量和基体耐久稳定性密切相关，是两个需要严格控制的质量指标。施工中需要对基体进行分层碾压，使基体的压实密度和水分含量达到相应的施工质量标准。对于碾压质量的现场快速检测是确保施工质量达标的有效手段。现行的作法是采用表层型核子密度水分仪对各种土、石等地基工程碾压质量进行现场检测。表层型 核子密度水分仪采用Y-射线测量介质密度，采用快中子被氢原子慢化测量介质含水量，两种方法同机联用，同步测定含水量和介质密度。由于中子源Am-241-Be的强放射性和长的半衰期，其采购、使用、保管均由国际反恐大环境的影响而受到越来越严格的控制，基于非中子源的水分含量测定方法与装置的研发意义重大。美国专利(专利号US8071937B2，授权日2011. 12. 6.)公开了基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同步测量基体介质密度和水分含量的装置，包括底座（31）和主电路板（24），底座（31）的一侧设有竖直的支撑杆（14）和源杆（13），源杆（13）的下端设γ?源腔室（1），底座（31）的另一侧的底部设有γ?射线探测器（22），其特征在于：一水平设置的手柄（11）与源杆（13）连接，在所述源杆（13）的γ?源腔室（1）之上依次设有水分传感器（2）和PCB密封舱室（4），水分传感器（2）与PCB密封舱室（4）内的水分传感器测量电路（3）电连接，水分传感器测量电路（3）与主电路板（24）电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李政，曹中，崔敏，陈海洋，仇宏军，
申请(专利权)人：南通中天精密仪器公司，
类型：实用新型
国别省市：