解码方法以及解码处理装置制造方法及图纸

技术编号:8416331 阅读:148 留言:0更新日期:2013-03-15 05:17
本发明专利技术的解码方法对从编码图像反射的光进行光电转换,生成表示反射光强度的读取信号,对所生成的该读取信号进行微分来生成微分信号。以此为前提,从所生成的微分信号中检测出读取信号的反射光强度的拐点,检测与检测出的该拐点间的宽度长对应的如图9所示那样的作为反射光强度的极值的峰值水平。而且,求出检测出的峰值水平之间的差,根据求出的该峰值水平之间的差设定用于对读取信号进行解码的阈值(ThB2、ThS2)。由此,即使是附着有污垢或印刷质量差的编码图像的读取信号、在散焦状态下读取出的读取信号,也能够进行解码。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对表示来自读取对象的反射光强度的读取信号进行解码的解码方法以及解码处理装置
技术介绍
图像识别中的二值化处理是影响解码出的输出结果的精度的重要技术。以下说明具有代表性的图像识别。在专利文献I中,公开有一种按照微分强度从大到小的顺序重新排列来进行处理的脸部识别装置。根据该脸部识别装置,进行如下处理通过微分处理根据作为脸部图像的 灰度图像生成微分强度图像,在生成的该微分强度图像内,在包含希望提取的脸部部分的规定区域内,按照微分强度从大到小的顺序重新对像素进行排列。然后,以将与脸部部分对应地选择了指定的像素数的部位作为浓度变化剧烈的部位并将除此以外的部位作为浓度变化不剧烈的平坦部位的方式设定阈值,根据所设定的该阈值将微分强度图像作为二值化图像来进行输出。在专利文献2中,公开有一种进行微分处理来进行二值化处理的二值化方式。根据该二值化方式,通过由CO)(Charge Coupled Device :电子稱合器件)、CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor :互补金属氧化物半导体)等构成的摄像元件对编码符号即多值图像信号进行拍摄,通过二次微分部进行二次微分,通过符号变化点检测部检测该二次微分信号从正到负或者从负到正变化大的点(零交叉点),以通过零交叉点检测部进行零交叉点检测。在后级的二值化阈值计算部中,根据来自零交叉点检测部的触发信号对编码读取部输出的多值图像信号的亮度值进行采样并保持,将该亮度值作为二值化处理的阈值输出到二值化部。在专利文献3中,公开有一种进行A/D转换来进行二值化处理的0CR(0pticalCharacter Recognition :光学文字读取装置)。在OCR中,由于原稿为空白部分而文字为黑色部分,因此对通过CXD读取到的原稿的图像数据进行A/D转换,进行图像处理。例如,通过将原稿读取数据的最大值(白侧)与最小值(黑侧)之差作为A/D转换的基准电压,来增大动态范围,根据该基准电压来进行A/D转换,由此提高二值化处理的精度。在专利文献4中,公开有一种使寻道动作提高的光盘播放装置。在光拾取器中,在分别使物镜偏移到其偏移范围的最内周位置和最外周位置的状态下,使光拾取器在光盘的半径方向上移动。此时,阈值生成电路在各状态下求出最适合于对二值化前信号进行二值化处理的第一阈值和第二阈值,将两个阈值的平均值作为最终阈值来设定在阈值寄存器。在进行寻道动作时,以上述最终阈值对二值化前信号进行二值化处理。这样,在进行二值化处理的最佳值变得最大或变得最小的物镜的偏移范围的最内周位置和最外周位置分别求出第一阈值和第二阈值,将两者的平均值作为上述规定的阈值。接着,以对编码符号图像进行光学性处理的读码器为例,详细说明图像识别中的二值化处理的过程。该读码器向图12所示那样的形成于读取对象物50的编码图像51照射激光光线等,接收其反射光来实施电气处理,由此读取该编码图像51的信息。例如,编码图像51由条形码(例如,作为宽度宽的条形码的宽条形码WB、作为宽度窄的条形码的窄条形码NB)和空白(例如,作为宽度宽的空白的宽空白WS、作为宽度窄的空白的窄空白NS)构成。此外,在本例中,以读取对象物50附着有污垢N为前提。接着,说明这样的读码器的二值化处理例。图13是表示将纵轴作为信号水平(反射光强度)、将横轴作为位置时的读取信号Dl的波形例的说明图。如图13所示,将读码器所读取的编码图像51的信息作为读取信号Dl而读取。 该读取信号Dl包含与编码图像51的宽条形码WB对应的具有朝下的大的凸形状的宽条形码波形WB1、与窄条形码NB对应的具有朝下的小的凸形状的窄条形码波形NB1、与宽空白WS对应的具有朝上的大的凸形状的宽空白波形WSI以及与窄空白NS对应的具有朝上的小的凸形状的窄空白波形NS1。顺便说一下,在图12所示的读取对象物50附着有污垢N时,读取信号Dl包含噪声NI。图14是表示将纵轴作为信号水平、将横轴作为位置时的微分信号D2的波形例的说明图。读码器对读取信号Dl进行微分来生成微分信号D2。如图14所示,该微分信号D2具有将读取信号Dl的宽条形码波形WBl、窄条形码波形NBl、宽空白波形WSl或窄空白波形NSl的拐点作为极值的波形。图15是表示将纵轴作为条形码/空白(“0”时为条形码,“I”时为空白)、将横轴作为位置时的二值化信号D3的波形例的说明图。读码器将微分信号D2的拐点作为上升沿或下降沿的点来生成二值化信号D3。如图15所示,该二值化信号D3包含与宽条形码波形WBl对应的宽条形码信号WB3、与窄条形码波形NBl对应的窄条形码信号NB3、与宽空白波形WSl对应的宽空白信号WS3以及与窄空白波形NSl对应的窄空白信号NS3。另外,二值化信号D3还包含与读取信号Dl的噪声NI对应的噪声信号N3。这样,当读取对象物50附着污垢N时,在二值化信号D3中包含噪声信号N3,无法对编码图像51的信息准确地进行解码。接着,说明处于读取对象物50与读码器之间相距规定的距离(焦距)以上而读码器的受光面在光轴方向上偏离透镜的成像面的状态(散焦状态)时的读码器的二值化处理例。图16是表示将纵轴作为信号水平(反射光强度)、将横轴作为位置时的读取信号D4的波形例的说明图。该读取信号D4与图13所说明的读取信号Dl同样地包含与编码图像51的宽条形码WB对应的具有朝下的大的凸形状的宽条形码波形WB4、与窄条形码NB对应的具有朝下的小的凸形状的窄条形码波形NB4、与宽空白WS对应的具有朝上的大的凸形状的宽空白波形WS4以及与窄空白NS对应的具有朝上的小的凸形状的窄空白波形NS4。顺便说一下,在本例中,即使在图12所示的读取对象物50附着有污垢N时,因为读取对象物50与读码器相距焦距的距离,因此,读取信号D4并不像读取信号Dl那样包含噪声NI。图17是表示将纵轴作为信号水平、将横轴作为位置时的微分信号D5的波形例的说明图。读码器对读取信号D4进行微分来生成微分信号D5。如图17所示,该微分信号D5具有将读取信号D4的宽条码波形WB4、窄条形码波形NB4、宽空白波形WS4或窄空白波形NS4的拐点作为极值的波形。拐点间的宽度长全部为大致相同的长度。图18是表示将纵轴作为条形码/空白(“0”时为条形码,“I”时为空白)、将横轴作为位置时的二值化信号D6的波形例的说明图。读码器将微分信号D5的拐点作为上升沿或下降沿的点来生成二值化信号D6。如图18所示,该二值化信号D6包含与宽条形码波形WB4对应的宽条形码信号WB6、与窄条形码波形NB4对应的窄条形码信号NB6、与宽空白波形WS4对应的宽空白信号WS6以及与窄空白波形NS4对应的窄空白信号NS6。 如图17所示,拐点间的宽度长全部为大致相同的长度,因此,宽条形码信号WB6、窄条形码信号NB6、宽空白信号WS6以及窄空白信号NS6也全部为大致相同的长度。这里,不能对编码图像51的信息准确地进行解码。专利文献I :日本特开2007-80087号公报专利文献2 :日本特开2001-209751号公报专利文献3 日本特开平9-128523号公报专利文献4 日本特开2006-65909号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题关于图像识别中的输出结本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.06.30 JP 2010-1502271.一种解码方法,其特征在于,包括如下步骤 第一步骤,对从读取对象反射的光进行光电转换来生成表示反射光强度的读取信号; 第二步骤,对在上述第一步骤中生成的读取信号进行微分来生成微分信号; 第三步骤,根据在上述第二步骤中生成的微分信号检测上述读取信号的上述反射光强度的拐点,检测与检测出的上述拐点之间的宽度长对应的作为上述反射光强度的极值的峰值水平; 第四步骤,求出在上述第三步骤中检测出的峰值水平之间的差,根据求出的该峰值水平之间的差设定用于对上述读取信号进行解码的阈值;以及 第五步骤,根据在上述第四步骤中设定的阈值对上述读取信号进行解码。2.根据权利要求I所述的解码方法,其特征在于, 在上述第二步骤中,对上述拐点之间的宽度长和上述峰值水平进行统计,来根据该统计结果设定与上述宽度长和上述峰值水平有关的正常值范围, 将位于所设定的该正常值范围的范围外的上述宽度长或上述峰值水平视为噪声来进行删除。3.根据权利要求I所述的解码方法,其特征在于, 在上述第三步骤中,求出在上述第二步骤中检测出的峰值水平的频率分布,来根...

【专利技术属性】
技术研发人员:木村一人田中叶
申请(专利权)人:OPTO电子有限公司
类型:
国别省市:

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