【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测量装置，具体涉及一种形位公差测量装置。
技术介绍
在现有技术中形位公差的测量都是由千分表、直尺、角尺、V型块、塞规平面基座和支撑架等多个测量器件、测量工具配合在一起使用。虽然这些测量器件和测量工具配合在一起可以用于测量各种形位公差，但是由于器件较多，在具体测量工作中安装、调试和测量操作过程都比较复杂，测量过程中费时费力，工作效率低，而且容易造成测量误差，另外还会增加测量的成本
技术实现思路
·本技术的目的在于克服现有技术中存在的缺陷，提供一种结构简单，使用方便，测量准确的形位公差测量装置。为实现上述目的，本技术的技术方案是设计一种形位公差测量装置，其特征在于，所述测量装置包括水平设置的基准轴，在所述基准轴上设有开口向下的V形块，在所述V形块的上端设置有可沿基准轴方向伸缩的测量臂和可绕V形块端部转动的测量臂，在所述测量臂上设置有测量表，所述测量表用于测量平行于基准轴的轴类件或直杆的形位公差、直线度和/或圆跳动。其中优选的技术方案是，所述的V形块有两块，在两块V形块之间设有连杆。进一步优选的技术方案是，在所述连杆上设有电磁线圈。进一步优选的技术方案还有，所述...
【技术保护点】
一种形位公差测量装置，其特征在于，所述测量装置包括水平设置的基准轴，在所述基准轴上设有开口向下的V形块，在所述V形块的上端设置有可沿基准轴方向伸缩的测量臂和可绕V形块端部转动的测量臂，在所述测量臂上设置有测量表，所述测量表用于测量平行于基准轴的轴类件或直杆的形位公差、直线度和/或圆跳动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王民生，
申请(专利权)人：江阴新仁科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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