触控感测方法以及装置制造方法及图纸

技术编号:8386951 阅读:156 留言:0更新日期:2013-03-07 07:30
本发明专利技术提供一种触控感测方法,用以侦测感测阵列。此感测阵列包括至少一感测列。此触控感测方法包括:根据自此感测列撷取之复数感测资料信号获得一感测曲线;判断此感测曲线之一曲线特征是否与复数预设曲线特征中一者相同;以及根据关于感测列之该判断结果来获知该感测列之触控状况。另提供一种触控感测装置。本发明专利技术可降低干扰杂讯对于感测阵列的侦测影响,并能提高侦测感测阵列触控状况的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控感测技术,特别是涉及一种适用于感测阵列之触控感测方法及其感测装置。
技术介绍
图I表示单一物体触控感测阵列中一感测列之示意图。参阅图I,感测列10包括配置成一列之复数感测胞Cl-ι C1-14。一般而言,对感测列10的一次触控侦测会导致一系列的信号读取。举例来说,当单一物体(例如一手指,即单一触控点)11触控感测列10 上邻近感测胞C1-6与C1-7附近之位置时,自感测胞Cl-I C1-14读出的复数感测资料信号之强度呈现一高斯曲线(Gaussian Curve)。另,在一些应用中,感测列10可能被复数物体所触控,参照图2表示两物体触控感测阵列中一感测列之示意图,当一物体20触控感测列10上邻近感测胞C1-4附近之位置,而另一物体21触控感测列10上邻近感测胞C1-8附近之位置时,自感测胞Cl-I C1-14读出的复数感测资料信号之强度呈现两个高斯曲线。在习知技术中,根据高斯曲线可区别出真正表示触控感测列10受到触控之实际资料与干扰杂讯。一般而言,大多会设定一最小临界值以判断出实际资料。然而,假使感测列10上被触控的面积相对小,那么此触控所衍生的实际资料将会被视为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控感测方法,用以侦测一感测阵列,所述感测阵列包括至少一感测列,所述触控感测方法包括:(a)根据自所述感测列撷取之复数感测资料信号获得一感测曲线;(b)判断所述感测曲线之一曲线特征是否与复数预设曲线特征中一者相同;以及(c)根据关于所述感测列之所述判断结果来获知所述感测列之触控状况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王万秋楚丁
申请(专利权)人:宸鸿科技厦门有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1