具有透射及反射光源的照明装置、检测系统及其检测方法制造方法及图纸

技术编号:8366100 阅读:308 留言:0更新日期:2013-02-28 03:12
本发明专利技术公开了一种具有透射及反射光源的照明装置、应用该照明装置的光学检测系统及其检测方法。该光学检测系统包括反射光源、透射光源、成像单元、半反半透镜以及全反射镜;反射光源设置在被测物体的一侧,半反半透镜设置在反射光源与被测物体之间,透射光源设置在被测物体的另一侧,全反射镜设置在半反半透镜的一侧,用以接收从半反半透镜反射的光线并反射至成像单元。本光学检测系统通过设置反射光源与透射光源,使得被测物体表面结构可充分检测,在检测前表面结构时开启反射光源而关闭透射光源,在检测后表面结构时开启透射光源而关闭反射光源,也可同时开启反射光源和透射光源对被测物体前后表面结构同时进行检测,提高了检测物件的检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学检测系统及其检测方法,尤其涉及用于检测可透射的被测物体的前后表面的光学检测系统及其检测方法,以及应用于该光学检测系统的照明装置。
技术介绍
通常,平板玻璃、触摸屏、导光板或液晶面板等透光性/半透光性产品在制造中需要通过光学检测系统对其进行质量检测从而判定产品工艺和制程是否合格,然后以此为依据对工艺和制程进行改善并对产品进行修复以提高产品良率。光学检测系统一般包括光源及CCD测试机,通过光源向被测物体发射光线,光线经被测物体反射到达CCD测试机中,通过CCD测试机对光学影像转换为数字信号并进行分析比较,从而判断该被测物体表面是否合格。如果需要检测被测物体的第二表面时,则需要将被测物体反置或者放置另一光学检测系统,另一光学检测系统发射的光线入射至被测物体的第二表面并透射或反射至CCD测试机中,通过CCD测试机分析判断该被测物体表面是否合格。然,该种通过两套光学检测系统来检测被测物体前、后表面或者通过反置被测物体的方法,影响了被测物体表面质量检测的效率,并且,通过两套光学检测系统增加了检测成本,通过反置的方法由于定位或者摆放易对测物体表面造成影响
技术实现思路
鉴于以本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种具有透射及反射光源的光学检测系统,用于检测被测物体,其特征在于:光学检测系统包括反射光源、半反半透镜、成像单元以及透射光源;所述反射光源与透射光源设置在被测物体的相对的两侧,所述半反半透镜设置在反射光源与被测物体之间,所述反射光源发出光线穿过半反半透镜照射至被测物体表面后反射至半反半透镜,所述透射光源发出光线透过被测物体并照射至半反半透镜,所述半反半透镜将所述反射光源发出光线和/或所述透射光源发出的光线反射至成像单元。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张梁李波樊思民董玉静温晔
申请(专利权)人:肇庆中导光电设备有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1