一种数字直放站离线隔离度检测的方法技术

本发明专利技术公开了一种数字直放站离线隔离度检测的方法，包括步骤：(1)设置接收信号的发射强度和发射频点；(2)对接收端所接收的接收信号进行下变频，得到下变频信号，对下变频信号做第一次下变频采样，得到第一次采样信号；(3)接着对第一次采样信号进行第二次下变频采样，得到第二次采样信号；(4)滤除第二次采样中的干扰信号，得到发射信号；(5)对发射信号进行功率统计；(6)将统计到的功率上报到监控系统；(7)监控系统通过发射信号的强度和接收信号的强度之差计算得到系统的隔离度。该方法不需要往直放站设备中增加模块，从而无需额外增加设备的成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无线通信技术，尤其涉及。
技术介绍
无线直放站收发天线的隔离度在工程安装时是一项重要的测试参数，收发天线必须要满足一定的要求才能开站，否则设备就可能异常工作而影响基站的覆盖。传统的隔离度检测方案是在设备中增加一个射频模块，通过射频模块的收发信号过程计算出天线间的隔离度。这种方案要在直放站设备中增加一个模块，体积、重量增加的同时又增加了设备的成本。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺点与不足，提供，该方法不需要往直放站设备中增加模块，从而无需额外增加设备的成本。本专利技术的目的通过下述技术方案实现本数字直放站离线隔离度检测的方法，包括以下步骤(I)设置接收信号的发射强度和发射频点；(2)对接收端所接收的接收信号进行下变频，得到下变频信号，对下变频信号做第一次下变频采样，得到第一次采样信号；(3)接着对第一次采样信号进行第二次下变频采样，得到第二次采样信号；(4)滤除第二次采样中的干扰信号，得到发射信号；(5)对发射信号进行功率统计；(6)将统计到的功率上报到监控系统；(7)监控系统通过发射信号的强度和接收信号的强度之差计算得到系统的隔离度。优选地，所述步骤(2)中的第一次下变频采样为6倍下变频采样；所述步骤(3)中的第二次下变频采样为8倍下变频采样。优选地，所述步骤(7)计算系统的隔离度IS0，公式为ISO = Pout+(G-G3)-PinPtjut为由数字域产生的点频功率,G2为数字域后的增益,Gl为数字域前增益,PinS反馈功率，G3为数字域增益，整机增益G = G1+G2。本专利技术相对于现有技术具有如下的优点及效果无需在数字直放站设备中增加硬件模块，只需在数字直放站的FPGA模块内加入依据本专利技术方法设计的软件程序即可；从而无需额外增加设备的成本。附图说明图I是数字直放站的结构示意图2是本专利技术隔离度检测方法的流程图。具体实施例方式下面结合实施例及附图对本专利技术作进一步详细的描述，但本专利技术的实施方式不限于此。实施例I如图I所示，本专利技术隔离度检测方法所基于的数字直放站是现有技术中的，其包括施主天线端口(DT)、功率放大器(简称功放，PA)、变频模块、低噪音放大器(LNA)、数字处理模块、滤波器(FIR)、用户天线端口(MT);其中，数字处理模块包括依次连接的模数转换器(ADC)、FPGA模块及数模转换器(DAC)，FPGA模块内设有数控振荡器(NCO);施主天线端口用于与施主天线连接，用户天线端口用于与用户天线连接。在发射端，FPGA模块内部产生一直流信号，经数控振荡器(NCO)上变频为低频信号(da_inf)后送给数模转换(DA)芯片；在接收端，FPGA模块对模数转换(AD)芯片采样后的中频信号(ad_inf)通过数控振荡器(NCO)进行下变频变换搬移到O频，然后对O频信号进行48倍采样(分两级进行，先6倍采样，再8倍采样)，再经过通带为IOkHz的低通滤波器(LP)滤波，最后将统计到平均能量上报给监控系统，以便显示到调试软件界面上。本专利技术的直放站离线隔离度检测方法通过FPGA模块内嵌的软件来实现；采取离线检测方式，当设备进行隔离度检测状态时，监控系统控制直放站仅打开一个检测通道，其余通道全部关闭。由数字域产生一个直流信号，该信号经数字上变频模块(DUC)变频到中频，再经上变频变到射频后，由发送天线(TX天线)发射出去，发射的信号经空间后从接收天线(RX天线)接收回来，经射频前端下变频后变为中频，经数字下变频模块(DDC)变频最终又以直流的形式进入数字域。FPGA模块通过检测反馈信号的功率即可计算出系统当前的隔离度。当设备退出隔离度检测状态后，监控系统控制直放站再恢复正常工作时打开的通道，进行信号的放大。隔离度的计算公式推导如下设由数字域产生的点频功率为Ptjut，数字域后的增益为G2,数字域前增益为Gl,数字域接收到的反馈功率为Pin，收发天线的隔离度为IS0，数字域增益为G3，整机增益G。那么有ISO = Pout+Gl+G2-Pin .................................... 由于(G1+G2)与整机的增益有关系，所以公式①可变形为ISO = Pout+(G-G3)-Pin ....................................②上述核心的处理过程由FPGA模块来完成，如图2所示，FPGA模块内部的处理流程，包括如下步骤(I)通过监控系统，设置接收(应该为发射)信号的发射强度和发射频点；(2)对接收端所接收的接收信号进行下变频，得到下变频信号，借用主链路DDC通道对下变频信号做第一次下变频采样(在本实施中，为6倍下变频采样)，得到第一次采样信号;(3)接着对第一次采样信号进行第二次下变频采样(在本实施中，为8倍下变频采样)，得到第二次采样信号；4(4)滤除第二次采样中的干扰信号，得到(应该为恢复)发射信号；(5)对发射信号进行功率统计(应该为在接收端，对恢复的发射信号进行功率统计)；(6)将统计到的功率上报到监控系统；(7)监控系统通过发射信号的强度和接收信号的强度之差计算得到系统的隔离度；计算公式为上述公式②。这样，在本实施例中，所述第一次下变频采样、第二次下变频采样叠加后为48倍下变频采样。在本专利技术中，第一次下变频采样、第二次下变频采样只要满足采样定律即可，即要求FS/采样倍数> 2B(FS为AD转换器送给FPGA的速率，B为FPGA内部滤波器的带宽)，叠加后的采样倍数不限于48倍。上述实施例为本专利技术较佳的实施方式，但本专利技术的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本专利技术的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数字直放站离线隔离度检测的方法，其特征在于包括以下步骤：(1)设置接收信号的发射强度和发射频点；(2)对接收端所接收的接收信号进行下变频，得到下变频信号，对下变频信号做第一次下变频采样，得到第一次采样信号；(3)接着对第一次采样信号进行第二次下变频采样，得到第二次采样信号；(4)滤除第二次采样中的干扰信号，得到发射信号；(5)对发射信号进行功率统计；(6)将统计到的功率上报到监控系统；(7)监控系统通过发射信号的强度和接收信号的强度之差计算得到系统的隔离度。

【技术特征摘要】
1.一种数字直放站离线隔离度检测的方法，其特征在于包括以下步骤 (1)设置接收信号的发射强度和发射频点； (2)对接收端所接收的接收信号进行下变频，得到下变频信号，对下变频信号做第一次下变频采样，得到第一次采样信号； (3)接着对第一次采样信号进行第二次下变频采样，得到第二次采样信号； (4)滤除第二次采样中的干扰信号，得到发射信号； (5)对发射信号进行功率统计； (6)将统计到的功率上报到监控系统； (7)监控系统通过发射信号的强度和接收信号的强度之差计算得到...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐嘉俊，雷礼平，高杰，周良，
申请(专利权)人：京信通信系统中国有限公司，
类型：发明
国别省市：