【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光栅扫描分光
，尤其适合应用于分光光度计测量系统使用。
技术介绍
分光光度计，能直接记录波数或波长与透过率或吸收之间的关系。通过转动色散元件一光栅，使色散后的光谱按一定波数或波长间隔，依顺序通过相对于单色器出射狭缝辐射。 色散元件的转动和波数或波长为单位的光谱扫描，通常是非线性的。为了取得均匀线性的波数或波长的记录，一般通过余割棒机构或正弦棒机构线性化处理，来实现光谱的等波数或等波长的均匀速度的扫描得到记录的光谱图。但正弦棒或余割棒存在误差大、不够精密且机构复杂等缺点。本专利技术设计了一个简单、容易加工的凸轮来实现光谱扫描波长与凸轮旋转角度的线性变化，且其凸轮矢径也是随转动角度线性变化的。目前尚没有人提出这种方法来设计凸轮，这种方法设计的凸轮大大减少了加工的复杂程度，而且在加工过程中容易进行检测。本专利技术方法适用于任何由杠杆带动从动机转动的凸轮机构，但是由于点接触极易磨损，一般用于传力不大的低速机构。
技术实现思路
本专利技术的目的在于解决色散元件的转动与波长的非线性问题，提出一种实现线性化处理的简易凸轮机构设计方法，大大减小了加工复杂程度。本专利技术提供的分光光度计扫描机构包括，点接触凸轮、推杆、凹面衍射光栅、入射狭缝和出射狭缝；摆放位置如图I所示，入射狭缝和出射狭缝固定，推杆一端与安装凹面衍射光栅的光栅台中心固定并刚性连接，推杆另一端与凸轮相切接触，本专利技术的凸轮的矢径R与凸轮旋转角度Φ之间的关系为线性关系，使得凸轮加工复杂程度大大减小，关系式为Κ = 6 + {21/[(270/360)*2*π]*π*φ/1^0]，R为凸轮矢径...
【技术保护点】
一种分光光度计扫描机构，其特征在于该扫描机构中的点接触凸轮、推杆、凹面衍射光栅、入射狭缝和出射狭缝的相对位置；入射狭缝和出射狭缝固定，推杆一端与安装凹面衍射光栅的光栅台中心固定并刚性连接，推杆另一端与凸轮相切接触，其中凸轮的矢径R与凸轮旋转角度之间的关系为线性关系，在0？270度之间旋转，使得凸轮加工复杂程度大大减小；平行光束从入射狭缝入射到凹面衍射光栅，反射光从出射狭缝射出并由接收装置接收；将凸轮均匀转动，由推杆带动凹面衍射光栅转动，从而使出射光发生变化，根据凸轮的旋转角度位移和位置位移来设定凸轮轮廓线，使输出波长为线性变化。FDA00002425727900011.jpg
【技术特征摘要】
1.一种分光光度计扫描机构，其特征在于该扫描机构中的点接触凸轮、推杆、凹面衍射光栅、入射狭缝和出射狭缝的相对位置；入射狭缝和出射狭缝固定，推杆一端与安装凹面衍射光栅的光栅台中心固定并刚性连接，推杆另一端与凸轮相切接触，其中凸轮的矢径R与凸轮旋转角度P之间的关系为线性关系，在0-270度之间旋转，使得凸轮加工复杂...
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