【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及物位测量。本专利技术具体涉及一种物位计，即充填物位测量装置，用于确定回波曲线的回波的移动性值以及用于在考虑移动性值中的至少一个移动性值的情况下执行跟踪方法；本专利技术还涉及这样的物位计用于界面高度测量的使用、方法、程序单元以及机器可读介质。
技术介绍
在根据FMCW (调频连续波)或脉冲时间延迟原理工作的物位传感器中，朝向产品表面的方向发射电磁波或声波。随后，传感器记录由产品即填充介质、容器固定装置和容器本身所反射的回波信号，并根据所记录的回波信号来获得位于容器中的至少一种产品的表面的位置或定位。当使用声波或光波时，由物位计生成的信号通常朝向待测产品表面的方向自由传播。在使用雷达波来测量产品表面的装置中，雷达波可朝向待测介质的方向自由传播或者在将雷达波从物位计导向所述介质的中空波导装置的内部传播。在根据导向微波原理工作的装置中，高频信号沿着波导装置被导向所述介质。到达的信号在待测介质或产品的表面被反射并在相应的传送时间之后再次到达物位计。物位计接收在不同位置处反射的信号并确定物位计与产品的距离。所确定的与产品的距离被传送至外部位置。所述传送可以以例...
【技术保护点】
一种物位计，用于确定回波曲线的回波的移动性值以及用于在考虑所述移动性值中的至少一个移动性值的情况下执行跟踪方法，所述物位计包括：计算单元，所述计算单元用于在考虑第一回波曲线的第一回波的位置改变和所述第一回波曲线的另一个回波的位置改变的情况下确定所述第一回波曲线的第一回波的第一移动性值；其中，所述计算单元还被设计成执行跟踪方法，以对连续的回波曲线的由相同反射点引起的回波进行分组；其中，所述计算单元在考虑至少所述第一移动性值的情况下将在所述第一回波曲线之后获取的第二回波曲线的第二回波分配给特定迹线。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯蒂安·霍费雷尔，罗兰·韦勒，
申请(专利权)人：VEGA格里沙贝两合公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。