光谱纳米传感器测井系统和方法技术方案

使用纳米传感器来得到井下光谱测量值的测井系统和方法。可以把纳米传感器分散在进行流通、扩散或注入在井眼中的井眼流体（包括水泥泥浆）中。因为纳米传感器具有数量级为10nm到1000nm的直径，所以它们容易穿透到它们的载液可以到达的裂缝、孔和其它孔隙中。纳米传感器传送光源和记录介质以测量这些否则无法接近的区域中的光谱。然后恢复和分析纳米传感器以重建测量到的光谱，并且确定相关的材料特性。此外，光谱测量值可以显示地层和流体中某些元素和分子的存在，科学家从这些信息来确定地层流体和地层本身的组成和相。还可以使用某些触发标准来使纳米传感器测量值与特定位置、路径和/或事件相关联。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】有关串请的交叉参考本申请要求由Christopher Μ· Jones、Michael T. Pelletier、Jing (Cynthia) Shen和 Marian L. Morys 等于 2010 年 6 月 10 日提交的、题为 “OILFIELD SYSTEMS AND METHODSUSING SPECTROSCOPIC NAN0SENS0RS”的美国临时申请61/350，365的优选权，这里结合该文作为参考。
技术介绍
现代油田运营商要求访问与井下遇到的参数和条件有关的大量信息。这些信息一般包括井眼越过的地层信息的特性以及与井眼本身的大小和配置有关的数据。一般通过电缆测井、油管传输测井、和/或“边钻井边测井(LWD)”来执行通常称之为“测井”的、与井下条件有关的信息的收集。在这些方法的任何一个方法中，工具可以得到储层岩石和流体的·样品，在井眼中对它们进行分析，或把它们传送到地面进行分析。另一方面，使用声能、电磁信号、核辐射等，这些工具可以进行近井测量。这些技术中的每一种技术都受到各种限制。例如，取到地面上的样品可能保留了环境变化影响的历史(例如，使样品降质的压力和温度变化)。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.06.01 US 61/350,3651.一种测量地层性质的方法，所述方法包括 收集已经从地层经由流体流传送的纳米传感器； 测量纳米传感器状态以确定与所述地层有关的光谱性质；以及 报告从所述光谱性质中得到的地层数据。2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，还包括 在所述收集之前把所述纳米传感器引入到所述地层中。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括 当在所述地层中时使纳米传感器发射光，其中所述光与所述纳米传感器周围的环境相互作用，并且响应性地引起纳米传感器的状态变化。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述使纳米传感器发射光包括从与地层相近的井眼中的工具中发出电磁信号或声波信号。5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述使纳米传感器发射光包括提供时间释放膜，所述时间释放膜允许在预定延迟之后发生光致发光反应。6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述状态变化发生在感光分子中。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述感光分子通过发色团而具有窄带灵敏度。8.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述测量包括使用过滤器或离心机从流体中分离出纳米传感器。9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述测量还包括用电子自旋共振来探测纳米传感器中的感光材料。10....

【专利技术属性】
技术研发人员：C·M·琼斯，申静，M·T·佩勒莱特，M·L·毛瑞斯，
申请(专利权)人：哈里伯顿能源服务公司，
类型：
国别省市：