采用自比量尺的测验系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了一种采用自比量尺的测验系统及其方法，该系统包括用于产生具有题目、量尺及位于该量尺上的多个卷标的测验试题的试题模块，使该多个卷标于该量尺上移动，并依据该题目将各该卷标移动至该量尺上对应的位置的作答模块，以及记录各该卷标所对应的位置而成为落点信息的记录模块，其中，该落点信息用于比较单一受试者或不同受试者间对该测验试题的各该卷标之间的关联性。因此，经测验后不仅可提供受试者自身或者多位受试者之间对测试结果作分析，同时减少测验作假情况以及难以分析等现有缺陷。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种采用自比量尺的测验系统及其方法，且特别涉及一种可分析测验内容对于受试者本身或受试者间的影响程度的测验系统及其方法。
技术介绍
为了知悉每个人的思想与个性，可通过如情意测验、人格测验或市场调查问卷等测验达到目的，传统上多采用李克特氏点量尺(Likert scale)作为测验工具，借由受测结果以得知受试者特质。对于业界人才甄选时，传统问卷常以李克特氏点量尺的形式来供受试者作答，如图5A所示，其为表示采用李克特氏自陈量表的问卷题目的示意图，其中，受试者依喜好程度而给予各选项评分，其中有I 6分可供选择，然而实务上测验分数可能影响后续决策，·例如受试者对于某选项喜好程度低而无法录取，因而在该自陈量表作答时容易产生作假情况，也就是受试者可能依据甄选职务的需求，而将备受期待特质的选项高分以增加竞争优势，如此使得测验无法反应真实情况。为避免前述受试者作假情况，目前实务上还采用另一种自比式试题(ipsativeitem)作为测验工具，如图5B所示，其为表示采用自比式试题的问卷题目的示意图，其中，受试者需于两选项间比较出优劣顺序，相较于前述采用自陈量表时，受试者可能对于所有选项给予高分，但自比式试题强迫受试者需区分出各选项的优劣，如优者得一分而劣者得零分，再统计每一选项总分以分出相较高低，若要作假，需确定每一个选项重要性及排序才能作假，因而利用自比式试题确实可降低受试者作假情况，但此种自比式试题仍然有两个问题，第一是计分结果仅能解释该受试者各选项(即应受试者内在特质)的优劣顺序，但无法用于受试者之间的比较，第二是其得分无法进行因素分析，由于自比式试题中不同选项(特质)间互依性太强，使得每一受试者所有选项的加总分数一样，如图5C所示，不同受试者在自比式试题测验后仅能知悉各受试者对于各选项喜好程度，但无法说明两受试者对于同一选项的喜好程度高低，例如该图仅能说明受试者A对看电影的喜好程度优于看展览，而不能解释受试者A看电影的喜好程度优于受试者B看电影的喜好程度，因而在解释各特质间比较时会产生极大困难。因此，现行无论是采用自陈量表或者自比式试题进行测验皆有其缺点，在期望测验结果具高可信度及可供因素分析的需求下，如何找出一种更完善测验系统，不仅可测验出受试者内在特质的强弱，更可用于比较不同受试者间同一特质的强度大小，此仍属本领域的技术人员所应努力的目标。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提出一种采用自比量尺的测验系统及其方法，通过结合李克特氏自陈量表与自比式试题的特性，而产生可分析测验内容对于单一受试者或不同受试者影响的测验试题。为达成前述目的及其它目的，本专利技术提供一种采用自比量尺的测验系统，其包括试题模块，用于产生测验试题，而该测验试题具有题目、一量尺及位于该量尺上的多个卷标；作答模块，用于提供该多个卷标在该量尺上移动，以由受试者依据该题目移动各该卷标至该量尺上对应的位置；以及记录模块，用于记录各该卷标于该量尺上所对应的位置而成为落点信息，其中，该落点信息用于比较单一受试者或不同受试者间对该测验试题的各该卷标之间的关联性。于一实施例中，该落点信息包括记录各该卷标于该量尺上所在位置的坐标数据以及记录各该卷标间先后顺序的次序数据。于一较佳实施例中，本专利技术的采用自比量尺的测验系统还包括分析模块，用于计算任一卷标的落点信息，以得到该卷标于该测验试题的强度值。此外，该关联性是指该分析模块依据各该卷标的强度值产生各该卷标的强度值，以得到各该卷标对该单一受试者的强度关系，以及同一卷标于所述多个不同受试者间的强度关系。·此外，本专利技术又提出一种采用自比量尺的测验方法，其包括以下步骤1)产生具有题目、一量尺及位于该量尺上的多个卷标的测验试题；2)依据该题目将各该卷标移动至该量尺上对应的位置；3)记录各该卷标于该量尺上所对应的位置以成为各该卷标的落点信息；以及4)分析所述多个落点信息，以用于比较单一受试者或不同受试者间对该测验试题的各该卷标之间的关联性。相较于现有技术，本专利技术所述的采用自比量尺的测验系统及其方法，其测验试题是结合李克特氏自陈量表与自比式试题两者的特性而形成，其测验结果具有较高可信度，不仅可用决定受试者内在特质的强弱，同时可用于相异受试者之间对同一特质的比较，此为现有自陈量表或自比式试题的测验方式所无法达到，因而，采用本专利技术的测验方式可得到具分析价值的测验结果，同时可分析出测验试题的测验内容对于受试者的影响程度。附图说明图I为本专利技术采用自比量尺的测验系统的系统架构图；图2为本专利技术所述采用自比量尺的测验系统的一实施例的量尺与卷标的示意图；图3为本专利技术采用自比量尺的测验方法的步骤流程图；图4A至图4C为采用自比量尺的测验系统所产生的问卷题目及作答记录的示意图；图5A用于说明采用李克特氏自陈量表的问卷题目的示意图；图5B及图5C用于说明采用自比式试题的问卷题目的示意图。其中，附图标记说明如下I :采用自比量尺的测验系统；10 :试题模块；11:作答模块；12 :记录模块；13 :分析模块；20、40 :量尺；21、41:卷标；42 :叙述选项；100 :受试者；S301 S304 :步骤。具体实施例方式以下借由特定的具体实施例说明本 专利技术的
技术实现思路
，熟悉此技艺的人士可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本专利技术的其它优点与功效。本专利技术也可借由其它不同的具体实施例加以施行或应用。请参阅图1，其为本专利技术采用自比量尺的测验系统的系统架构图。如图所示，该采用自比量尺的测验系统I是结合自陈量表与自比式试题的特性而形成的测验系统，该采用自比量尺的测验系统I包括试题模块10、作答模块11以及记录模块12。于此须说明的是，前述采用自比量尺的测验系统I可应用于计算机等数据处理设备中予以执行，用于提供如职场测验、性向测验、兴趣测验、人格测验或市场调查问卷等特质测验或调查，然而，本专利技术的采用自比量尺的测验系统I其技术特征在于测验方式及测验结果，故并无需局限该采用自比量尺的测验系统I的用途。试题模块10用于产生测验试题，而该测验试题具有题目、一量尺及位于该量尺上的多个卷标。具体来说，该试题模块10用于产生供受试者100作答的测验试题，有别于现有的自陈量表仅对各选项填入分数，或是现有的自比式试题仅能于两选项择一给分的测验方式，该试题模块10所提供的测验试题包括题目、一量尺以及位于该量尺上的多个卷标，其中，题目表示试题内容，该量尺为不含刻度的连续轴，因而该量尺任一点皆可为卷标的落点，其两端代表最高和最低的分数、程度或意愿，而测验试题内还有多个不同叙述选项让受试者100进行作答，而各该卷标即对应所述多个叙述选项，换言之，量尺上的多个卷标表示其对应的叙述选项，而受试者100可通过所述多个卷标进行作答。作答模块11用于提供该多个卷标在该量尺上移动，以由受试者100依据该题目移动各该卷标至该量尺上对应的位置。如前所述，试题模块10所提供测验试题具有量尺及多个卷标，而受试者100可由该题目内容，来移动在量尺上对应所述多个叙述选项的多个卷标，其移动方式通过拖曳所述多个卷标来达成，以使各该卷标移动至量尺上适当位置，由于该量尺两端表示最高和最低的程度，故，受试者100可依自身想法而进行作答。记录模块12用于记录各该卷标于该量尺上所对应的位置而成为落本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用自比量尺的测验系统，其特征在于，包括：试题模块，其用于产生测验试题，而该测验试题具有题目、一量尺及位于该量尺上的多个卷标；作答模块，其用于提供该多个卷标在该量尺上移动，以由受试者依据该题目移动各该卷标至该量尺上对应的位置；以及记录模块，其用于记录各该卷标于该量尺上所对应的位置而成为落点信息，其中，该落点信息用于比较单一受试者或不同受试者间对该测验试题的各该卷标之间的关联性。

【技术特征摘要】
1.一种采用自比量尺的测验系统，其特征在于，包括 试题模块，其用于产生测验试题，而该测验试题具有题目、一量尺及位于该量尺上的多个卷标； 作答模块，其用于提供该多个卷标在该量尺上移动，以由受试者依据该题目移动各该卷标至该量尺上对应的位置；以及 记录模块，其用于记录各该卷标于该量尺上所对应的位置而成为落点信息，其中，该落点信息用于比较单一受试者或不同受试者间对该测验试题的各该卷标之间的关联性。2.根据权利要求I所述的采用自比量尺的测验系统，其特征在于，该测验试题内包括多个不同叙述选项，而各该卷标对应所述多个叙述选项。3.根据权利要求I所述的采用自比量尺的测验系统，其特征在于，该量尺为不含刻度的连续轴，且该记录模块是以像素为单位来记录该卷标的该落点信息。4.根据权利要求I所述的采用自比量尺的测验系统，其特征在于，该落点信息包括记录各该卷标于该量尺上所在位置的坐标数据以及记录各该卷标间先后顺序的次序数据。5.根据权利要求I所述的采用自比量尺的测验系统，其特征在于，该系统还包括分析模块，用于计算任一卷标的落点信息，以得到该卷标于该测验试题的强度值。6.根据权利要求5所述的采用自比量尺的测验系统，其特征在于，该关联性是指该分析模块依据各该卷标的强度值产生各该卷标对该单一受试者的强度关系，以及同一卷标于所述多个不同受试者间的强度关系。7.根据权利要求I所述的采用自比量尺的测验系统，其特征在于，该作答...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋曜廷，
申请(专利权)人：宋曜廷，
类型：发明
国别省市：