一种基于准直光路的角秒级三维变形测量装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于准直光路的角秒级三维变形测量装置及方法。装置由发射模块、接收模块和处理模块构成，发射模块由光源、光阑和发射光学系统构成，光源和光阑的中心都在发射光学系统的光轴上；光阑的透光部分采用直线结构；接收模块由接收光学系统和面阵探测器构成，面阵探测器位于接收光学系统的焦平面上，其中心位于接收光学系统的光轴上；处理模块中安装了变形解算软件。测量方法是发射光学系统将透过光阑的光束准直发射到接收模块，接收光学系统将光束会聚到面阵探测器上，面阵探测器将光束转换成光阑图像，变形解算软件根据光阑图像计算三维变形。采用本发明专利技术能同时测量方位角、俯仰角和横滚角变形，精度高，能实现角秒级三维变形测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学变形测量
，特别涉及。
技术介绍
光学变形测量技术可广泛用于大型运动平台变形测量和高精度姿态基准传递等方面，具有测量精度高、直接测量、稳定性好等优点。目前的光学变形测量大多采用准直光路方法实现。中国专利CN97251378. 7、美国专利US7227627、《中国惯性技术学报》杂志2006年第3期中“一种舰船变形测量方法的研究与应用”和《长春理工大学学报》杂志2006年第 3期中“车载平台变形的激光自准直测量方法研究”论文公开了一类基于自准直光路、平面反射镜和面阵CXD (Charge Coupled Device，电荷耦合器件)的二维变形测量装置，该装置如图I所示，主要由光源I、光阑2、分光镜3、面阵CCD探测器4、光学系统5和平面反射镜6构成。该装置可以实时测量两个载体之间的相对变形，为了方便起见将其中一个载体称为待测物，另外一个载体称为参考基准。可将该测量装置的平面反射镜6与待测物固连，其余部分与参考基准固连，反之亦然。这种测量装置的测量光学变形的方法是利用光源I照射光阑2，透过光阑2的光部分透过分光镜3，然后通过光学系统5对光阑2进行成像，所成的光阑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于准直光路的角秒级三维变形测量装置，其特征在于三维变形测量装置由发射模块(33)、接收模块(34)和处理模块(35)三大部分构成，发射模块(33)与参考基准(23)固连，接收模块(34)与待测物(22)固连，发射模块(33)与接收模块(34)之间能够通视，发射模块(33)发射的光束直接进入接收模块(34)；发射模块(33)由光源(1)、光阑(2)和发射光学系统(31)构成，光源(1)、光阑(2)和发射光学系统(31)固定在参考基准(23)上；光阑(2)位于光源(1)和发射光学系统(31)之间，且位于发射光学系统(31)的焦平面上，光源(1)和光阑(2)的中心都在发射光学系统(31)的光轴...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：胡春生，王省书，秦石乔，周金鹏，高旸，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：