功率测试电路制造技术

技术编号:8241037 阅读:156 留言:0更新日期:2013-01-24 21:25
一种功率测试电路,用于测试中央处理器和内存储器的功率,该功率测试电路包括一第一开关单元、一第二开关单元、一显示单元和一处理模块,该处理模块与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一和第二开关单元连。上述功率测试电路通过该处理模块自动测试该中央处理的功率或该内存储器的功率,效率高且误差小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种功率测试电路,特别涉及一种中央处理器和内存储器的功率测试电路。
技术介绍
主板系统测试包括中央处理器功率测试以及内存储器功率测试,现有技术一般通过万用表手动测试数据,再通过相关公式计算出中央处理器和内存储器的功率,该种方法误差大且效率低。
技术实现思路
鉴于以上内容,有必要提供一种可自动测试该中央处理器功率及内存储器功率的 功率测试电路。一种功率测试电路,应用于测试一中央处理器和一内存储器的功率,该功率测试电路包括 一第一开关单元包括第一端和接地的第二端,当该第一开关单元的第一端与该第二端相连时,该功率测试电路测试该中央处理器的功率,当该第一开关单元的第一端与该第二端断开时,该功率测试电路测试该内存储器的功率; 一显示单元,用于显示该功率测试电路的待显示数据;以及 一处理模块,与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一开关单元的第一端相连,该处理模块用于即时获取该中央处理器和该内存储器的电压和电流,并将所获取的该中央处理器的电压和电流处理后输出一第一功率显示信号至该显示单元以显示该中央处理器的功率,或将所获取的该内存储器的电压和电流处理后输出一第二功率显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种功率测试电路,应用于测试一中央处理器和一内存储器的功率,该功率测试电路包括:一第一开关单元包括第一端和接地的第二端,当该第一开关单元的第一端与该第二端相连时,该功率测试电路测试该中央处理器的功率,当该第一开关单元的第一端与该第二端断开时,该功率测试电路测试该内存储器的功率;一显示单元,用于显示该功率测试电路的待显示数据;以及一处理模块,与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一开关单元的第一端相连,该处理模块用于即时获取该中央处理器和该内存储器的电压和电流,并根据所获取的该中央处理器的电压和电流计算出该中央处理器的功率并通过该显示单元显示,或根据所获取的该内存储器的电压和电流计算出该...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:付迎宾葛婷潘亚军
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业深圳有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1