【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种消减ICP-MS测定中汞记忆效应的方法，该方法是对ICP-MS测定过程的一种优化，用于提高ICP-MS测定汞含量与汞同位素比值的准确度。
技术介绍
汞作为一种常见的环境重金属污染物正越来越受到人们的关注，与汞相关的报道不断出现，人们除了希望了解环境中汞含量的情况外，更多地开始对汞同位素比值进行研究。通过利用汞同位素比值的研究结果，人们可以进行环境中痕量汞的精确测定、利用同位素比值示踪法寻找汞在环境中的来源及迁移转化规律等。这些研究对认识环境中汞迁移转化机理、弄清汞污染来源、解决环境中汞污染问题等具有重要贡献。有关汞的研究主要存在的问题之一是对汞含量和汞同位素比值的测定。目前对汞·含量的测定一般使用冷原子荧光法或冷原子吸收法，对汞同位素比值的测定则使用ICP-MS(电感耦合等离子质谱仪)。ICP-MS对汞元素的测定结果经常不准确，这是因为汞在测试过程中存在记忆效应的严重干扰。汞记忆效应是指含汞样品进入测试仪器后会在进样系统中出现汞残留情况，影响下一个样品的汞数据采集。当ICP-MS测完一个样品后会进入一个清洗阶段，仪器吸取清洗液冲洗进样系统。一般...
【技术保护点】
一种消减ICP？MS测定中汞记忆效应的方法，包括对ICP？MS测定中的管路清洗过程进行优化改进，其特征在于，所述清洗过程是先通入5%硝酸冲洗管路20s，再通入10mg/L？EDTA？二钠冲洗管路40s；在进入样品测试阶段时，控制待测试样品汞浓度范围在0.005~0.05mg/L？。
【技术特征摘要】
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