自动加电导通和自动检测的调试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动加电导通和自动检测的调试设备，包括工控机模块和光耦合器，所述工控机模块与光耦合器相连接；工控机模块包括工控机、工控机采集点、控制芯片、电缆总线及控制箱，所述控制箱与光耦合器相连接工控机及工控机采集点的总和分别通过电缆总线与控制芯片相连接。本实用新型专利技术可以在被测电路通电状态下的导通、断开、及测量点之间电压值的检测，通过自动加电导通的控制电路，自动检测电路，I/O切换电路，本实用新型专利技术设计了通用控制电路和通用采集电路，然后由工控机控制，实现自动检测、自动生成数据报表，大大提高了检测效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种加电导通检测的调试设备,具体是一种自动加电导通和自动检测的调试设备。
技术介绍
目前市场上常见同类型调试设备针对产品的加电导通检测由开关、指示灯、外接电源组成的简单工具，手动操作完成。这种调试设备虽然测试简单，但效率低下
技术实现思路
·本技术针对现有技术中存在的上述不足，提供了一种自动加电导通和自动检测的调试设备。本技术是通过以下技术方案实现的。—种自动加电导通和自动检测的调试设备，包括工控机模块和光稱合器，所述工控机模块与光耦合器相连接。所述工控机模块包括工控机、工控机采集点、控制芯片、电缆总线及控制箱，所述控制箱与光耦合器相连接，所述工控机及工控机采集点的总和分别通过电缆总线与控制芯片相连接。所述控制芯片包括第一控制芯片、第二控制芯片、第三控制芯片和第四控制芯片，所述电缆总线包括工控机地址总线、采集总线、控制总线、输出总线、第一扩展后地址总线及第二扩展后地址总线，其中，所述工控机通过工控机地址总线与第一控制芯片相连接，所述第一控制芯片分别通过第一扩展后地址总线和第二扩展后地址总线与第二控制芯片和第三控制芯片相连接，所述第二控制芯片通过采集总线与工控机相连接，所述工控机通过控制总线与第三控制芯片相连接，所述第三控制芯片通过输出总线与第四控制芯片相连接，所述工控机采集点的总和与第二控制芯片相连接。所述第一控制芯片为IC4515/4514，所述第二控制芯片和第四控制芯片均为IC244，所述第三控制芯片为IC75。所述控制箱包括稳压电源、调试印制板、控制箱面板及控制箱后板，所述稳压电源与光耦合器相连接，所述调试印制板设置在控制箱面板和控制箱后板之间。所述控制箱面板上设有电源开关及加电开关；所述控制箱后板设有电源插座、控制/采集插座。所述工控机采用专用数据采集卡并使用LabView软件编程。软件提供操作界面，提供了全自动检测和单步手动检测的切换按钮。所述光稱合器包括第一光稱合器和第二光稱合器，其中，所述工控机模块发出的控制命令信号通过第一电阻与第一光耦合器相连接，所述第一光耦合器包括第一输出点和第二输出点，其中，所述第一输出点与电源正端、电源地或被测电路相连接，所述第二输出端与被测电路相连接；所述电源和工控机模块的工控机采集点分别与第二光耦合器相连接，所述第二光耦合器分别连接第二电阻和第三电阻，所述第二光耦合器包括第一输入点和第二输入点，所述第一输入点和第二输入点分别连接被测电路的检测点。所述电源的电压为+5V。本技术可以在被测电路通电状态下的导通、断开、及测量点之间电压值的检测。本技术的主要要点为自动加电导通的控制电路；自动检测电路；1/0切换电路。本技术设计了通用控制电路和通用采集电路，然后由工控机控制，实现自动检测、自动生成数据报表,大大提高了检测效率。附图说明图I为是本技术的自动加电、自动导通的控制电路原理图；图2为本技术的自动检测电路原理图；图3为本技术的I/O切换电路原理图；图中，I为第一电阻，2为第二电阻，3为第三电阻，4为第一光耦合器，5为第二光耦合器，6为电源,7为第一输出点,8为第二输出点,9为第一输入点，10为第二输入点，11为工控机地址总线，12为第一扩展后地址总线，13为第二扩展后地址总线，14为采集总线，15为控制总线，16为输出总线，17为工控机采集点，18为工控机采集点的总和，19为控制命令信号的总和。具体实施方式下面对本技术的实施例作详细说明本实施例在以本技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本技术的保护范围不限于下述的实施例。本实施例包括工控机模块和光耦合器，其中，工控机模块与光耦合器相连接。工控机模块包括工控机、工控机采集点17、控制芯片、电缆总线及控制箱，所述控制箱与光耦合器相连接，所述工控机及工控机采集点17的总和分别通过电缆总线与控制芯片相连接。控制芯片包括第一控制芯片、第二控制芯片、第三控制芯片和第四控制芯片，电缆总线包括工控机地址总线11、采集总线14、控制总线15、输出总线16、第一扩展后地址总线12及第二扩展后地址总线13，其中，工控机通过工控机地址总线11与第一控制芯片相连接，第一控制芯片分别通过第一扩展后地址总线12和第二扩展后地址总线13与第二控制芯片和第三控制芯片相连接，第二控制芯片通过采集总线14与工控机相连接，工控机通过控制总线15与第三控制芯片相连接，第三控制芯片通过输出总线16与第四控制芯片相连接，所述工控机采集点的总和19与第二控制芯片相连接。光稱合器包括第一光稱合器4和第二光稱合器5,其中，工控机模块发出的控制命令信号通过第一电阻I与第一光稱合器4相连接,第一光稱合器4包括第一输出点7和第二输出点8,其中,第一输出点7与控制箱的稳压电源正端、电源地或被测电路相连接,第二输出点8与被测电路相连接；电源6和工控机模块的工控机采集点17分别与第二光耦合器5相连接，第二光稱合器5分别连接第二电阻2和第三电阻3,第二光稱合器5包括第一输入点9和第二输入点10，第一输入点9和第二输入点10分别连接被测电路的检测点。在本实施例中工控机采用专用数据采集卡并使用LabView软件编程。第一控制芯片为IC4515/4514，第二控制芯片和第四控制芯片均为IC244，第三控制芯片为IC75。 控制箱包括稳压电源、调试印制板、控制箱面板及控制箱后板，所述稳压电源与光耦合器相连接，所述调试印制板设置在控制箱面板和控制箱后板之间。控制箱面板上设有电源开关及加电开关；控制箱后板设有电源插座、控制/采集插座。稳压电源的电压为+5V。更为具体地如附图I所示，第一输出点7接电源正端，第二输出点8接被测电路，实现对被测电路的加电控制；第一输出点7接电源地，第二输出点8接被测电路，实现对被测电路的接地控制；第一输出点7和第二输出点8都接被测电路，实现对被测电路的导通控制该导通是指在通电意义下的导通。如附图2所示，第一输入点9和第二输入点10接被测电路的检测点，工控机采集点17的电压高低状态代表了被测电路的导通或断开状态。如附图3所示，，第一扩展后地址总线12和第二扩展后地址总线13为工控机地址总线11经过第一控制芯片IC4515/4514扩展后的地址总线，输出总线16为控制总线经过第三控制芯片IC75锁存后的输出，工控机采集点的总和18为图2中的工控机采集点17的总和，控制命令信号的总和19为图I中控制命令信号的总和。具体应用中，此I/O切换电路实现了由5根地址线、2根控制线、4根采集线，来发出30个控制命令、采集60个点的状态信号。以上对本技术的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本技术并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本技术的实质内容。权利要求1.一种自动加电导通和自动检测的调试设备，其特征在于，包括工控机模块和光耦合器，所述工控机模块与光耦合器相连接。2.根据权利要求I所述的自动加电导通和自动检测的调试设备，其特征在于，所述工控机模块包括工控机、工控机采集点、控制芯片、电缆总线及控制箱，所述控制箱与光耦合器相连接，所述工控机及工控机采集点的总和分别通过电缆总线与控制芯片相连接。3.根据权利本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动加电导通和自动检测的调试设备，其特征在于，包括工控机模块和光耦合器，所述工控机模块与光耦合器相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：祁峰，黄瑞华，
申请(专利权)人：上海航天设备制造总厂，
类型：实用新型
国别省市：