利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置制造方法及图纸

技术编号:8190268 阅读:175 留言:0更新日期:2013-01-10 01:23
本发明专利技术提供一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,包含一光源、一第一佛氏透镜、一第二佛氏透镜、一受光组件及一镜筒;第一佛氏透镜与第二佛氏透镜平行设置于镜筒内。藉此,可使光源透过第一佛氏透镜发出平行光源至第二佛氏透镜上,再由第二佛氏透镜将光源集中聚光照射于受光组件上,达到有效测试受光组件各项光电特性之效果。

【技术实现步骤摘要】
利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置
本专利技术涉及一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,尤指一种尤指一种利用镜筒与佛氏透镜的设置,可将光源集中聚光照射于受光组件上,达到有效测试受光组件之各项光电特性者。
技术介绍
一般习用受光组件检测装置,通常由一受光组件,以及一以适当之距离设置于对应受光组件一面上之光源模块所构成;可藉由调整该受光组件与该光源模块间之距离,使该光源模块发出之平行光照射于受光组件上,达到测试受光组件各项光电特性之效果。虽然上述习用之受光组件检测装置可测试受光组件之各项光电特性,但是由于进行光源照射时,系受限于该光源模块之光照射情形,因此该光源模块于设置时,必须与受光 组件间形成较远之距离,才能使该光源模块于照射时具有仿真平行光之效果,故造成设定光源模块之光照射距离过远及光照射位置不易对位等问题。且由于光照射距离过远,会导致光源强度衰减情况严重,大部份光源将无法集中照射于受光组件上,除非大幅提高光源之强度,否则测试工作将难以施行;而且为配合该光源模块之光照射情形及达到模拟平行光之效果,该整套受光组件检测装置与待测之受光组件间须使用相当大的空间,因此,导致测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用佛氏透镜聚焦的镜筒式受光组件检测装置,其特征在于其包含:一光源;一镜筒;一第一佛氏透镜,设置于所述镜筒内,所述第一佛氏透镜具有一同心圆折射面与一平面,所述同心圆折射面对应于所述光源设置;一第二佛氏透镜,设置于所述镜筒内,所述第二佛氏透镜具有一同心圆折射面与一平面,所述平面对应于所述第一佛氏透镜的平面平行设置;一受光组件,对应朝向于所述第二佛氏透镜的同心圆折射面设置;藉此,所述光源依序通过所述第一佛氏透镜的同心圆折射面、平面发出平行光线至所述第二佛氏透镜的平面,再由所述第二佛氏透镜的同心圆折射面将光源集中聚光照射于所述受光组件上,达到有效测试受光组件各项光电特性之效果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张旻郁
申请(专利权)人:昆山洺九机电有限公司
类型:发明
国别省市:

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