一种用于测试放射性样品的样品室制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于测试放射性样品的样品室，该样品室置于上铅室和下铅室之间，该样品室包括抽板组件、导板组件以及暗盒组件；所述抽板组件主要由抽板和位于抽板端部的盖板组成；所述导板组件为凹形结构，其凹陷部位称为导槽；所述暗盒组件为一端开口的立体空心结构；上述各结构的连接关系：导板组件的上表面与上铅室的下表面固连，从而使导槽上方被上铅室下表面覆盖，导板组件下表面与下铅室固连；暗盒组件开口端固连于上、下铅室的后壁上，并使暗盒组件上的空心腔与导槽的末端相通；抽板设于导槽中，抽板组件前端的盖板位于导槽的前端，且盖板的高度大于导槽的高度。本实用新型专利技术样品室可满足厚样品和薄样品的测量。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于测试放射性样品的样品室，属于放射性测量

技术介绍
目前，采用铅室屏蔽反符合技术的“低本底α/β测量仪”是用于测量放射性样品总α和总β活度的装置。它由屏蔽铅室、低本底α/β测量仪和计算机构成，低本底α/β测量仪和计算机之间用电缆和数据线连接。屏蔽铅室由样品室、上铅室和下铅室组成；样品室居中间，用于放置被测样品；上铅室内装有用于测量样品的主探测器，下铅室内装有屏蔽探测器(又称反符合探测器)，用于屏蔽宇宙射线；低本底α/β测量仪的功能主要是给铅室内探测器提供高、低压电源、采集被测样品数据并通过接口和数据线送到计算机；计算机通过专用软件按程序操作执行低本底α/β测量仪的运行和数据处理、结果显示等。该装置具有本底低、灵敏度高、样品室结构适用薄样法制样测量的特点。 薄样法制样测量，样品需经过灰化、蒸发、称重等制样流程，使用的设备多、制样周期长。在战时核条件下或核事故或突发核事件的场景，短时间内难以完成大批量放射性样品的测量。基于核条件下或核事故或突发核事件场景的放射性污染控制水平和行动水平目标，可以采用厚样法测量样品比活度，其主要优点是放射性均匀分布的样品不需灰化、本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试放射性样品的样品室，该样品室置于上铅室和下铅室之间，其特征在于：该样品室包括抽板组件、导板组件以及暗盒组件；所述抽板组件主要由抽板和位于抽板前端的盖板组成；所述导板组件为凹形结构，其凹陷部位称为导槽；所述暗盒组件为一端开口的立体空心结构；上述各结构的连接关系：导板组件的上表面与上铅室的下表面固连，从而使导槽上方被上铅室下表面覆盖，导板组件下表面与下铅室固连；暗盒组件开口端固连于上、下铅室的后壁上，并使暗盒组件上的空心腔与导槽的末端相通；抽板设于导槽中，抽板组件前端的盖板位于导槽的前端，且盖板的高度大于导槽的高度；抽板上设有圆形阶梯孔，所述阶梯孔的高度为15mm，所述导板组件的厚度为...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈春霞，沈庭云，南宏杰，曹剑锋，沈春燕，
申请(专利权)人：中国人民解放军防化学院，山东金瑞达环保科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：