一种不受机内温度影响的测温结构制造技术

技术编号:8147820 阅读:233 留言:0更新日期:2012-12-28 17:10
本实用新型专利技术涉及温度测量技术领域,具体是一种不受机内温度影响的测温结构,包括面板上盖、面板下盖、侧板,其特征在于所述的面板上盖和面板下盖之间构成封闭的隔热腔,所述的隔热腔内设有温度传感器,隔热腔一侧的侧板上设有若干个对流孔。本实用新型专利技术使测温元器件与机壳内部完全隔绝开来,是一种不受机壳内温度影响的测温结构,避免了因装置内部电子元器件的发热而使测量值与实际温度产生的偏差。本实用新型专利技术使CPU采集到的数据不受机壳内部温度的影响,从而降低测温装置自身的检测误差,保证了测温装置的精确性,不增加生产成本。本实用新型专利技术的数据可靠,经济实用,有一定的市场应用前景。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

—种不受机内温度影响的测温结构本技术涉及温度測量
,具体是ー种不受机内温度影响的测温结构。测温装置是广泛应用于各个领域的不可缺少的装置,在家庭中,空调内的测温装置可测出房间内实际温度,当达到指定温度时便暂停工作;在エ业上,ー些存放危险化学品的仓库中都必须设有测温装置,实时显示当前温度,以免燃点低的化学品在温度过高后发生自燃或爆炸等现象。因此,测温装置对于人类生活是不可或缺的。但是现有技术中测温结构的测温区和装置内部的电子元器件并不能完全隔离,这样变导致了测量结构在测量温度时会受到周围电子元器件自身发热的影响而导致测量结果不精准,容易产生误差。而为了克服这种不能将测温区与内部电子元件完全隔离的缺陷, 往往都需要额外增加辅助装置,这样便増加了设备的成本,不够经济实用。本技术的目的就是为了解决现有技术中的不足,提供一种测量数据精准可靠、经济实用的不受机内温度影响的测温结构。为实现上述目的,提供一种不受机内温度影响的测温结构,包括面板上盖、面板下盖、侧板,其特征在于所述的面板上盖和面板下盖之间构成封闭的隔热腔,所述的隔热腔内设有温度传感器,隔热腔一侧的侧板上设有若干个对流孔。所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种不受机内温度影响的测温结构,包括面板上盖、面板下盖、侧板,其特征在于所述的面板上盖和面板下盖之间构成封闭的隔热腔,所述的隔热腔内设有温度传感器,隔热腔一侧的侧板上设有若干个对流孔。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈良李春晖王攀峰
申请(专利权)人:施勒智能建筑系统上海有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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