一种用于测量坩埚厚度的卡尺制造技术

技术编号:8147559 阅读:171 留言:0更新日期:2012-12-28 15:53
本实用新型专利技术公开了一种用于测量坩埚厚度的卡尺,包括主尺、固定连接于主尺的一端部的固定测量爪、以及与固定测量爪配合设置、沿主尺滑动的滑动测量爪;主尺上设置有衡量滑动测量爪移动位移的刻度尺,且两测量爪可闭合与主尺形成框型结构,当对坩埚的厚度进行测量时,滑动测量爪沿主尺滑动,两者形成一开口,坩埚的侧壁或底壁可自开口处进入框型结构内部,并被夹紧;卡尺能够直接卡住被测面,并且从主尺上设置的刻度尺上直接读取被测面的数值,与现有技术的间接测量相比,本实用新型专利技术提供直接测量的方式,可以减少间接测量的误差,提高测量精度,并且观察直观、使用方便,简化测量程序,提高了测量效率。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量工具
,特别涉及一种用于測量坩埚厚度的卡尺。
技术介绍
在多晶铸锭生产中,坩埚是必不可少的消耗型材料,价格昂贵且一次性使用。坩埚的主要作用是盛放硅料,在铸锭炉中通过加热器加热,硅料会在坩埚内经历由固态到液态再到固态的相变过程。由于硅料完全熔化时温度较高(1560°C ),而石英坩埚一般在超过1200°C时就会变软,如果坩埚没有足够的厚度以及外部支撑,坩埚很容易发生破裂导致硅液泄漏,漏硅是非常严重的生产事故,不仅会造成较大的经济损失,甚至会威胁到人身安全。因此在铸锭生产中对坩埚的尺寸有着严格的要求。其中,坩埚的侧壁中下部以及底部是 主要的受カ部位,生产中应严格检查这些部位的厚度情況。现有技术中对坩埚侧壁以及底部的厚度的測量主要采用以下方法首先将坩埚放置在ー个水平工作台上,然后选取一个基准件,先将基准件放置在工作台上,測量坩埚上沿儿水平线与基准件交点到工作台的距离,再将基准件放在坩埚内,測量坩埚上沿儿水平线与基准件交点到坩埚底部内表面的距离,最后求出两个距离之差,即为该部位的厚度。上述采用直尺在水平面測量外表面和内表面的高度差的方法,为间接的測量方法,寻找坩埚上沿儿本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量坩埚厚度的卡尺,其特征在于,包括主尺(1)、固定连接于所述主尺(1)的一端部的固定测量爪(3)、以及与所述固定测量爪(3)配合设置、沿所述主尺(1)滑动的滑动测量爪(2);所述主尺(1)上设置有衡量所述滑动测量爪(2)移动位移的刻度尺(11),且两测量爪可闭合与所述主尺(1)形成框型结构,当对所述坩埚的厚度进行测量时,所述滑动测量爪(2)沿所述主尺(1)滑动,两者形成一开口,所述坩埚的侧壁或底壁可自所述开口处进入所述框型结构内部,并被夹紧。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:夏新中
申请(专利权)人:英利能源中国有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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