【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种应用电路，具体的涉及ー种过流检测电路。
技术介绍
当电路处于正常工作吋，电子器件正常工作，但是如果电路处于过流状态，电子器件的使用寿命将大大降低，因此我们有必要检测电路是否处于过流状态。现有的过流检测电路形形色色种类繁多，但大多结构复杂，而采用复杂电路结构的驱动电路来完成电机过电流检测的功能，这样一方面成本会有所提高，另外一方面，电路结构一旦复杂化后，其背后的不稳定因素也在増加，如此便在无形之中降低了产品合格率。
技术实现思路
为克服现有技术中的不足，本专利技术的目的在于提供ー种结构简单的过流检测电路。为了解决上述技术问题，实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案ー种过流检测电路，包括光耦，取样电流信号通过第二电阻连接可控硅的负极，第一工作电源通过第一电阻连接发光二极管的正极，所述发光二极管的负极连接所述光耦的一个输入端，所述光耦的另ー个输入端接地，所述光耦的ー个输出端连接第二工作电源，所述光耦的另ー个输出端输出所述取样电流信号的相应电压。进ー步的，可变电阻的中心抽头与ー个固定引脚接地，可变电阻的另ー个固定引脚连接第一接线端，第二接线端与地之间连接电容，第三接线端与地之间连接上拉电阻。本专利技术的过流检测电路的工作过程如下 电机正常工作时，取样电流小，即可控硅门级触发电流较小，可控硅处于管段状态，发光二极管指示灯亮，光耦导通，此时光耦输出高电平。当电机的电流增加到一定程度时(过流吋)，取样电阻取出的电压使可控硅门级触发导通，发光二极管正极电位被拉低且灯灭掉，光耦关断，此时光耦输出低电平，供单片机去判断。本专利技术具有以下优点 本专利...
【技术保护点】
一种过流检测电路，包括光耦（U1），其特征在于：取样电流信号(PROTECT)通过第二电阻(R2)连接可控硅(SCR1)的负极，第一工作电源(V1)通过第一电阻(R1)连接发光二极管(LED1)的正极，所述发光二极管(LED1)的负极连接所述光耦（U1）的一个输入端，所述光耦的另一个输入端接地，所述光耦（U1）的一个输出端连接第二工作电源，所述光耦（U1）的另一个输出端输出所述取样电流信号(PROTECT)的相应电压。
【技术特征摘要】
1.ー种过流检测电路，包括光耦(U1)，其特征在于取样电流信号(PROTECT)通过第二电阻(R2)连接可控硅(SCRl)的负极，第一工作电源(Vl)通过第一电阻(Rl)连接发光二极管(LEDl)的正极，所述发光二极管(LEDl)的负极连接所述光耦(Ul)的一个输入端，所述光耦的另一个输入端接地，所述光耦(Ul)的ー个输出端连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡国良，魏王江，
申请(专利权)人：苏州合欣美电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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