一种等离子显示器PDP的障壁扫描装置制造方法及图纸

技术编号:8121499 阅读:184 留言:0更新日期:2012-12-22 11:42
本实用新型专利技术公开了一种等离子显示器PDP障壁扫描装置,包括:扫描区域;并列设置在扫描区域顶部上方向下发射光的两排光源,一排第一垂直光单元,另一排第二垂直光单元,及位于第二垂直光单元两侧的倾斜光单元,第一垂直光单元与第二垂直光单元相邻;设置在第一垂直光单元上的第一CCD单元;设置在第二垂直光单元上的第二CCD单元;扫描区域上设置障壁。倾斜光单元由左倾斜光单元和右倾斜光单元组成。上述二者之间的夹角为60度或90度或120度。本实用新型专利技术提供的等离子显示器PDP障壁扫描装置能扫描到障壁在多角度光源下的投影,从而能全面的获取障壁的外观形貌缺陷。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于等离子显示器
,尤其涉及一种等离子显示器rop的障壁扫描装置。
技术介绍
PDP (Plasma Display Panel,等离子显不器)是继 CRT (Cathode Ray Tube,阴极射线管)、LCD (Liquid Crystal Display,液晶显示器)后的最新一代显示器。障壁是F1DP的重要部件,障壁的外观形貌规整才能保障PDP放电良好。障壁的外观形貌存在缺陷,则导致PDP放电障碍,从而TOP的成品率降低。因此,需要对障壁进行扫描取像,筛选出有缺陷的障壁,进行处理。目前常用的方法是采用单排垂直扫描装置对障壁进行扫描取像。请参阅附图1,垂直扫描装置由垂直光源01、扫描区域02、(XD03组成。垂直光源01设置在扫描区域02正上方,(XD03设置在垂直光源02上,扫描区域02上放置被测障壁04。垂直光源01发出垂直光照射在障壁04上,(XD03扫描障壁04在垂直光源01下的投影。根据(XD03扫描到的投影判断障壁04的外观形貌是否存在缺陷。由于,现有技术中CCD03单排扫描取像和垂直光源01方向的局限性,造成障壁04的部分外观形貌缺陷不能被检测出来。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种等离子显示器PDP障壁扫描装置,其特征在于,包括:扫描区域(12);并列设置在所述扫描区域顶部上方向下发射光的两排光源,其中,一排具有第一垂直光单元,另一排具有第二垂直光单元(14),及位于所述第二垂直光单元(14)两侧的倾斜光单元,所述第一垂直光单元与第二垂直光单元(14)相邻;设置在所述第一垂直光单元上的第一CCD单元(13);设置在所述第二垂直光单元(14)上的第二CCD单元(16);所述扫描区域(12)上设置被测元件障壁(11)。

【技术特征摘要】
1.一种等离子显示器rop障壁扫描装置,其特征在于,包括 扫描区域(12); 并列设置在所述扫描区域顶部上方向下发射光的两排光源,其中,一排具有第一垂直光单元,另一排具有第二垂直光单元(14),及位于所述第二垂直光单元(14)两侧的倾斜光单元,所述第一垂直光单元与第二垂直光单元(14)相邻; 设置在所述第一垂直光单兀上的第一 (XD单兀(13); 设置在所述第二垂直光单元(14)上的第二 CXD单元(16); 所述扫描区域(12)上设置被测元件障壁(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:何春华
申请(专利权)人:安徽鑫昊等离子显示器件有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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