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数显杨氏模量测量仪制造技术

技术编号:8121426 阅读:210 留言:0更新日期:2012-12-22 11:39
本实用新型专利技术提出一种金属丝杨氏模量的测量装置,包含设备支架(1)、底座(2)、紧固件1(3)、紧固件2(4)、数显模块(5)、光纤位移传感器(6)、反光铝箔(7)、顶部金属丝夹(8),在杨氏模量微位移测量中引入光纤位移传感器,利用数显模块直接得到了微位移测量结果,使杨氏模量中微位移测量变的简单易行。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于物理实验仪器领域,更具体说是ー种金属丝杨氏模量的測量装置。
技术介绍
传统的杨氏模量測量中,使用拉伸法測量金属丝的杨氏模量,将金属丝末端挂上砝码并用光杠杆放大法测其伸长量,实验难于调节、较费时且精度较差。本设计在杨氏模量实验的金属丝伸长微位移測量中引入光纤位移传感器并对输出电压进行了数字化处理和显示,直接得到了微位移測量结果,使杨氏模量中微位移测量变的简单易行。
技术实现思路
为了改善金属丝杨氏模量的測量中,微小伸长量难测量的缺点,本技术提供了ー种操作简单、測量容易的数显杨氏模量测量仪。一种数显杨氏模量测量仪,包含设备支架(I)、底座(2)、紧固件1(3)、紧固件2(4)、数显模块(5)、光纤位移传感器¢)、反光铝箔(7)、顶部金属丝夹(8),上述数显模块和光线位移传感器(6)固定在紧固件I(3)上,紧固件I (3)、紧固件2 (4)前端有小圆环,后端有螺丝,可沿着设备支架(I)的竖杆上下移动,并由螺丝拧紧固定在竖杆上。附图说明图I为本技术的结构示意图图2为本技术的数显模块的电路原理图图中设备支架(I)、底座(2)、紧固件I (3)、紧固件2 (4)、数显模块(5)、光纤位移本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数显杨氏模量测量仪,其特征是:包含设备支架(1)、底座(2)、紧固件1(3)、紧固件2(4)、数显模块(5)、光纤位移传感器(6)、反光铝箔(7)、顶部金属丝夹(8),上述数显模块(5)和光线位移传感器(6)固定在紧固件1(3)上,紧固件1(3)、紧固件2(4)前端有小圆环,后端有螺丝,可沿着设备支架(1)的竖杆上下移动,并由螺丝拧紧固定在竖杆上。

【技术特征摘要】
1.一种数显杨氏模量测量仪,其特征是包含设备支架(I)、底座(2)、紧固件I (3)、紧固件2(4)、数显模块(5)、光纤位移传感器¢)、反光铝箔(7)、顶部金属丝夹(8),上述数...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩铮于明军孙福玉
申请(专利权)人:韩铮
类型:实用新型
国别省市:

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