分析多个铁磁性颗粒的方法技术

本发明专利技术涉及一种分析多个铁磁性颗粒(1)的方法。该方法包括下列步骤：a)以每个所述颗粒大致朝向相同方向的方式排列所述多个颗粒(1)；b)在所述排列中固定所述多个颗粒(1)；c)暴露以此方式排列的所述颗粒(1)的内部区域；d)确定每个所述颗粒的性质，并根据作为它们的性质的函数的种类来给所述颗粒分组；和e)确定每个种类的一个或多个所述颗粒的冶金学结构和化学成分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
一种具有流体在其中循环的回路的装置在工作时可将金属的或其他颗粒释放到该流体中。举例而言，这样的装置是引擎，特别是航空引擎(涡轮引擎)，该回路例如可以是冷却回路或润滑回路。所述颗粒污染流体并需要从回路中去除。为此，使用放置在该回路中的磁塞和/或过滤器来捕获颗粒，以使所述颗粒可从回路中移除并可被分析。通常，这些颗粒来自组成该引擎(或装置)的不同部件，其原因是这些部件被磨损或损坏。因此，当所述颗粒从该回路中回收时，鉴别这些颗粒来自何部件是非常重要的，必要时，可检查那些部件并在适合的情况下取代之。 为了鉴别所述颗粒的来源，有必要分析每个颗粒。此分析包括确定颗粒的性质(金属、陶瓷、聚合体)，适当时确定它们的微结构，以正确鉴别这些颗粒来自何部件。在大多数情况下，仅关注铁磁性颗粒，因为想确定是否损坏或磨损的部件为铁磁性部件。目前，由磁塞或过滤器捕获的颗粒被回收，随后随机选择一些颗粒并通过能量色散光谱学(EDS)和扫描电子显微镜(SEB)进行分析，以确定它们的化学成分。假定所述颗粒的尺寸为毫米级别，则它们成百上千地回收，仅几十个颗粒可在合理长度的时间以合理的成本被分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.04.02 FR 10525241.一种分析多个铁磁性颗粒(I)的方法，其特征在于，该方法包括下列步骤 a)以每个所述颗粒大致朝向相同方向的方式排列所述多个颗粒(I)； b)在所述排列中固定所述多个颗粒(I)； c)暴露以此方式排列的所述颗粒(I)的内部区域； d)确定每个所述颗粒(I)的性质，并根据作为它们的性质的函数的种类来给所述颗粒分组；和 e)确定每个种类的一个或多个所述颗粒(I)的冶金学结构和化学成分。2.根据权利要求I所述的分析多个颗粒的方法，其特征在于，在步骤a)中，所有颗粒在一个步骤中被排列。3.根据权利要求I或2所述的分析多个颗粒的方法，其特征在于，在步骤c)中，所述颗粒(I)的内部区域在一个步骤中被暴露。4.根据权利要求1-3中任何一项所述的分析多个颗粒(I)的方法，其特征在于，每个所述颗粒(I)均在一主平面(P)内延伸，在步骤a)中，所述主平面均大致对齐排列。5.根据权利要求1-4中任何一项所述的分析多个颗粒(I)的方法，其特征在于，在步骤a)中，所述颗粒通过将它们置于一磁场的场线(L)是平行的场的区域中的磁场中而进行排列。6.根据权利要求5所述的分析多个颗粒(I)的方法，其特征在于，为了将所述颗粒置于所述磁场中，所述颗粒被放置在一设置在一磁铁(30)上的非磁性容器(10)中。7.根据权利要求6所述的分析多个颗粒(I)的方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：法布里斯·科拉顿，
申请(专利权)人：斯奈克玛，
类型：
国别省市：