一种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法技术

技术编号:8106179 阅读:495 留言:0更新日期:2012-12-21 05:21
本发明专利技术涉及一种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法,该方法包括以下步骤:对原始图片O进行预处理,得到预处理图片L;利用滤波器对预处理图片L依次进行下采样滤波处理和上采样滤波处理,得到原始图片O的低通部分;将原始图片O与低通部分相减,得到原始图片O的高通部分;对预处理图片L进行自相似处理,寻找预处理图片L上与高通部分相似的位置,利用映射关系将高通信息匹配到预处理图片L中,得到和预处理图片L相同像素点的更为清晰的图片S;判断自相似处理后的图片S是否存在锯齿化现象,若是,则对处理后的图片和预处理图片L进行抗锯齿化边缘处理,得到更为平滑的高清图片R。与现有技术相比,本发明专利技术具有可提高图片清晰度和分辨率、实用性强等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种图像处理
的方法,尤其是涉及。
技术介绍
图像的上采样和反走样技术是图像处理技术的重要领域,在超分辨率方面起到了很大的作用。过去的拍摄技术低下造成了很多图片的模糊和分辨率较低,通过对这些图片 进行处理,可以恢复图片和进行高保真清晰的放大,因此具有广泛的应用性。经过对现有技术的文献检索发现,Lei Yang等人在《ACM Transactions onGraphics (Presented at SIGGRAPH 2011), Volume 30Issue 3, Article No. 22》上发表的“Antialiasing Recovery”论文中提出了一种根据原始图片和经过非线性滤波造成损害的图片结合来进行抗锯齿处理的方法。该方法能有效的处理折线、文字等由于放大或者滤波而造成的损失,但是需要原始图片进行结合处理,且相对位置要求不变,需要的条件较多,应用范围窄。此外,Freedman等人《ACM Transactions on Graphics (TOG), April 2011,Volume30 Issue 2 Article No. 12》上发表的 “ Image and Video Upscaling from LocalSelf-Examples”论文中提到了一种上采样的方法,该方法能够通过一种非线性滤波器对图片进行上采样处理,得到清晰的高分辨率图片。但是经过滤波处理后的图片有时会出现锯齿和走样,有些地方会出现错误点,使得放大后的高分辨率图片效果不理想。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可提高图片清晰度和分辨率、实用性强的利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法。本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现—种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法,该方法包括以下步骤第一步对原始图片O进行预处理,增加图片像素,得到预处理图片L ;第二步利用下采样滤波器对预处理图片L进行下采样滤波处理,然后利用上采样滤波器进行上采样滤波处理,得到原始图片O的低通部分;第三步将原始图片O与低通部分相减,得到原始图片O的高通部分H,判断是否存在单个像素点或小像素块异常现象,若是,则进行矫正和反走样处理;第四步利用区域自相似原理对预处理图片L进行自相似处理,寻找预处理图片L上与高通部分相似的位置,利用映射关系将高通信息匹配到预处理图片L中,得到和预处理图片L相同像素点的更为清晰的图片S ;第五步判断自相似处理后的图片S是否存在锯齿化现象,若是,则对处理后的图片和预处理图片L进行抗锯齿化边缘处理,得到更为平滑的高清图片R。所述的第一步中的预处理为对原始图片进行(N-I) N比例增加图片像素点的扩展处理。所述的第二步的下采样滤波处理具体是指对每N个像素进行卷积计算得到总数为N-I的结果,具体函数可表示如下D(L) (n) = (L(n)*dp(_n) (Nq+p))其中D 为下采样滤波器,P = n mod(N-I), q = (n-p) / (N-I), (Jp (_n)为第 p 个滤波器dp(dp = Cl1,... ,dN), 为离散卷积和的符号,η为第η个像素点。所述的第二步的上采样滤波处理具体是指对每N-I个像素进行卷积计算,具体函数可表示如下本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:第一步:对原始图片O进行预处理,增加图片像素,得到预处理图片L;第二步:利用下采样滤波器对预处理图片L进行下采样滤波处理,然后利用上采样滤波器进行上采样滤波处理,得到原始图片O的低通部分;第三步:将原始图片O与低通部分相减,得到原始图片O的高通部分H,判断是否存在单个像素点或小像素块异常现象,若是,则进行矫正和反走样处理;第四步:利用区域自相似原理对预处理图片L进行自相似处理,寻找预处理图片L上与高通部分相似的位置,利用映射关系将高通信息匹配到预处理图片L中,得到和预处理图片L相同像素点的更为清晰的图片S;第五步:判断自相似处理后的图片S是否存在锯齿化现象,若是,则对处理后的图片和预处理图片L进行抗锯齿化边缘处理,得到更为平滑的高清图片R。

【技术特征摘要】
1.一种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤 第一步对原始图片O进行预处理,增加图片像素,得到预处理图片L ; 第二步利用下采样滤波器对预处理图片L进行下采样滤波处理,然后利用上采样滤波器进行上采样滤波处理,得到原始图片O的低通部分; 第三步将原始图片O与低通部分相减,得到原始图片O的高通部分H,判断是否存在单个像素点或小像素块异常现象,若是,则进行矫正和反走样处理; 第四步利用区域自相似原理对预处理图片L进行自相似处理,寻找预处理图片L上与高通部分相似的位置,利用映射关系将高通信息匹配到预处理图片L中,得到和预处理图片L相同像素点的更为清晰的图片S ; 第五步判断自相似处理后的图片S是否存在锯齿化现象,若是,则对处理后的图片和预处理图片L进行抗锯齿化边缘处理,得到更为平滑的高清图片R。2.根据权利要求I所述的一种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法,其特征在于,所述的第一步中的预处理为对原始图片进行(N-I) N比例增加图片像素点的扩展处理。3.根据权利要求I所述的一种利用卷积滤波和抗锯齿分析增强图像分辨率的方法,其特征在于,所述的第二步的下采样滤波处理具体是指 对每N个像素进行卷积计算得到总数为N-I的结果,具体函数可表示如下 D (L) (n) = (L (n) ^dp (-n) (Nq+p)) 其中 D 为下采样滤波器,P = n mod (N-I), q = (n-p) / (...

【专利技术属性】
技术研发人员:李胜男盛斌林晓李宜凝马利庄
申请(专利权)人:上海交通大学
类型:发明
国别省市:

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