触控装置及其侦测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种触控装置，包括复数感测器、存储模块及处理模块。该复数感测器设于一基板上，用于感测声波并对应产生电子讯号。该存储模块用于存储该基板上之复数点坐标之延时测量标准值。该处理模块与该复数感测器及存储模块连接，根据该电子讯号计算触控点之延时测量值及将该触控点之延时测量值与点坐标之延时测量标准值进行比较，以获得该触控点之坐标。本发明专利技术还提供一种触控装置之侦测方法。上述触控装置及其侦测方法之每一延时测量标准值系由复数次测量取平均值而获得，以致于延时测量之噪音随复数次测量取平均值而得以抵消，使讯号噪音比随噪音减小而增大，进而提高延时测量标准值之准确度，使得侦测准确度较高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种输入装置，特别涉及一种。
技术介绍
触控装置系一种常见之输入装置，包括基板及设于该基板上之侦测组件，该侦测组件用于侦测触控点之位置。就触控装置之触控技术而言，目前有电阻式触控装置、红外线式触控装置、表面声波式触控装置、压力传感式触控装置及电容式触控装置。电阻式触控装置主要存在之缺陷在于反应速率较慢。通常，电阻式触控装置包括一用于触控的导电薄膜，惟，该导电薄膜容易因磨损而缩短使用寿命。为了克服电阻式触控 装置因其包含的导电薄膜所存在之缺陷，设计者采用红外线式触控装置替代电阻式触控装置。红外线式触控装置包括复数红外线发射器及复数红外线接收器。复数红外线发射器及复数红外线接收器一一对应。该复数红外线发射器及复数红外线接收器用于感测触控面板之表面之触控点之位置。当触控面板之表面被触控时，从红外线发射器发射之光线被阻挡，从而使与该红外线发射器对应之红外线接收器接收不到光线而被感应。惟，上述复数红外线发射器及红外线接收器会消耗过多之电能，导致红外线式触控装置电能损耗较高。电容式触控装置包括采用玻璃材质制成之基板及设于基板上之复数电容。该基板用于代替导电薄膜。电容式触控装置虽可成功侦测到触控点之位置，惟，此种触控装置因其需内嵌导电物质于基板上，导致制造工艺成本高且造成侦测过程中较高的电能损耗。为了克服上述触控装置之缺陷，一种利用声波侦测触控点之触控装置业已产生。该触控装置包括复数声波感测器及一基板。该复数感测器设置于该基板之周缘，用于接收触控点所产生之声波讯号，该声波讯号在被收集后可间接用于判断该触控点之位置。上述触控位置之基板可采用单纯玻璃材质制成，以替代成本较高且能耗较高之导电基板，从而节省制造成本、降低能耗。惟，上述触控装置采用声波感测器侦测到触控点之声波，侦测过程中会有噪音产生，导致上述触控装置侦测声波时会存在一有限讯号噪音比。故，上述触控装置之侦测准确度会因该有限讯号噪音比而减小。故，需要提供一种新型之触控装置，克服上述触控装置存在之缺陷。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种侦测准确度较高之触控装置。一种触控装置，包括复数感测器，设于一基板上，用于感测声波并对应产生电子讯号；存储模块，用于存储该基板上之复数点坐标之延时测量标准值；及处理模块，与该复数感测器及存储模块连接，根据该电子讯号计算触控点之延时测量值及将该延时测量值与该复数之延时测量标准值进行比较，以获得该触控点之坐标。进一步地，该复数感测器靠近该基板之四角设置。进一步地，该基板由玻璃制成。进一步地，该处理模块包括放大该电子讯号之放大器。进一步地，该处理模块还包括根据该电子讯号计算触控点之延时测量值之复数计时器。进一步地，该处理模块包括连接于该复数计时器与该放大器之间且控制该复数计时器进行计时之逻辑门单元。进一步地，该处理模块还包括控制芯片，用于执行将该延时测量值与该复数之延时测量标准值进行比较以获得该触控点之坐标之计算程序，并与该存储模块通讯连接。进一步地，如果该触控点之延时测量值等于复数延时测量标准值其中之一时，则触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。 进一步地，如果该触控点之延时测量值最接近于该复数延时测量标准值其中之一时，则该触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。进一步地，每一点坐标之延时测量标准值为在一校准过程中复数次测量之平均值。一种触控装置，包括复数感测器，设于一基板上，用于感测声波并将该声波转换为电子讯号；及处理模块，用于存储该基板上之复数点坐标之延时测量标准值，其中，每一点坐标之延时测量标准值为复数次测量之平均值，该处理模块接收该电子讯号并计算触控点之延时测量值，并将该触控点之延时测量值与该复数延时测量标准值进行比较，以获得该触控点之坐标。进一步地，该复数感测器靠近该基板之四角设置。进一步地，该基板由玻璃制成。进一步地，该处理模块包括放大该电子讯号之放大器。进一步地，该处理模块还包括根据该电子讯号计算该触控点之延时测量值之复数计时器。进一步地，该处理模块包括连接于该复数计时器与该放大器之间且控制该复数计时器进行计时之逻辑门单元。进一步地，该处理模块还包括控制芯片，用于执行将该延时测量值与该复数之延时测量标准值进行比较以获得该触控点之坐标之计算程序。进一步地，如果该触控点之延时测量值等于复数延时测量标准值其中之一时，则该触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。进一步地，如果该触控点之延时测量值最接近于该复数延时测量标准值其中之一时，则该触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。进一步地，该逻辑门单元控制所有计时器在任一复数感测器产生电子讯号时开始计时，各计时器在相应感测器产生电子讯号时停止计时，该触控点之延时测量值为各计时器测得时间差之组合。同时，有必要提供一种侦测准确度较高之触控方法。一种触控装置之侦测方法，包括侦测声波；将该声波转换为电子讯号；藉由该电子讯号计算得出接收之延时测量值；及将该接收之延时测量值与先前存储之一基板之复数点坐标之延时测量标准值进行比较，其中，每一点坐标之延时测量标准值为复数次测量之平均值。进一步地，如果接收之延时测量值等于复数延时测量标准值其中之一时，则触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。进一步地，如果该接收之延时测量值最接近于该复数延时测量标准值其中之一时，则该触控点之坐标等于该延时测量标准值所对应点坐标之标准坐标。上述之每一延时测量标准值系由复数次测量取平均值而获得，以致于延时测量之噪音随复数次测量取平均值而得以抵消，使讯号噪音比随噪音减小而增大，进而提高延时测量标准值之准确度。故，上述触控装置之侦测准确度较高。·附图说明图I为本专利技术之较佳实施例之触控装置之上视示意图。图2为图I所示之触控装置内部之方块示意图。图3为图I所示之触控装置之处理模块之方块示意图。图4为图I所示之触控装置之侦测方法之流程图。具体实施方式本专利技术的一些实施例详细描述如下。然而，除了该详细描述外，本专利技术还可以广泛地在其它的实施例施行。亦即，本专利技术的范围不受已提出之实施例的限制，而以本专利技术提出之权利要求为准。其次，当本专利技术之实施例图标中的各组件或结构以单一组件或架构说明时，不应以此作为有限定的认知，即如下之说明未特别强调数目上的限制时本专利技术之精神与应用范围可推及多数个组件或结构并存的结构与方法上。再者，在本说明书中，各组件之不同部分并没有完全依照尺寸绘图，某些尺度与其它相关尺度相比或有被夸张或是简化，以提供更清楚的描述以增进对本专利技术的理解。而本专利技术所沿用的现有技艺，在此仅做重点式的引用，以助本专利技术的阐述。请参阅图I及图2，为本专利技术之一较佳实施例之触控装置之上视示意图与触控装置内部的方块示意图。触控装置100包括基板110、第一感测器120、第二感测器130、第三感测器140、第四感测器150、处理模块160及存储模块170。基板110由任何可传递声波之材料制成，以使触控于基板Iio之表面可产生声波讯号。具体于本实施例中，基板110系由玻璃制成。第一感测器120、第二感测器130、第三感测器140及第四感测器150设置于靠近基板110之四顶角处。第一感测器120、第二感测器130、第三感测器140及第四感测器150可侦测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控装置，其特征在于，该触控装置包括：复数感测器，设于一基板上，用于感测声波并对应产生电子讯号；存储模块，用于存储该基板上之复数点坐标之延时测量标准值；及处理模块，与该复数感测器及存储模块连接，根据该电子讯号计算触控点之延时测量值及将该延时测量值与该复数之延时测量标准值进行比较，以获得该触控点之坐标。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：法西德·穆萨维，
申请(专利权)人：宸鸿科技厦门有限公司，
类型：发明
国别省市：