LED流明维持率测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种LED流明维持率测试装置，它涉及流明维持试验设备领域。它的高温箱并联在RS485总线之间，且RS485总线与转换器连接，高温箱与半导体制冷控制电源连接，半导体制冷控制电源和转换器均与计算机相连接，计算机通过USB接口分别与数据采集器和LED驱动电源连接，且数据采集器、LED驱动电源分别与高温箱连接。它能够精确测量LED光源的流明维持特性，具有测量工位多，电流输出范围大，输出进度高、温度测量范围大等特点，并具有半导体制冷功能、三个环境温度同时试验、测量数据双备份等功能，特别适用于对试验数据精度要求高的场合。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及流明维持试验设备领域，具体涉及一种LED流明维持率测试装置。
技术介绍
半导体照明被公认为是照明史上继白炽灯、荧光灯之后的又一次照明光源的革命。半导体照明的核心是LED光源，它的主要特点是寿命长、能耗低、显色度高、环保、易维护、体积小、直流电驱动、驱动电压低、点亮速度快、无频闪、眩光少、耐震性佳、发热少、适合智能调光控制等。理论上LED和传统照明相比应该有较长的寿命，这应是LED相较传统照明的一个重要优势。但是，近年来LED产业发展过程中，因为多种原因导致LED应用产品的实际寿命表现大大低于预期，甚至有些产品比白炽灯这样平均寿命较短的传统光源的寿命还低，严重影响了消费者对LED产品的信心。这已经是LED产业发展过程中必须面对和解决的问题。由于LED光源一般不容易出现像传统光源那样突然失效的情况，因此考核其寿命时使用流明维持的方法比较合适。另外，由于LED光源在不同热环境下的流明维持寿命差异较大，因而找到合适的工具和手段来探究LED光源及其应用产品失效的机理有重要的现实意义。目前，市场上有个别类似的流明维持的试验设备，但其测量精度、可靠性、自动化程度等方面不尽如人意。 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED流明维持率测试装置，其特征在于它包含高温箱(1)、半导体制冷控制电源(2)、转换器(3)、数据采集器(4)、计算机(5)和LED驱动电源(6)，高温箱(1)并联在RS485总线之间，且RS485总线与转换器(3)连接，高温箱(1)与半导体制冷控制电源(2)连接，半导体制冷控制电源(2)和转换器(3)均与计算机(5)相连接，计算机(5)通过USB接口分别与数据采集器(4)和LED驱动电源(6)连接，且数据采集器(4)、LED驱动电源(6)分别与高温箱(1)连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周钢，吴杜雄，郑剑，杨画，
申请(专利权)人：广州赛西光电标准检测研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：