【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超材料领域，具体涉及一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置。
技术介绍
随着超材料技术的发展，人工电磁材料结构单元电磁特性的描述对人工电磁材料自动化设计起着至关重要的作用，测量人工电磁材料结构单元的电磁特性是人工电磁材料设计过程中的一个重要环节，人工电磁材料的形状和大小会影响其电磁特性，因此，在测量人工电磁材料单元的电磁特性的过程中需要选取大量的试验点进行试验。目前，人工材料单元的试验点选取方法为参见附图说明图1，是现有技术人工材料单元的试验点选取方法的示意图。例如对一种“工”型拓扑结构的超材料单元进行试验，定义的几何参数为G向量，假设参数a，b，和w三参数的取值范围分别为，,，且各几何参数对应的采样样本点个数为4，3和2。根据正交设计方法进行试验点的选取，需要选择如下表I所示的24个试验点来完成试验，按照正交试验设计原理获得正交表如下表I所示序号 abw~ I I 07 ~~2II02~~ I 2 ο ~~I202~~5I3Ο~~6I302~~ 2 I 0Γ ~~82I02~~92207 ~10220 2~~ 2307 ~权利要求1.一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，其特征在于，包括 获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平； 根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过正交设计法计算初始试验点序列； 获取所述初始试验点序列的电磁响应数据，并分析电磁响应数据变化剧烈的取值范围； 在上述取值范围，利用均匀试验设计方法产生新的试验点序列，新试验点序列同原试验点序列组合得到最终试验点序列...
【技术保护点】
一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，其特征在于，包括：获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平；根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过正交设计法计算初始试验点序列；获取所述初始试验点序列的电磁响应数据，并分析电磁响应数据变化剧烈的取值范围；在上述取值范围，利用均匀试验设计方法产生新的试验点序列，新试验点序列同原试验点序列组合得到最终试验点序列；选取所述最终试验点序列指示的人工电磁材料单元的试验点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘若鹏，刘斌，栾琳，
申请(专利权)人：深圳光启高等理工研究院，深圳光启创新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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