【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测量耦合器性能的装置,尤其是涉及一种局部放电耦合器性能测量装置。
技术介绍
耦合器是整个局部放电监测系统的关键环节,所有后续处理都依赖于耦合器探测到的局部放电信号,这就要求耦合器能够准确、灵敏地探测到局部放电产生的超高频信号,并能够尽可能多地反应局部放电的信息,因此对耦合器性能的研究是整个局部放电系统的基础。很多文献中,都采用天线理论对耦合器的性能进行分析描述,根据耦合器的外形和尺寸,对应一种天线形式,利用对应天线的特性来表征耦合器的特性。然而用来测量局部 放电的耦合器,并不是一般意义上布置在无线空间里用来接收平面电磁波的天线,它布置在GIS外表面或者内部,距离局部放电源很近,在超高频段已不满足远场的要求,同时,耦合器周围的金属导体也会明显影响耦合器的接收性能。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种测量精度高、操作简便的局部放电耦合器性能测量装置。本技术的目的可以通过以下技术方案来实现与现有技术相比,本技术射频输出端子输出信号的能量是已知并且恒定不变的,这就保证了各次实验的测量结果之间具有可比性。而且,只要保持实验条件不变,测量过程和结果是可重复的。另外,这种测量方法可以设定测量的频率范围,也就是说,可以通过调整设置,测量耦合器在各个关注的频率范围内的响应特性,从而可以对耦合器的性能和灵敏度进行全面的比较和分析。附图说明图I为本技术的一种结构框图;图2为本技术的另一种结构框图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例对本技术进行详细说明。实施例I如图I所示,一种局部放电耦合器性能测量装置,包括射频输入端子I、射频输 ...
【技术保护点】
一种局部放电耦合器性能测量装置,其特征在于,包括射频输入端、射频输出端、滤波器、检波器、微处理器和显示器,所述的滤波器依次连接检波器和微处理器,所述的显示器与微处理器连接,所述的滤波器上连接有射频输入端,所述的射频输入端连接待测耦合器,所述的微处理器上连接有射频输出端,所述的射频输出端连接待测耦合器或信号发射装置,所述的信号发射装置通过无线射频网络与待测耦合器连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:高凯,倪浩,陈海波,
申请(专利权)人:上海市电力公司,华东电力试验研究院有限公司,
类型:实用新型
国别省市:
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