本实用新型专利技术的验证系统是在母设备1和从属设备2之间进行单向或双向验证，其中母设备1和从属设备2分别包含非挥发性地存储验证处理用键码的母机侧存储器件11和从属侧存储器件21，且至少从属侧存储器件21是利用铁电体元件的滞后特性的非挥发性逻辑电路、或铁电体存储器。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本新型涉及ー种在母设备(主设备)和从属设备(客户端设备)之间，进行单向或双向验证的验证系统。
技术介绍
一直以来，关于在母设备和从属设备之间、例如打印机和墨盒之间、可携式游戏机和游戏盒之间、或以电池为电源的电子设备(手持电话、数码静态相机、数码摄像机、上网本PC等)和电池之间进行单向或双向验证，以防止非正规产品的不当使用的验证系统有多种已被实用化。还有，作为与所述内容关联的以往技术的ー个例子，可以列举专利文献I。·专利文献I :日本专利特开2009-272299号公报
技术实现思路
但是，在以往的验证系统中，作为非挥发性地存储验证处理用键码的非挥发性存储器件，是使用制造上无需特殊设备或技术的快闪存储器或EEPROM,所以能够比较廉价且容易地复制，从而存在搭载了复制芯片的非正规产品容易经常出现这ー问题。而且，在以往的验证系统中，采用的验证算法并不依赖于非挥发性存储器件的特性或能力(数据写入速度等)，所以能够比较廉价且容易地利用其他器件进行类似动作，从而还存在搭载了相容芯片的非正规产品容易经常出现这ー问题。本新型鉴于由本新型者发现的所述问题，目的在于提供一种能够防止搭载了复制芯片或相容芯片的非正规产品流通的验证系统。为了达成所述目的，本新型的验证系统是在母设备和从属设备之间进行单向或双向验证，且构成为所述母设备和所述从属设备分别包含非挥发性地存储验证处理用键码的母机侧存储器件和从属侧存储器件，且至少所述从属侧存储器件是利用铁电体元件的滞后特性的非挥发性逻辑电路、或铁电体存储器(第I构成)。还有，在包含所述第I构成的验证系统中，还可构成为所述母设备在动作结束时向所述母机侧存储器件和所述从属侧存储器件内写入第I键码，而在动作开始时读出所述母机侧存储器件和所述从属侧存储器件的存储内容用于核对(第2构成)。而且，在包含所述第2构成的验证系统中，还可构成为所述母设备在核对所述第I键码后，向所述从属侧存储器件内写入与所述第I键码不同的第2键码，之后立即读出所述从属侧存储器件的存储内容来进行核对(第3构成)。而且，在包含所述第2构成的验证系统中，还可构成为所述母设备在核对所述第I键码后，向所述从属侧存储器件内写入与所述第I键码不同的第2键码，将所述从属设备的电源断开/重新接通，然后读出所述从属侧存储器件的存储内容进行核对(第4构成)。而且，在包含所述第3或第4构成的验证系统中，还可构成为所述母设备将作为所述第I键码的函数所生成的第2键码写入所述从属侧存储器件，由所述从属设备核对写入所述从属侧存储器件的第2键码是否为所述第I键码的函数(第5构成)。而且，在包含所述第I至第5中任ー构成的验证系统中，还可构成为所述非挥发性逻辑电路包含回路结构部，使用回路状连接的多个逻辑闸来保持数据；非挥发性存储部，使用铁电体元件的滞后特性，来非挥发性地存储保持在所述回路结构部的数据；及电路分离部，将所述回路结构部和所述非挥发性存储部电气分离(第6构成)。根据本新型的验证系统，可以防止搭载了复制芯片或相容芯片的非正规产品流通。附图说明图I是表示本新型的验证系统的ー构成例的框图。图2是表示非挥发性逻辑电路21的ー构成例的电路图。图3是用来说明非挥发性逻辑电路21的ー动作例的时序图。图4是表示常规动作时的信号路径的电路图。图5是表示数据写入动作时的信号路径的电路图。图6是表示数据读出动作时的信号路径的电路图。图7是表示第I验证算法的序列图。图8是表示第2验证算法的序列图。图9是表示第3验证算法的序列图。图10是表示本新型的验证系统的ー变形例的框图。I母设备2从属设备10母机控制部 11非挥发性存储器(母机侧存储器件)20从属控制部21非挥发性逻辑电路(从属侧存储器件)22铁电体存储器(从属侧存储器件)INVl INV5反相器INV6、INV7反相器(有电平位移功能)Sffl SW4通路开关MUXU MUX2多エ器Qla、Qlb、Q2a、Q2b N 通道型 MOS 场效晶体管CLla、CLlb、CL2a、CL2b 铁电体元件LOOP回路结构部NVM非挥发性存储部SEP电路分离部具体实施方式〈框图〉图I是表示本新型的验证系统的ー构成例的框图。本构成例的验证系统是在母设备I和从属设备2之间进行单向或双向验证的验证系统。还有，作为母设备I和从属设备2的一例，可以列举打印机和墨盒、可携式游戏机和游戏盒、或者以电池为电源的电子设备(手持电话、数码静态相机、数码摄像机、上网本PC等)和电池等。作为与验证系统关联的电路区块，母设备I中至少包含母机控制部10和非挥发性存储器U。母机控制部10除了统括地控制母设备I的全体动作以外，还与从属设备2之间进行特定的验证处理。非挥发性存储器11是非挥发性地存储验证处理用键码的母机侧存储器件，可以优选使用快闪存储器或EEPROM等。还有，关于验证处理的算法，在下文进行详细说明。·作为与验证系统关联的电路区块，从属设备2至少包含从属控制部20。从属控制部20除了统括地控制从属设备2的全体动作以外，还与母设备I之间进行特定的验证处理。还有，从属控制部20中，作为所含的锁定电路或寄存器，而包含利用铁电体元件的滞后特性的非挥发性逻辑电路21，该非挥发性逻辑电路21是作为非挥发性地存储验证处理用键码的从属侧存储器件而发挥功能。〈非挥发性逻辑电路〉图2是表示非挥发性逻辑电路21的ー构成例的电路图。本构成例的非挥发性逻辑电路21包含反相器INVl INV7、通路开关SWl SW4、多エ器MUX1、MUX2、N通道型MOS 场效晶体管 Qla、Qlb、Q2a、Q2b、及铁电体元件(铁电体电容器)CLla, CLlb、CL2a、CL2b。反相器INVl的输入端是连接于数据信号⑶的施加端。反相器INVl的输出端是连接于反相器INV2的输入端。反相器INV2的输出端是透过通路开关SWl而连接于多エ器MUXl的第I输入端(I)。多エ器MUXl的输出端是连接于反相器INV3的输入端。反相器INV3的输出端是连接于反相器INV5的输入端。反相器INV5的输出端是连接于输出信号(Q)的引出端。多エ器MUX2的第I输入端⑴是连接于反相器INV3的输出端。多エ器MUX2的输出端是连接于反相器INV4的输入端。反相器INV4的输出端是透过通路开关SW2而连接于多エ器MUXl的第I输入端(I)。如此ー来，本构成例的非挥发性逻辑电路21包含回路结构部L00P，使用回路状连接的两个逻辑闸(图2中的反相器INV3、INV4)，来保持被输入的数据信号D。还有，回路结构部LOOP是受到第I电源电压VDDl (例如0. 6 )的供给而进行驱动。反相器INV6的输入端是连接于多エ器MUXl的第I输入端⑴。反相器INV6的输出端是透过通路开关SW3而连接于多エ器MUX2的第2输入端(0)。反相器INV7的输入端是连接于多エ器MUX2的第I输入端(I)。反相器INV7的输出端是透过通路开关SW4而连接于多エ器MUXl的第2输入端(0)。铁电体元件CLla的正极端是连接于第I板线PL1。铁电体元件CLla的负极端是连接于多エ器MUX2的第2输入端(O)。在铁电体元件CLla的两端间连接着晶体管Qla。晶体管Qla的闸极是连接于F复位信号FRST的施加端。铁电体元件C本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种验证系统，在母设备和从属设备之间进行单向或双向验证；其特征在于：所述母设备和所述从属设备分别包含非挥发性地存储验证处理用键码的母机侧存储器件和从属侧存储器件，且至少所述从属侧存储器件是利用了铁电体元件的滞后特性的非挥发性逻辑电路、或铁电体存储器。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：渊上贵昭，
申请(专利权)人：罗姆股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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