光学设备制造技术

一种光学设备，具有：第1焦点检测部，根据第1焦点检测方式，检测成像光学系统的焦点调节状态，输出第1焦点检测信号；第2焦点检测部，根据和第1焦点检测方式不同的第2焦点检测方式，检测成像光学系统的焦点调节状态，输出第2焦点检测信号；焦点调节部，根据第1焦点检测信号和第2焦点检测信号的其中之一，进行成像光学系统的焦点调节；报告部，对应通过焦点调节部进行的焦点调节，使和焦点检测方式对应的报告不同。

【技术实现步骤摘要】

下述优先权申请的公开内容作为参考组合到本申请中2011年4月6日申请的日本专利申请第2011-084625号。本专利技术涉及一种具有切换两个AF方式的混合AF方式的光学设备。
技术介绍
特开2002-311328号公报中记载了下述电子相机具有设置了两个AF方式(相位差检测AF方式和对比度检测AF方式)的混合AF方式，通过这两个AF方式报告是否变为对焦状态
技术实现思路
在通过相位差检测AF方式、对比度检测AF方式等多个自动对焦(AF)方式检测焦点调节状态的混合AF方式的光学设备中，根据情况切换使用多个AF方式。例如，光学设备在对移动的被摄体必须高速对焦时，切换为相位差检测AF方式，在必须高精度对焦时，切换为对比度检测AF方式，这样来分开使用。在该AF方式的切换中，用户进行的光学设备的各种设定会产生影响。但是，光学设备通过哪种AF方式检测焦点调节状态，并不报告给用户。因此，用户在进行光学设备的设定时，有时会感到不便。本专利技术鉴于上述课题而出现，其目的在于，在具有两个AF方式的光学设备中，实时报告检测焦点调节状态的AF方式。根据本专利技术的第I方式，一种光学设备，具有第I焦点检测部，根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学设备，具有：第1焦点检测部，根据第1焦点检测方式，检测成像光学系统的焦点调节状态，输出第1焦点检测信号；第2焦点检测部，根据和上述第1焦点检测方式不同的第2焦点检测方式，检测上述成像光学系统的焦点调节状态，输出第2焦点检测信号；焦点调节部，根据上述第1焦点检测信号和上述第2焦点检测信号的其中之一，进行上述成像光学系统的焦点调节；报告部，对应通过上述焦点调节部进行的上述焦点调节，使和上述焦点检测方式对应的报告不同。

【技术特征摘要】
2011.04.06 JP 2011-0846251.一种光学设备，具有 第I焦点检测部，根据第I焦点检测方式，检测成像光学系统的焦点调节状态，输出第I焦点检测信号； 第2焦点检测部，根据和上述第I焦点检测方式不同的第2焦点检测方式，检测上述成像光学系统的焦点调节状态，输出第2焦点检测信号； 焦点调节部，根据上述第I焦点检测信号和上述第2焦点检测信号的其中之一，进行上述成像光学系统的焦点调节； 报告部，对应通过上述焦点调节部进行的上述焦点调节，使和上述焦点检测方式对应的报告不同。2.根据权利要求I所述的光学设备， 上述报告部在上述焦点调节部根据上述第I焦点检测信号进行上述焦点调节时进行第I报告，在上述焦点调节部根据上述第2焦点检测信号进行上述焦点调节时进行第2报生口 o3.根据权利要求2所述的光学设备， 上述报告部具有显示部件，上述第2报告包括在上述显示部件中显示无法进行基于上述第I焦点检测信号的上述焦点调节的理由。4.根据权利要求3所述的光学设备， 上述第I报告包括在上述显示部件中显示无法进行基于上述第2焦点检测信号的上述焦点调节的理由。5.根据权利要求I至4的任意一项所述的光学设备， 上述第I焦点检测部具有第I及第2受光元件阵列，分别接受通过了上述成像光学系统的不同的光瞳部分的一对光束；第I信号输出部，根据上述第I及第2受光元件阵列的输出信号的相位差，输出上述第I焦点检测信号， 上述第2焦点检测部具有 第3受光元件阵列，对上述成像光学系统形成的光像进行光电变换；第2信号输出部,根据上述第3受光兀件阵列的输出信号,输出表不上述光像的对比度的上述第2焦点检测信号。6.根据权利要求I至5的任意一项所述的光学设备， 进一步具有取得部，取得上述成像光学系统具有的光圈...

【专利技术属性】
技术研发人员：田口文也，
申请(专利权)人：株式会社尼康，
类型：发明
国别省市：