用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，测试仪包括DVI源端口、OVI源端口和ACSM源端口，所述的DVI源端口和OVI源端口均通过通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，ACSM源端口通过专用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，且专用转接卡包括多个信号输入点和中心探针卡，各信号输入点以环形布地方式设置于中心探针卡的周围，ACSM源端口通过屏蔽线及BNC接头连接各信号输入点。使得采用该结构的测试设备能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及检测设备
，特别涉及电话机芯片测试设备
，具体是指一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备。
技术介绍
在模拟电路芯片测试领域，一直以来以测试电路的直流特性为主，近年来的一些测试设备也可用于测试芯片的部分交流特性，但多以测试频率为主。也有部分的测试设备可以测试运放的增益、信号失真、功率等参数，但是都仅限于单个运放的测试。与此同时，随着电话会议技术的普及和受到商业客户的欢迎，越来越多的电话采用了免提多语音通话芯片，以提供多路语音信号，实现电话会议功能。对于免提多语音通话芯片的测试就需要在同一芯片上有多路放大通道，并且需要克服相互间的串扰，现有的测试设备都不能达到这一要求，无法对免提多语音通话芯片进行稳定的，适合量产的大规模测试，由此，对免提多语音通话芯片的大规模生产，进一步的对于具有电话会议功能的电话机的普及和应用都造成了严重的制约。
技术实现思路
本技术的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且结构简单，成本低廉的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备。为了实现上述的目的，本技术的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备具有如下构成该测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。其中，所述的测试仪包括DVI双通道信号源端口(以下称DVI源)、OVI双通道信号源端口(以下称OVI源)和ACSM精密交流源表单元音频信号源端口(以下称ACSM源)，所述的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的DVI源包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI源包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC (同轴电缆接插件)接头连接所述的各信号输入点。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的专用转接卡还包括中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的中心探针卡还设置有芯片压点。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的待测免提多语音通话芯片通过所述的芯片压点连接所述的专用转接卡的中心探针卡。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的待测免提多语音通话芯片包括多个电压电流待测引脚以及多个交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚，所述的测试仪还包括交流源信号采集端口，所述的各电压电流待测引脚通过专用转接卡的引出线连接所述的通用转接卡，所述的各交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚通过屏蔽线及BNC接头连接所述的测试仪的交流源信号采集端口。采用了该技术的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备该测试设备，由于其包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。测试仪的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，测试仪的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的 待测免提多语音通话芯片。且所述的专用转接卡包括多个信号输入点和中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。使得采用该结构的测试设备能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且本技术的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备结构简单，成本低廉。附图说明图I为本技术的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备的结构示意图。图2为实际应用本技术的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的测量PIN脚连接示意图。图3为实际应用本技术的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的AST2000测试仪的线路图。图4为实际应用本技术的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的各PIN脚的外围器件的示意图。图5为实际应用本技术的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的免提电话机语音通话流程图。具体实施方式为了能够更清楚地理解本技术的
技术实现思路
，特举以下实施例详细说明。请参阅图I所示，电话机中免提多语音通话芯片的测试设备该测试设备的结构示意图。在一种实施方式中，该测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，所述的测试仪包括DVI源、OVI源和ACSM源，所述的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。其中，所述的DVI源包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI源包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。在一种较优选的实施方式中，所述的专用转接卡还包括中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围。所述的中心探针卡还设置有芯片压点，待测免提多语音通话芯片通过所述的芯片压点连接所述的专用转接卡的中心探针卡。在更优选的实施方式中，所述的待测免提多语音通话芯片包括多个电压电流待测引脚以及多个交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚，所述的测试仪还包括交流源信号采集端口，所述的各电压电流待测引脚通过专用转接卡的引出线连接所述的通用转接卡，所述的各交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚通过屏蔽线及BNC接头连接所述的测试仪的交流源信号采集端口。在实际应用中，本技术采用AST2000测试仪，在中测测试电话机免提通话电路芯片的交直流性能。AST2000测试仪通过一通用的测试版卡，将测试仪内的8路DVI源(电流电压源、可用于产生电流或电压，也可用于测量电压或电流)，8路OVI源(电流电压·源、可用于产生电流或电压，也可用于测量电压或电流)连接至相应的测试PIN脚。两种源的差异在于电流输出能力，DVI源可输出的最大电流为400mA，OVI源可输出的最大电流为40mA，根据PIN脚的允许电流能力选择合适的源。测量PIN脚连接示意图见图2。AST2000测试仪输出的4路ACSM源通过专用的屏蔽线及专用BNC接头连至中测卡(专用转接卡)对应的信号输入点。ACSM源既可作为音频信号产生的信号发生器，也可作为信号采集的测量源。中测卡连接示意图如图3所示，中测卡的信号输入点用环行布地的方式将信号相互隔离，用以适应多路BNC接口的交流输入信号测试。中测卡中心为带芯片压点的探针卡，周围环行布地，PIN脚一方面与相应探针相连，另一方面在中测卡上引线接外围器件。对于需要测量电压电流的PIN脚，通过外连线连至测试仪的通用测试版卡的相应管脚上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，所述的测试仪包括DVI双通道信号源端口、OVI双通道信号源端口和ACSM精密交流源表单元音频信号源端口，所述的DVI双通道信号源端口和OVI双通道信号源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM精密交流源表单元音频信号源端口通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。

【技术特征摘要】
1.一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，所述的测试仪包括DVI双通道信号源端口、OVI双通道信号源端口和ACSM精密交流源表单元音频信号源端口，所述的DVI双通道信号源端口和OVI双通道信号源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM精密交流源表单元音频信号源端口通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。2.根据权利要求I所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的DVI双通道信号源端口包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI双通道信号源端口包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。3.根据权利要求I所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM精密交流源表单元音...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨颖，
申请(专利权)人：无锡华润矽科微电子有限公司，
类型：实用新型
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