一种在线应用的光学检测器件温控装置制造方法及图纸

技术编号:7821119 阅读:192 留言:0更新日期:2012-09-28 08:15
本实用新型专利技术提供了一种在线应用的光学检测器件温控装置,它可以解决现有技术存在的光学检测器件由于温度过高或不稳定而引起的检测结果不稳定、暗噪声过高等问题。技术方案是,一种在线应用的光学检测器件温控装置,包括底座和底座上的套筒,套筒内部安装有光学检测器件和温度传感器,套筒的一端与反应室相连接,另一端设有压盖并进行光密封,套筒上部安装有两片半导体制冷片,半导体制冷片上装有散热片,散热片上装有散热风扇。本实用新型专利技术采用双半导体制冷片进行温度控制,根据不同的外界温度情况,采用制冷片分级控制的方法,对温度的控制更加灵活,既能保证有足够的温控效率,也能达到节电效果。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于在线分析检测仪器,具体地说,涉及的是利用光学法的在线分析检测仪器的对光学检测器件进行温度控制的装置。
技术介绍
在线分析检测仪器通常都采用光学法进行实现,由于电子器件发热或外界的环境温度影响,光学检测器件一般都在较高温度エ况下工作,在线应用的光学检测器件温控装置可用于光学法在线分析仪器光学检测器件(通常为光电倍増管)的温度控制,通过这个装置,可以为光学检测器件提供ー个理想的工作环境稳定、低温。现有的应用于在线分析仪器的光学检测器件,结构设计通常是,没有温控装置或简单的开环温控装置,经过实际使用发现,该装置的不足在于1、由于在线仪器的工作环境复杂,光电检测器件的暗噪声较大且不稳定,不利于仪器的稳定运行。2、缺少温度传感器进行温度实时监测,无法使温度控制在ー个相对稳定的状态,通常会使光电检测器件处于ー个很低的温度环境中,这样,光电检测器件窗ロ容易起雾,影响仪器检测結果。3、単一的半导体制冷片进行温度控制,在不同的外界温度,特别是高温下,不能保证足够的温控效率。4、开环控制方式较为简単,无法对温度进行精确控制。
技术实现思路
本技术提供了一种在线应用的光学检测器件温控装置,它可以解决现有技术存在的光学检测器件由于温度过高或不稳定而引起的检测结果不稳定、暗噪声过高等问题。为了达到解决上述技术问题的目的,本技术的技术方案是,一种在线应用的光学检测器件温控装置,包括底座和底座上的套筒,所述套筒内安装有温度传感器和具有安装光电检测器件的内腔,所述套筒的一端与反应室相连接,另一端设有压盖并进行光密封,所述套筒上部安装有两片半导体制冷片,所述半导体制冷片上装有散热片,散热片上装有散热风扇。进ー步地,所述套筒设计为外方内圆结构,方便光学检测器件、温度传感器及半导体制冷片的安装,同时放置干燥硅胶。又进ー步地,所述套筒材料采用铝,裸露部分包裹保温贴。更进一歩地,可以控制两片所述半导体制冷片同时工作,或也可以控制其中一片所述半导体制冷片工作。再进ー步地,所述半导体制冷片的冷热两面利用导热硅脂分别与套筒外侧和散热片进行紧密安装。更进一歩地,所述半导体制冷片和温度传感器采用闭环PID控制技木。再进ー步地,所述压盖与套筒间通过螺纹连接,结合面利用O型圈进行光密封。更进一歩地,在所述压盖上安装有航空插头,所述航空插头采用水密插头。可选的,所述套筒内径范围为20-50mm,长50-80mm。可选的,温控启动温度上限为25°C,稳定于5°C。可选的,所述半导体制冷片规格为20_30mm的正方体。本技术与现有技术相比具有以下优点和积极效果I、采用双半导体制冷片进行温度控制,根据不同的外界温度情况,采用制冷片分级控制的方法,对温度的控制更加灵活,既能保证有足够的温控效率,也能达到节电效果。2、増加了温度传感器进行温度反馈,采用闭环PID控制方式,大大提高了温度控制的精确度,为光学检测器件提供理想的工作环境,減少其本身的暗噪声和不稳定性。 3、压盖采用螺纹和O型圈,同时利用航空插头进行电气连接,装拆快速方便,便于操作。附图说明图I是本技术一种在线应用的光学检测器件温控装置的示意图;I.光电检测器件;2.套筒;3.温度传感器;4.半导体制冷片;5.散热片;6.散热风扇;7.压盖;8. O型橡胶圏;9.航空插头;10.底座;11.反应室。具体实施方式參见图1,本技术包括底座10和底座10上的套筒2,所述套筒2内部安装有光学检测器件I和温度传感器3,所述套筒2的一端与反应室11相连接,另一端设有压盖7并进行光密封,所述套筒2上部安装有两片半导体制冷片4,所述半导体制冷片4上装有散热片5,散热片5上装有散热风扇6。安装时,先将光电检测器件I装于套筒2内,利用ー侧的螺栓固定。然后安装温度传感器3。光电检测器件I和温度传感器3的电气接线焊接在航空插头9的内侧接线端上,然后航空插头9再安装在压盖7上,压盖7利用螺纹和O型橡胶圈8与套筒2连接,形成光密封。半导体制冷片4是两片独立的半导体制冷片,表面涂以导热硅脂,制冷面与套筒2贴紧,发热面与散热片5贴紧,利用散热片5和套筒2之间的紧固螺栓紧密的嵌在两者之间。散热风扇6采用螺栓与散热片5连接。套筒2与反应室11利用螺纹进行连接。为了温度的灵活精确控制,半导体制冷片4采用两片独立安装、独立控制的方式。开始工作时,当系统检测到套筒2内初始温度高于25°C时,半导体制冷片4启动两片同时运行,散热片5及散热风扇6将热量带走,套筒2内温度会持续下降,当温度降至5°C时,半导体制冷片4就关掉一片而只留一片进行工作。而5°C为一般光学检测器件I的理想工作温度,温度过低窗ロ容易起雾,过高则有明显提高的暗噪声。温控过程中,半导体制冷片4配合温度传感器3采用PID闭环控制,通过程序控制半导体制冷片4相应的固态继电器的通、断电时间的PWM,进而达到温度的稳定。以上所述,仅是本技术的较佳实施例而已,并非是对本技术作其它形式的限制,任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述掲示的
技术实现思路
加以变更或改型为等同变化的等效实施例。但是凡是未脱离本技术技术方案内容,依据本技术的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型,仍属于本技术技术方案的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在线应用的光学检测器件温控装置,包括底座和底座上的套筒,所述套筒内安装有温度传感器和具有安装光电检测器件的内腔,所述套筒的一端与反应室相连接,另ー端设有压盖并进行光密封,其特征在于所述套筒上部安装有两片半导体制冷片,所述半导体制冷片上装有散热片,散热片上装有散热风扇。2.根据权利要求I所述的ー种在线应用的光学检测器件温控装置,其特征在于两片所述半导体制冷片表面涂以导热硅脂,所述半导体的制冷面与所述套筒贴紧,所述半导体的发热面与所述散热片贴紫。3.根据权利要求I或2所述的ー种在线应用的光学检测器件温控装置,其特征在于所述半导体制冷片和所述温度传感器采用闭环PID控制方式。4.根据权利要求I或2所述的ー种在线应用的光学检测器件温控装置,其特征在于所述半导体制冷片规...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁黎任国兴马然汤永佐程岩褚东志刘岩张颖张颖颖高杨曹煊王洪亮刘东彦范萍萍吕婧赵彬尤小华石小梅王茜孙继昌侯广利
申请(专利权)人:山东省科学院海洋仪器仪表研究所
类型:实用新型
国别省市:

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