PCI卡辅助测试装置制造方法及图纸

一种PCI卡辅助测试装置，包括一电路板及一PCI插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述PCI插槽相连，且所述若干金手指与PCI插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第二端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状或大小的第二测试焊盘，且所述若干第一测试焊盘以及第二测试焊盘对应与PCI插槽内的若干接触点相连。上述PCI卡辅助测试装置可方便的对PCI卡进行信号测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及ー种辅助测试装置，特别涉及ー种PCI (Peripheral ComponentInterconnection,外设部件互连)卡辅助测试装置。
技术介绍
在对PCI网卡进行测试吋，需要在PCI网卡测试点处焊接测试探针。如此将会使得测试信号布满整个PCI网卡，从而导致PCI网卡可能被损坏。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种较为方便的PCI卡辅助测试装置。 ー种PCI卡辅助测试装置，包括一电路板及一 PCI插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述PCI插槽相连，且所述若干金手指与PCI插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第ニ端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状或大小的第二测试焊盘，且所述若干第一测试焊盘以及第ニ测试焊盘对应与PCI插槽内的若干接触点相连。上述PCI卡辅助测试装置通过在电路板上设置若干不同形状、大小或顔色的测试焊盘，不仅可使得测试者方便将测试探头与测试焊盘相连，还可使得测试者在测试不同的信号參数时能及时找到对应的测试点，节省了测试时间且減少了测试错误。附图说明图I为本专利技术PCI卡辅助测试装置的较佳实施方式的示意图。图2为图I中辅助测试装置的使用示意图。主要元件符号说明PCI卡辅助测试装置_电路板10PCI插槽20金手指:100:第一测试焊盘_110_第二测试焊盘.120_第三测试焊盘130主板_50_网卡ι·ο: 如下具体实施方式将结合上述附图进ー步说明本专利技术。具体实施例方式下面结合附图及较佳实施方式对本专利技术作进ー步详细描述请參考图1，本专利技术PCI卡辅助测试装置I的较佳实施方式包括一电路板10及一 PCI插槽20。所述电路板10的第一端设置有若干金手指100，第二端与所述PCI插槽20相连，且所述若干金手指100与PCI插槽20电性连接。所述电路板10上位于第一端和第二端之间还设置有若干第一测试焊盘110、若干第二测试焊盘120以及若干第三测试焊盘130，且该若干测试焊盘对应与PCI插槽20内的接触点相连。请參考图2,使用时,将所述电路板10具有金手指100的一端摘入到一主板50的PCI插槽60上，并将ー网卡80插入PCI插槽20内。此时，所述主板50工作时，所述网卡80可依次通过PCI插槽20、若干金手指100以及PCI插槽60与主板50进行通信。由于测试焊盘对应与PCI插槽20内的接触点相连，当网卡80插入到PCI插槽20内时，所述测试焊盘则分别与网卡80对应的金手指相连。测试者通过将测试探头与测试焊盘相连即可测试网卡80的信号參数。本专利技术中，所述若干第一测试焊盘110、若干第二测试焊盘120以及若干第三测试焊盘130设计为不同的顔色、大小或者形状，比如，第一测试焊盘110设计为方形焊盘，代表 电源信号以及接地信号；第二测试焊盘120设计为三角形焊盘，代表数据信号；第三测试焊盘130则设计为圆形，代表差分信号。如此，测试者即可在测试不同的信号參数时能及时找至IJ对应的测试点，节省了测试时间且减少了测试错误。可以理解的是，本实施方式中PCI插槽20与主板50上的PCI插槽60的结构相同。当然，本专利技术PCI卡辅助测试装置亦可用于测试包括PCI接ロ的显卡、声卡等的信号。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ー种PCI卡辅助测试装置，包括一电路板及一 PCI插槽，所述电路板的第一端设置有若干金手指，第二端与所述PCI插槽相连，且所述若干金手指与PCI插槽电性连接，所述电路板上位于第一端及第ニ端之间还设置有若干第一测试焊盘以及若干与第一测试焊盘具有不同形状、大小或顔色的第二测...

【专利技术属性】
技术研发人员：付晓伟，亢泽坤，陈岩，岳华，王太诚，刘雪红，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：