【技术实现步骤摘要】
本技术涉及ー种光学元件检测仪，尤其是ー种光学元件反射率检测仪。
技术介绍
光谱测量在材料的分析测试和材料的特性研究中有重要应用。就光学加工而言，主要是利用各种光谱測量方法来对各类光学零件进行透过率和反射率的測量。但是，目前能直接測量球面光学元件反射率的仪器很少。球面光学元件由于光能利用率低、较微弱的反射光很难测量，因此亟需一种能够精确检测球面光学元件反射率的检测仪
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供ー种光学元件反射率的检测仪，该检测仪能够准确检测球面光学元件的反射率。为了解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是ー种光学元件反射率检测仪，包括一光源，将所述光源发出的光线变为平行光的第一聚光镜，与第一聚光镜透过光线成45°夹角设置有半透半反镜，该半透半反镜的上方平行设置有一分光镜，该分光镜的上方设置有ー接收分光镜透过光线的电子目镜，所述半透半反镜的下方设置有一将该半透半反镜反射的光线聚焦的物镜，所述物镜下方的焦点处设有一三维样品调节台，其特征在干还包括一将所述分光镜反射光线聚焦的第二聚光镜，接收透过所述第二聚光镜的光信号的光谱仪。进ー步作为优选的实施方式，所述光源为点光源。进ー步作为优选的实施方式，所述分光镜的反射率与透射率之比可调。进ー步作为优选的实施方式，所述分光镜反射率与透射率之比为7 3。本技术的有益效果是本技术光学元件反射率检测仪，通过电子目镜和三维样品调节台的配合可以保证样品球面的垂直成像，通过分光镜与第二聚光镜的作用后，光谱仪将获取待测样品的不同光谱能量，然后根据获取的光谱能量数据与标准片的特定光谱能量数据比较，即可得到待测样品的绝对反射...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.ー种光学兀件反射率检测仪，其特征在于包括一光源(I)，将所述光源(I)发出的光线变为平行光的第一聚光镜(2)，与第一聚光镜(2)透过光线成45°夹角设置有半透半反镜(5)，该半透半反镜(5)的上方平行设置有一分光镜(6)，该分光镜(6)的上方设置有ー接收分光镜(6 )透过光线的电子目镜(7 )，所述半透半反镜(5 )的下方设置有一将该半透半反镜(5)反射的光线聚焦的物镜(4)，所述物镜(4)下方的焦点处设有一三维样品调...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋光均，吴剑峰，郑祥利，
申请(专利权)人：广州标旗电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。